密度梯度法是测定聚合物密度的方法之一。聚合物的密度是聚合物的重要参 数。聚合物结晶过程中密度变化的测定，可研究结晶度和结晶速率；拉伸、退火可 以改变取向度和结晶度，也可通过密度来进行研究；对许多结晶性聚合物其结晶度 的大小对聚合物的性能、加工条件选择及应用都有很大影响。聚合物的结晶度的测 定方法虽有 X 射线衍射法、红外吸收光谱法、核磁共振法、差热分析、反相色谱等 等，但都要使用复杂的仪器设备

医学成像系统_X射线非胶片成像技术的方法及性能评价

康普顿效应是说明光的粒子性的另 一个重要的实验。 1922-1933年间康普顿（A.H.Compton ）观察X射线通过物质散射时， 发现散射的波长发生变化的 现象

◼ 1 电镜的结构与成象 ◼ 2 电镜中的电子衍射及分析 1）斑点花样（原理、实验方法、指数标定及应用） 2）菊池线花样 （原理、指数标定、应用） 3）会聚书束花样 （原理、实验方法、指数标定及应用） ◼ 3 电镜显微图象解释 1）复形象 2）衍衬象 3）相位象 ◼ 4 扫描电子显微术 ◼ 5 X射线显微分析和俄歇能谱分析

1.前言 2.晶体对称性 3.晶体结构测定方法 4.结构分析应用程序简介

根据激发源的不同,电子能谱又分为: 射线光电子能谱(简称xPS) (X-Ray Photoelectron Spectrometer) 紫外光电子能谱(简称UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇电子能谱(简称AES) (Auger Electron Spectrometer)

1920年,美国物理学家康普顿在观察X射线被物质 散射时,发现散射线中含有波长发生变化了的成分

一、平行铣削 二、放射线加工 三、投影加工 四、 曲面流线

X射线定性相分析，就是将所测得的未知物相的衍 射谱与粉末衍射文件中的已知晶体结构物相的标准 数据相比较 (这可通过计算机自动检索或人工检索 来进行)，运用各种判据以确定所测试样中含哪些物 相，各相的化学式，晶体结构类型，晶胞参数等， 以便进一步利用这些信息

绪论 第一章 光学显微分析 第二章 X-射线衍射分析 第三章 电子显微分析 第四章 综合热分析 第五章 红外光谱分析