第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

置换定理 叠加定理 等效电源定理 最大功率传输定理 特勒根定理 互易定理 对偶原理

7.1概述 7.2CRT显示原理 7.3通用示波器 7.4取样示波器 7.5波形存储及显示技术 7.6示波器的基本测试技术

上一章中的两个改进的加法机清晰地解释了数据路径的概念。在整个电路中， 8位值从一 个部件传到另一个部件。它们是加法器、锁存器、选择器的输入，经过运算或操作又从这些 部件输出。这些数由开关定义，最后由灯泡来表示结果。可以认为电路中的数据路径的宽度 是8位。可是，为什么一定是8位，而不是6位、7位、9位或1 0位呢？

10.1线性系统频率特性测量 10.2网络分析仪

• 反馈 • 电路中的反馈形式 • 类型 • 四种组态的判断方法 7.1.1 基本概念 7.1.2 四种类型的反馈组态 • 各种反馈类型的特点 • 信号源对反馈效果的影响

12.1测试系统及其集成概述 12.2测试系统中的通信技术 12.3测试系统中的标准总线 12.4测试系统中的硬件平台 12.5测试系统中的软件平台 12.6虚拟仪器简介

3.1测量误差的分类和测量结果的表征 3.2测量误差的估计和处理 3.3测量不确定度 3.4测量数据处理

本章阐述测量了学科的丰富内涵。 介绍测量、计量的基本概念,即它们的意义、内容、特点及应用。 讨论测量原理、测量方法和测量系统中的共性问题。 分别从信息获取的广义概念和量值比较的狭义概念上,阐述测量的基本原理;

模拟电子学的研究对象 模拟电子学的研究方法 模拟电子学的应用背景 概述 研究内容的描述 元件的描述 分析方法的一般描述