硬盘软故障完全修复手册一一数据结构篇 硬盘是计算机中极为重要的存储设备,计算机工作所用到的全部文件系统和数据资料的绝大多数都 存储在硬盘中。硬盘是产生计算机软故障最主要的地方,常见的硬盘软故障有:硬盘重要参数及文 件丢失,电脑不能起动:碎片过多,电脑运行速度变慢:硬盘分区后丢失容量等

 第1、2学时：半导体二极管、三极管和MOS管的开关特性  第3、4学时： TTL集成门电路  第5、6学时： CMOS集成门电路

S7-200系列小型PLC( Micro plc)可以应用于各种自动化系统。结构紧凑,低成本以 及功能强大的指令集,使得S7-200控制器是各种小型控制任务理想的解决方案。多种多 样的CPU尺寸及电压范围以及基于 Windows的编程工具,使您更加灵活、方便地解决 自动化任务

一、化工自动化的意义及目的 二、化工自动化的发展概况 三、化工仪表及自动化系统的分类

◼ 位式控制 ◼ 双位控制 ◼ 具有中间区的双位控制 ◼ 多位控制 ◼ 比例控制 ◼ 比例控制规律及其特点 ◼ 比例度及其对控制过程的影响 ◼ 积分控制 ◼ 积分控制规律及其特点 ◼ 比例积分控制规律与积分时间 ◼ 积分时间对系统过渡过程的影响 ◼ 微分控制 ◼ 微分控制规律及其特点 ◼ 实际的微分控制规律及微分时间 ◼ 比例微分控制系统的过渡过程 ◼ 比例积分微分控制

◼ 数学模型及描述方法 ◼ 被控对象数学模型 ◼ 数学模型的主要形式 ◼ 机理建模 ◼ 一阶对象 ◼ 积分对象 ◼ 时滞对象 ◼ 描述对象特性的参数 ◼ 放大系数Κ ◼ 时间常数Τ ◼ 滞后时间τ ◼ 实测建模

◼ 自动控制系统的组成 ◼ 自动控制系统的方块图 ◼ 信号和变量 ◼ 自动控制系统方块图 ◼ 反馈 ◼ 自动控制系统的分类 ◼ 过渡过程和品质指标 ◼ 控制系统的静态与动态 ◼ 控制系统的过渡过程 ◼ 控制系统的控制指标 ◼ 影响控制指标的主要因素

广义地讲，在还原剂的参与下，能使某原子得到电子或电子云密度增加的反应称为还原反应。 狭义地讲，即在有机分子中增加氢或减少氧的反应，或者兼而有之的反应称为还原反应。 分为三类： 1、催化氢化法 2、化学还原法 3、电解还原法 7.1 概述 7.2 催化氢化 7.3 在电解质溶液中的铁屑还原 7.4 锌粉还原 7.5 含硫化合物还原 7.6 金属复氢化合物还原 7.7 其他还原方法

3.1概述 3.2多路开关的工作原理及主要技术指标 3.3多路开关集成芯片 3.4多路开关的电路特性 3.5多路开关的配置 3.6模拟多路开关的应用

12.1 泊松方程的格林函数法 12.2 电像法求格林函数