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一、实验目的 1.熟悉中规模集成电路计数器的功能及应用。 2.进一步熟悉数字逻辑实验箱中的译码显示功能
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一、实验目的 1.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 2.掌握 TTL 集成电路的使用规则。 3.掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
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1、检测装置的干扰来源分类及原因? 2、影响系统工作的干扰形成应具备哪些条件? 3、常见的干扰耦合方式有哪些? 4、根据干扰进入测量电路的方式与有用信号的关系,可将噪声干扰分为哪两类? 5、什么是差模干扰?又称什么?如何消除?
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一、实验目的 l.掌握 CMOS 集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2.学会 CMOS 集成门电路主要参数的测试方法 二、实验原理 1.CMOS 集成电路是将 N 沟道 MOS 晶体管和 P 沟道 MOS 晶体管同时用于一个集成电路中,成为组合二种沟道 MOS 管性能的更优良的集成电路,CMOS 集成电路的
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一、实验目的 l.掌握中规模4位双向移位寄存器74LS194逻辑功能及使用方法。 2.熟悉移位寄存器的应用
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一、实验目的 1.掌握基本RS触发器、JK触发器、D触发器和T触发器的逻辑功能。 2.熟悉各类触发器之间逻辑功能的相互转换方法
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一、实验目的 1.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 2.掌握TTL集成电路的使用规则。 3.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
文档格式:PPT 文档大小:98KB 文档页数:5
一、实验目的 1.掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2.学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法
文档格式:PDF 文档大小:36.19KB 文档页数:4
一、实验目的 1.熟悉中规模集成电路计数器的功能及应用。 2.进一步熟悉数字逻辑实验箱中的译码显示功能
文档格式:PDF 文档大小:140.28KB 文档页数:8
一、实验目的 1.掌握基本 RS 触发器、 JK 触发器、 D 触发器和T 触发器的逻辑功能。 2.熟悉各类触发器之间逻辑功能的相互转换方法
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