§ 1、集成运放的概念与符号 § 2、集成运放的结构、组成及其特点 § 3、集成运放的性能指标 § 4、电流源的作用 § 5、学会读集成运放电路图

12.5.1限幅器 12.5.2电压比较器 12.5.3 迟滞比较器 12.6 信号发生器 12.6.1方波发生器 12.5 集成运放的非线性应用

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

16-1 二端口网络 前面讨论的都是一端口网络：给定电路和输入，求感兴趣的未知量 并可用戴维宁和诺顿等效定理进行等效

6.1 光源 6.2 光电效应和光电器件 6.3 光固态CCD图像传感器 6.4 光纤传感器

发光二极管 发光二极管的结构和工作原理 注入式电致发光器件 PN结烧结在陶瓷或金属底座上透明环氧树脂封装

1、非正弦周期信号：是周期性的，但非正弦的，例如：周期性的 脉冲波 2、谐波分析法：将周期性的非正弦波展开为付里叶级数（正弦波 迭加），计算不同频率正弦波激励下的响应，叠加得结果

• 4.1 存储器的概念、分类和要素 •4.1.1 简介 •4.1.2 半导体存储器的分类 •4.1.3 选择存储器件的考虑因素 • 4.2 随机读写存储器（RAM） •4.2.1 静态RAM •4.2.2 动态RAM •4.2.3 几种新型的RAM 技术及芯片类型 • 4.3 只读存储器（ROM） •4.3.1 掩膜ROM •4.3.2 可擦除可编程的ROM（EPROM） •4.3.3 电可擦可编程ROM(EEROM) • 4.4 CPU与存储器的连接 •4.4.1 CPU与存储器的连接时应注意的问题 •4.4.2 存储器片选信号的产生方式和译码电路 •4.4.3 CPU（8088系列）与存储器的连接 • 4.5 IBM-PC/XT中的存储器，扩展存储器 •4.5.1 存储空间的分配 •4.5.2 ROM子系统 •4.5.3 RAM子系统 4.5.4 寻址范围 •4.5.4 寻址范围 •4.5.5 存储器的管理 •4.5.6 高速缓存器Cache

3.1 正弦交流电的基本概念 3.2 正弦量的相量表示法 3.3 单一元件参数电路 3.4 简单的正弦交流电路 3.5 复杂交流电路的分析和计算 3.6 正弦交流电路的功率 3.7 正弦交流电路中的谐振 3.8 非正弦周期电流电路 3.9 三相交流电路

第一节光敏电阻 第二节光电池 第三节光敏二极管