(a)安置短路套 (b)插孔连线 模块号 跨接座号 信号输入 B1(OUT1)→A1(H1) Al S4,S8 2 运放级联 A1(OUT)→A2(H1) 2 A2 S5,S11,S12 3 运放级联 A3(OUT)→A10(H1) 3 A3 S8,S11 4 跨接元件 元件库A11中可变电阻跨接到 5 (4K) A2(OUT)和A3(N)之间 6 负反馈 A3(OUT)→A1(H2) 测量 A10 (OUT)B3 (ADIN) A1(H1)→B2(CH1) (2)运行、观察、记录： 示波器联接 9 A10(OUT)→B2(CH2) ①选择系统的频域分析/二阶 闭环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在设置表中根据需要填入各 个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出频率特性曲线'实验界面，点击《开 始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 ②测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和 幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“闭环伯德图”。 ③谐振频率or和谐振峰值L(or)的测试： 在闭环对数幅频曲线中，移动L标尺和o标尺到曲线峰值处可读出谐振频率o。、谐振 峰值L(⊙，)。 在闭环对数相频曲线中，移动移动0标尺到。标尺线与曲线相交处，可读出该角频率 的p值。 ④谐振频率or和谐振峰值L(or)自动搜索 点击搜索谐振频率键，将自动搜索并补充搜索过的点，直到搜索到谐振频率，自动停止 搜索，该点测试成功后，在特性曲线上将出现黄色'的点，即谐振频率①，同时在界面右侧 显示出该系统的谐振频率，及该角频率点的L、p、Im、Re。 由于本实验机所用的电容误差较大，因此其实验结果的计算值进行比对有误差。 注：搜索谐振频率时，请确保谐振峰值的两侧各有已测的测试点」 1.2.3二阶开环系统的频率特性曲线 1.被测系统模拟电路图的构成如图1-2-2所示（同二阶闭环系统频率特性测试构成）， 测试其幅值穿越频率0。、相位裕度Y。 2.改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並 计算和测量其幅值穿越频率0。、相位裕度Y,填入实验报告。 实验内容及步骤 (1)构造模拟电路：安置短路套及插孔连线表同第1.2.2节《二阶闭环系统的频率特性 曲线测试》。 (2)运行、观察、记录： ①选择系统的频域分析/二阶开环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表， 用户可在设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出频 率特性曲线实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率 信号，画出频率特性曲线。 ②测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和 幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”和“奈氏图”。 ③幅频穿越频率0。，相位裕度Y的测试 在开环对数幅频曲线中，移动L标尺和o标尺到曲线L()=0处，可读出幅频穿越频（a）安置短路套 （b）插孔连线 （2）运行、观察、记录： ① 选择系统的频域分析／二阶 闭环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在设置表中根据需要填入各 个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出„频率特性曲线‟实验界面，点击《开 始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。 ② 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和 幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“闭环-伯德图”。 ③谐振频率 ωr 和谐振峰值 L(ωr)的测试： 在闭环对数幅频曲线中，移动 L 标尺和  标尺到曲线峰值处可读出谐振频率 r 、谐振 峰值 ( ) L r 。 在闭环对数相频曲线中，移动移动  标尺到  标尺线与曲线相交处，可读出该角频率 的  值。 ④ 谐振频率 ωr 和谐振峰值 L(ωr)自动搜索 点击搜索谐振频率键，将自动搜索并补充搜索过的点，直到搜索到谐振频率，自动停止 搜索，该点测试成功后，在特性曲线上将出现„黄色’的点，即谐振频率 ωr，同时在界面右侧 显示出该系统的谐振频率，及该角频率点的 L、 、Im、Re。 由于本实验机所用的电容误差较大，因此其实验结果的计算值进行比对有误差。 注：搜索谐振频率时，请确保谐振峰值的两侧各有已测的测试点！ 1.2.3 二阶开环系统的频率特性曲线 1．被测系统模拟电路图的构成如图 1-2-2 所示（同二阶闭环系统频率特性测试构成）， 测试其幅值穿越频率 c 、相位裕度  。 2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並 计算和测量其幅值穿越频率 c 、相位裕度  ，填入实验报告。 实验内容及步骤 （1）构造模拟电路：安置短路套及插孔连线表同笫 1.2.2 节《二阶闭环系统的频率特性 曲线测试》。 （2）运行、观察、记录： ① 选择系统的频域分析／二阶开环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表， 用户可在设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出„频 率特性曲线‟实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率 信号，画出频率特性曲线。 ② 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和 幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”和“奈氏图”。 ③ 幅频穿越频率 C ，相位裕度 γ 的测试 在开环对数幅频曲线中，移动 L 标尺和  标尺到曲线 L()  0 处，可读出幅频穿越频 模块号 跨接座号 1 A1 S4，S8 2 A2 S5，S11，S12 3 A3 S8，S11 1 信号输入 B1（OUT1） →A1（H1） 2 运放级联 A1（OUT）→A2（H1） 3 运放级联 A3（OUT）→A10（H1） 4 5 跨接元件 （4K） 元件库 A11 中可变电阻跨接到 A2（OUT）和 A3（IN）之间 6 负反馈 A3（OUT）→A1（H2） 7 测量 A10（OUT）→ B3（ADIN） 8 示波器联接 A1（H1）→B2（CH1） 9 A10（OUT）→B2（CH2）