实验1 电子技术实验常用仪器仪表的使用及二极管和三极管测试 实验2 单管放大电路 实验3 运算放大器的基本运算电路 实验4 正弦波振荡电路 实验5 积分与微分电路 实验6 自选频率正弦振荡器和反相放大器耦合的设计与实施

3.1 正弦交流电的基本概念 3.2 正弦量的相量表示法 3.3 单一元件参数电路 3.4 简单的正弦交流电路 3.5 复杂交流电路的分析和计算 3.6 正弦交流电路的功率 3.7 正弦交流电路中的谐振 3.8 非正弦周期电流电路 3.9 三相交流电路

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

机电传动控制系统选择调速方案的依据： 生产机械对调速系统提出的调速技术指标

本节讨论正弦稳态单口网络的瞬时 功率、平均功率(有功功率)、无功功 率、视在功率、复功率和功率因数。 正弦稳态单口网络向可变负载传输最 大功率的问题

3.1晶体管的开关特性 3.2TL集成逻辑门 3.3ECL集成逻辑门与I2L电路 3.4Ms逻辑门 3.5cmos电路

习题 3-5-3 射极偏置电路和 BJT 的输出特性曲线如图题 3.5.3 所示，已知 =60。 （1）分别用估算公式和图解法求 Q 点； （2）求输入电阻 rbe； （3）用小信号模型分析电压增益

实验五误码测试实验 一、实验目的 1.熟悉误码测试仪的使用方法。 2.熟悉误码测试的电路和方法。 3.分析产生误码的原因及减少误码的方法。 二、实验仪器设备 HD8670型移动通信实验箱、误码测试仪等 三、实验内容 1.熟悉误码测试仪的使用方法。 2.熟悉误码测试的电路和方法。 3.分析产生误码的原因及减少误码的方法

设计可控的计数器、寄存器、译码及显示驱动电路。 设计系统顶层电路 进行功能仿真和时序仿真

3.1 结型场效应管 3.2 绝缘栅场效应管 3.3 场效应管的主要参数 3.4 场效应管的特点 3.5 场效应管放大电路