一、水准测量的精度 二、同精度观测算数平均值的精度 三、若干独立误差的联合影响 四、平面控制点的点位精度

一、概述 1.测量技术在机械制造业中，对加工完成的零件是否符合设计要求进行判断与确定的一种手段。主要是研究对零件的几何量进行测量和检验的一门技术长度、角度、几何形状、相互位置以及表面粗糙度等

1. 如果某反应器最大压力为 0.6MPa，允许最大绝对误差为±0.02MPa。现用一台测量范围为 0～1.6MPa，准确度为 1.5 级的压力表来进行测量，问能否符合工艺上的误差要求？若采用一台测量范围为 0～1.0MPa，准确度为 1.5 级的压力表，问能符合误差要求吗？试说明其理由

教学目标:了解直线桥墩台定位的主要方法,掌握交会法墩台定位数据计算及 交会方法,理解示误三角形的意义及其指标,掌握纵横轴线测设的方法和要 点,了解桥梁竣工测量的内容和方法

第一节观测误差 第二节测量平差的简史和发展 第三节本课程的任务和内容

实验中要测量各种各样的物理量,其中基本物理量如长度、质量、时间、温度、电阻、电流、电压等的测量最为常见

《互换性与测量技术》课程教学资源（PPT课件讲稿）第二章 几何量测量基础

教学过程是极其复杂的认识过程,一般要从分析教学任务,确定学 生原有学习水平和明确教学目标开始,继而设计教学方法和实施教学活 动,最后对教学的结果进行测量和评估。如果测量的结果表明教学目标 已经达到,则可以认为,一个完整的教学过程已经完成;如果原定的教 学目标未能达到

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

数字化是在20世纪50年代电子计算机出现后才提出的新概念，而数字高程模型(DEM)的概念在1958年就已经提出了。到了今天，数字高程模型作为地球表面地形的数字描述和模拟已成为空间数据基础设施和“数字地球”的重要组成部分。几十年来对数字高程模型的研究方兴未艾、十分活跃。从1972年起，国际摄影测量与遥感学会(ISPRS)一直把DEM作为主题，组织工作组进行国际性合作研究。 第一章 概述 第二章 数字高程模型的数据获取 第三章 数字高程模型表面建模 第四章 数字高程模型精度的数学模型 第五章 数字高程模型生产的质量控制 第六章 数字高程模型的数据组织 第七章 数字高程模型内插 第八章 数字地形分析 第九章 数字高程模型的可视化 第十章 数字离程模型的应用