用扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)对6种微波等离子体CVD金刚石薄膜的表面形态和显微结构进行了研究.结果表明:在金刚石晶粒长大过程中,(111)面方向长大时产生密度很高的微孪晶缺陷,而(100)面方向长大时产生的晶体缺陷较少

一、X射线的性质:波粒二重性,感光作用,荧光作用,电离作用,无折射,衍射现象,穿透能力强 二、X射线的强度:单位时间通过的光子数的多少 三、X射线的发生:真空中极高速度运动的电子碰撞阳极时产生射线 四、X射线谱:特征X射线的波长,激发电压 五、X射线的吸收:当X射线通过物质时,转变成其他形式的能量,只有一小部分穿过

（1)熟练掌握水体各项物理指标: （2)水温、色度、臭和味道、残渣、电 导率、浊度、透明度、矿化度、氧化还原 电位等的检验方法原理、适用情况和注意 事项

1-1矢量分析与场论基础 一、矢量与矢量场 标量与矢量 标量:只有大小,没有方向的物理量(温度,高度等)矢量:既有大小,又有方向的物理量(力,电、磁场强度)矢量的表示方式矢量可表示为:A=Ae其中A为其模值,表征矢量的大小;

1.1可编程序控制器的由来 可编程序控制器( Programmable Controller)简称为PC 可编程序逻辑控制器( Programmable Logic Cntroller) 简称为PLC

1.1 绪 言 一、信号的概念 二、系统的概念 1.2 信号的描述与分类 一、信号的描述 二、信号的分类 1.3 信号的基本运算 一、加法和乘法 二、时间变换 1.4 阶跃函数和冲激函数 一、阶跃函数 二、冲激函数 三、冲激函数的性质 四、序列δ(k)和ε(k) 1.5 系统的性质及分类 一、系统的定义 二、系统的分类及性质 1.6 系统的描述 一、连续系统 二、离散系统 1.7 LTI系统分析方法概 述

理想的半导体材料是没有缺陷或没有杂质,半导体中的载流子只能是激发到导带中的电子和价带中的空穴

17.1集成运算放大器的简单介绍 17.2运算放大器在信号运算方面的应用 17.3运算放大器在信号处理方面的应用 17.4运算放大器在波形产生方面的应用 17.5运算放大器在信号测量方面的应用 17.6集成功率放大器 17.7运算放大电路中的负反馈 17.8使用运算放大器应注意的几个问题

1.全息照相的原理(Principle of holography) 普通摄影(照相,电影,电视)只记录光 的强度,即景象反射的与振幅平方成正比的光 强。所以只记录物体光波的强度(振幅)信息。 全息照相:既记录光波振幅信息,又记 录光波相位信息

分别在空气和N2中高温烧结得到了不同掺杂浓度的Fe3O4:Zn粉末.X射线衍射(XRD)结果表明,空气中烧结使得样品过氧化,生成大量的α-Fe2O3相,而N2环境下烧结可以获得较纯的ZnxFe3-xO4相.Zn2+在反尖晶石结构中A位的替位掺杂,影响到B位Fe阳离子的价态分布,电子输运依然保持了电子变程跳跃的传导机制.磁性测量结果显示低浓度的Zn2+掺杂对Fe阳离子之间的超交换耦合作用产生影响,也使负的磁致电阻的数值有所改善