一阶惯性环节的转折频率：o=1/T R2100K 正弦波(t) 10 B3 B1 OUT1 HI 100K ADIN C() CH2 图1-2-1 惯性环节的频率特性测试电路 图1-2-1电路的增益K=1,惯性时间常数T=0.1,转折频率：o=1/T=0.1rad/s 实验内容及步骤 (1)构造模拟电路：按图1-2-1安置短路套及插孔连线，表如下。 (a)安置短路套 (b)插孔连线 模块号 跨接座号 信号输入 B1(OUT1)→A1(H1) Al S3,S7,S10 2 运放级联 A1(OUT)→A8(H1) 3 测量 A8(OUT)→B3(ADN) 4 示波器联接 B1(OUT1)→B2(CH1) A8(OUT)→B2(CH2) (2)运行、观察、记录： ①选择系统的频域分析/一阶惯性环节频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表， 用户可在‘频率特性扫描点'设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确 认》后，将弹出‘频率特性曲线实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按 序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 ②测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图） 和幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“伯德图”。 ③在频率特性曲线界面上移动各标尺测量出一阶惯性环节的转折频率。 1.2.2二阶闭环系统的频率特性曲线 频率特性测试电路如图1-2-2所示，其中惯性环节(A3单元)的R用元件库A11中可变 电阻取代。 正弦波(t) 200K 2100K B1 OUT1H1 200K 500K C( R-4 c 2 20K OUT HI 200 OUT OUT A11 OUT 可变电阻 图1-2-2 二阶闭环系统频率特性测试电路 图1-2-2二阶闭环系统模拟电路的环节参数：积分环节（A2单元)的积分时间常数 Ti=R1*C1=1秒， 惯性环节（A3单元)的惯性时间常数T=R3*C2=O.1秒，开环增益K=R3R。设开环增益 K=25(R=4K), 1.观测二阶闭环系统的频率特性曲线，测试其谐振频率o,、谐振峰值L(@,)。 2.改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及闭环频率特性曲线，並 计算和测量系统的谐振频率⊙，及谐振峰值L(o,),填入实验报告。 实验内容及步骤 (1)构造模拟电路：按图1-2-2安置短路套及插孔连线，表如下。一阶惯性环节的转折频率：  1/T 图 1-2-1 惯性环节的频率特性测试电路 图 1-2-1 电路的增益 K=1，惯性时间常数 T=0.1，转折频率：  1/T  0.1rad /s 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-2-1 安置短路套及插孔连线，表如下。 （a）安置短路套 （b）插孔连线 （2）运行、观察、记录： ① 选择系统的频域分析／一阶惯性环节频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表， 用户可在„频率特性扫描点‟设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确 认》后，将弹出„频率特性曲线‟实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按 序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 ② 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图） 和幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“伯德图”。 ③ 在频率特性曲线界面上移动各标尺测量出一阶惯性环节的转折频率。 1.2.2 二阶闭环系统的频率特性曲线 频率特性测试电路如图 1-2-2 所示，其中惯性环节（A3 单元）的 R 用元件库 A11 中可变 电阻取代。 图 1-2-2 二阶闭环系统频率特性测试电路 图 1-2-2 二阶闭环系统模拟电路的环节参数：积分环节（A2 单元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=1 秒， 惯性环节（A3 单元）的惯性时间常数 T=R3*C2=0.1 秒，开环增益 K=R3/R。设开环增益 K=25（R=4K）， 1．观测二阶闭环系统的频率特性曲线，测试其谐振频率 r 、谐振峰值 ( ) L r 。 2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及闭环频率特性曲线，並 计算和测量系统的谐振频率 r 及谐振峰值 ( ) L r ，填入实验报告。 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：按图 1-2-2 安置短路套及插孔连线，表如下。 模块号 跨接座号 1 A1 S3，S7，S10 1 信号输入 B1（OUT1）→A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A8（H1） 3 测量 A8（OUT）→ B3（ADIN） 4 示波器联接 B1（OUT1）→B2（CH1） 5 A8（OUT）→B2（CH2）