第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

12.1测试系统及其集成概述 12.2测试系统中的通信技术 12.3测试系统中的标准总线 12.4测试系统中的硬件平台 12.5测试系统中的软件平台 12.6虚拟仪器简介

一、软件测试及其目标 二、软件测试准则 三、测试方法 四、测试阶段的信息流 五、测试阶段

一、测试的目的和策略 二、测试的活动 三、测试的产品 四、测试的方法和度量要求 五、测试用例构造技术

测量的基本知识(包括误差、信号描述、测量装置的基本特性） 传感器技术（包括常用传感器原理） 信号处理技术（包括模拟和数字信号处理方法） 常用参量的测试（包括应力应变、力、振动、温度和流量） 综合试验（包括机械量的动态测量和控制） 第一讲 测试技术绪论 第三章 测试系统的基本特性 第四章 测试系统特性 第二章 测量技术 2.1、测量的基本知识 2.2、静动态试验数据的描述 2.3、测量系统的基本特性 第四章 传感器技术 第四章 常见参量的测试 4.3.1 温度测量的基本概念 4.3.2 热电偶测温 4.3.3 热电阻测温 4.3.4 非接触式测温

 测试用例定义  测试用例设计方法  测试用例描述规范  测试用例管理

一、概述 二、测量误差 三、测试系统的静态特性 四、测试系统的动态特性 五、测试系统实现精确测量的条件 六、测试系统的负载效应

[知识点] 普通话水平测试。 [重点] 普通话水平测试训练、普通话水平测试应试技巧。 [难点] 普通话水平测试训练、普通话水平测试应试技巧

6.1 测试计划的制定 6.2 测试文档 6.3 测试用例文档的设计 6.4 测试总结报告

第一章 复习 第二章 复习 阶段综合测试一（月考） 第三章 复习 阶段综合测试二（期中一） 阶段综合测试三（期中二） 第四章 复习 第五章 复习 阶段综合测试四（月考二） 第六章 复习（一） 第六章 复习（二） 阶段综合测试五（期末一） 阶段综合测试六（期末二）