1.1 什么是过程控制 1.2 过程控制性能要求 1.2.1 时域控制性能指标 1.2.2 积分控制性能指标 1.3 过程控制系统的组成 1.4 过程控制系统的发展概况 1.4.1 过程控制系统体系结构的发展 1.4.2 过程控制检测仪表和执行机构的发展 1.4.3 过程控制策略的发展

7.1 系统组成及分析 7.2 简单控制系统的设计 7.3 简单控制系统的投运与参数整定 7.4 简单控制系统设计案例 7.5 简单控制系统习题解答

1、掌握串级控制系统的分析与设计、投运方法。 2、掌握均匀控制系统的分析与设计方法。 3、掌握比例（比值）控制系统的分析与设计方法。 4、掌握选择性控制系统的分析与设计方法。 5、掌握分程控制系统的分析与设计方法。 6、掌握前馈控制系统的分析与设计方法。 7、了解先进控制的概念及主要的先进控制方法

5.1 频率特性 5.2 典型环节的频率特性 5.3 控制系统的开环频率特性 5.4 稳定判据及稳定裕度 5.5 闭环频域性能指标 5.6 系统开环频率特性三频段的概念

7.1 问题的提出 7.2 系统校正的几种常见古典方法 7.3 PID模型及其控制规律分析 7.4 PID控制器参数的整定方法 7.5 几种改良的PID控制器

实验一是线性定常控制系统的稳定分析；实验二是线性定常控制系统的时域响应分析；实验三是典型系统的时域响应和稳定性分析；实验四是根轨迹的绘制与分析；实验五是BODE图的绘制实验；实验六是PID调节器的设计与分析；实验七是简易工程法整定PID参数；实验八是离散系统的分析实验

3.1 典型输入信号与时域性能指标 3.2 一阶系统的时域分析 3.3 二阶系统的时域分析 3.4 高阶系统的时域分析 3.5 系统模型的时域测定法

6-1 频率特性的概念 6-2 典型环节频率特性的绘制 6-3 系统开环频率特性的绘制 6-4 奈奎斯特稳定判据 6-5 最小相位系统的Bode图的应用 6-6 闭环频率特性

4.1 线性系统稳定性的基本概念 4.2 传递函数表示的系统稳定性判定 4.3线性系统稳态误差的计算 4.4 本章小结

7.1 问题的提出 7.2 系统校正的几种常见古典方法 7.3 系统校正的概念 7-4 超前校正及其参数的确定 7-5 滞后校正及其参数的确定 7-6 校正方法小结 7.7 PID模型及其控制规律分析 7.8几种改良的PID控制器