在半导体硅片上集成了微处理器(CPU)，存储器 (RAM、ROM、EPROM)和各种输入、输出接口。 20世纪70年代问世。 已广泛应用在： 工业自动化控制、自动检测、智能仪器仪表、家用 电器、电力电子、机电一体化设备等方面

设计一个单片机测控系统，一般可分为四个步骤： （1）需求分析，方案论证和总体设计阶段 需求分析:被测控参数的形式（电量、非电量、模拟 量、数字量等）、被测控参数的范围、性能指标、 系统功能、工作环境、显示、报警、打印要求等。 方案论证:根据要求，设计出符合现场条件的软硬件 方案，又要使系统简单、经济、可靠，这是进行方 案论证与总体设计一贯坚持的原则

系统的抗干扰性能的好坏是影响系统可靠性的重要因 素。 14.1 干扰的来源 影响单片机测控系统正常工作的信号称为噪声，又称 干扰。 影响指令的正常执行，造成控制事故或控制失灵，在 测量通道中产生了干扰，就会使测量产生误差，电 压的冲击有可能使系统遭到致命的破坏。 干扰一般都是以脉冲的形式进入系统的， 窜入单片机系统的渠道主要有三条：

1-1材料力学的任务及研究对象(The tasks and research objects of mechanics of materials) 1-2变形固体的基本假设(The basic assumptions of deformable body 1-3力、应力、应变和位移的基本概念 ( Basic concepts of force、 stress、 strain and displacement) 1-4杆件变形的基本形式(The basic forms of deformation)

1.1热水供应系统的分类、组成和供水方式 2.1.1分类 (1)集中热水供应工程 (2)区域热水供应系统 3)局部热水供应系统 3.1。2系统组成 (1)热媒系统(第一循环系统) 热源、水加热器、热媒管网、冷凝水泵 锅炉-水加热器冷凝水池-冷凝水循环泵-锅炉 (2)热水供应系统(第二循环系统) 热水配水管网和回水管网、(循环水泵)

回归分析的原理及应用 在分析化学,特别是仪器分析中,常常需要做工作曲线(也叫标准曲线,或 校正曲线,或检量线)。例如,原子吸收法中作吸光度和浓度的工作曲线,极谱法 中作波高和浓度的工作曲线等等。在分析化学中所使用的工作曲线,通常都是直 线。一般是把实验点描在坐标纸上,横坐标X表示被测物质的浓度,叫自变量。 大都是把可以精确测量或严格控制的变量(如标准溶液的浓度)作为自变量;纵 坐标y表示某种特征性质(如吸光度、波高等)的量,称因变量,一般设因变量 是一组相互独立、其误差服从同一正态分布N(O,2)的随机变量。然后根据 坐标纸上的这些散点(实验点)的走向,用直尺描出一条直线。这就是分析工作 者习惯的制作工作曲线的方法

10-1 概述 (Instruction) 10-2 动静法的应用 (The application for method of dynamic equilibrium) 10-3 构件受冲击时的应力和变形（Stress and deformation by impact loading)

概述 固-流非均相体系:结晶过程中的晶浆,浸取过程中的固态天 然产物与溶剂;催化反应过程中的固体催化剂与反应物。 分离过程工业应用:湿法磷酸工艺从产品酸中分离磷石膏、 流化催化石油裂解工艺从裂解气相中分离催化剂微粒等

一、 重积分计算的基本方法 二、重积分计算的基本技巧 三、重积分的应用

一、炎症的概念 炎症（inflamaation）是机体对致炎因素的局部损伤所产生的具有防御意义的应答反应。 二、炎症的原因 1、生物性因素 2、物理性因素 3、化学性因素 4、某些抗原性因素