① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言

第一节 概述 第二节 逻辑代数中的常用运算 第三节 逻辑代数的基本公式和基本运算定律

2.2 半导体二极管和三极管的开关特性 2.2.1 半导体基本知识 2.2.2 PN结的形成及特性 2.2.3 半导体二极管 2.2.4 特殊二极管 2.2.5 半导体三极管——双极型三极管 2.2.6 MOS场效应管 本征半导体与本征激发 MOS管的基本开关电路

实验一基本门电路逻辑功能测试 实验二加法器的设计与应用 实验三译码器和数据选择器的设计及应用 实验四优先编码器的设计(EWB) 实验五触发器的设计及应用 实验六计数器的设计 实验七555定时器

1.4 逻辑代数的基本定理 1.5 逻辑函数及其表示方法 1.6（1.7） 逻辑函数的卡诺图化简法 1.7（1.8） 具有无关项逻辑函数及其化简

10.1 PLD概述 10.2 PLD的基本结构 10.3 PLD的表示方法 10.4 PLD的分类 10.5 可编程逻辑阵列 PLA 10.6 可编程阵列逻辑 PAL 10.7 通用阵列逻辑 GAL

2.1 概述 2.2逻辑代数中的运算 2.3逻辑代数的公式 2.4逻辑代数的基本规则

1.1用真值表证明下列恒等式: (1)B=A⊙B=B1 (2)A(B⊕C)=AB⊕AC (3)(+B)(+C)(B+C)=(a+b)(a+c) 1.2用基本定律和运算规则证明下列恒等式: (1)(A+B+C)(A+B+C)= AB+ AC +BC (2)ABD+ ABD+ABC AD+ ABC (3)A+ABC+ ACD +(C+D)E =A+CD+E (4)AB +AC'+BC= ABC ABC

讨论为什么要使用扫描设计 理解扫描设计的原理 掌握扫描设计的几种基本结构 熟悉DFT Compiler的设计流程 完成一个简单的扫描设计的实例

 噪声定义  共源放大器的噪声  源极跟随器的噪声  共栅放大器的噪声  电流镜的噪声  差分对的噪声  密勒CMOS OTA的噪声  容性噪声匹配  电压/电流检测器的噪声对比