本章前四节所介绍的各种检验法,是在总体分布类型已知的情况下,对其中的未知参数 进行检验,这类统计检验法统称为参数检验.在实际问题中,有时我们并不能确切预知总仁 服从何种分布,这时就需要根据来自总体的样本对总体的分布进行推断,以判断总体服从何 种分布.这类统计检验称为非参数检验.解决这类问题的工具之一是英国统计学家K.皮尔 逊在1900年发表的一篇文章中引进的一x2检验法,不少人把此项工作视为近代统计学 的开端

在前两节中,我们讨论了正态总体的假设检验问题.本节我们讨论一般总体的假设检 验问题,此类问题可借助一些统计量的极限分布近似地进行假设检验,属于大样本统计范 畴.其理论依据是中心极限定理

一、半导体存储器概念： 随着微电子技术的提高,大规模集成电路(LSI)发展很快,近年来集成电路几乎以每年提高一倍的速度向前发展。存储器是电子计算机及数字系统中不可缺少的部分，用来存放二进制代码表示的数据､系统指令､资料及运算程序等。 二、存储器的主要指标 存储容量 和 工作速度

一、数字电子技术的发展与应用 1.电子管时代

第1章传感器与检测技术的理论基础 1.1测量概论 1.2测量数据的估计和处理

一、数制 二､数制转换

一、两类信源：模拟信号、数字信号 二、 模/数变换的三步骤：抽样、量化和编码 三、最常用的模/数变换方法：脉冲编码调制 (PCM)

一、研究有理插值问题的理论背景 二、有理函数插值的基本概念 三、有理插值问题的提出 四、研究的问题

一、Hermite插值问题的提出 二、 三次 Hermite 插值

一、多项式插值的问题 二、分段线性插值 三、分段三次埃尔米特插值 四、小结