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上海交通大学：《创新思维与现代设计》教学资源_2012创意生活与需求发现_PPT展示_王子烨

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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准二、SoC测试生成

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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

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 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

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上海交通大学：《创新思维与现代设计》教学资源_2012创意生活与需求发现_PPT展示_薛午阳