《测试与检测技术基础》课程电子教案（PPT教学课件）测试技术（1/28）

教学内容： 1．芯片引脚定义、内部结构 2．I/O口（P0、P1、P2、P3）的结构与功能 3．存储器系统 4．MCS-51外部存储器连接 5．MCS-51外部存储器连接 6．复位电路、运行方式 2.1 内部结构和引脚功能 2.2 输入/输出(I/O)口 2.3 存储器系统 2.4 MCS-51外部存储器的连接 2.5 操作时序 2.6 复位及复位电路 2.7 节电运行状态和掉电运行状态

2.4 析氢腐蚀和吸氧腐蚀 2.4.1 腐蚀电池的电极过程 2.4.2 析氢腐蚀 2.4.3 吸氧腐蚀 2.5 金属的钝化 1.钝化现象 2.金属钝化的特性曲线 3.金属的自钝化 4.钝化理论

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