图6.37四圆衍射仪结构示意图 新一代κ射线二维探测单晶衍射仪主要是应用近年来最新发展的X射线二维探测技 术,包括IP( Image Plate)和CCD( Charge Coupling Device)两类。CCD探测器主要部分 由一磷光膜,一组光纤和一芯片组成。磷光膜和芯片之间由一组分布均匀细密的光纤连 接。当CCD探测器接收到X射线时,X射线光子打在磷光膜上激发产生光子,通过光纤传 至芯片,芯片产生电子,读出电子数目即可测得在CCD该位置上的X射线强度。CO的灵 敏度与1个X光子产生多少电子数有关(其原理如图6.3.8所示)。由于CC制作工艺复 杂,造价高,制造大面积的CD还很困难。现在使用的CCD面积一般为6×6cm2~12 俯视断面示意图 正面断面示意图 图6.3.8CCD探测器示意图 CCD单晶衍射仪的基本配置与传统的四圆衍射仪相近,可采用四圆测角仪 (20,o,￠K)(如 Nouris公司的CCD的衍射仪),或使用三圆测角仪 (20,o,φ,K=5474°),(如 Bruker公司的CCD单晶衍射仪)。其主要区别在于用2维探测 器CCD代替点记录闪烁记数器,大幅度提高测试速度。IP和CCD单晶衍射仪大大地缩短 了单晶结构分析测试的时间,四圆衍射仪平均需5-6天的时间收录一个晶体数据,而IP 和CCD只需几个小时即可完成.使复杂的X射线单晶结构分析成了常规分析手段。 CCD—X射线单晶衍射仪是由德国 Bruker公司于1994年率先推出,而后荷兰的 Nouris和日本的 Regaku公司也相继推出相应的CCDX射线单晶衍射仪. Bruker公司的 CCD现已发展至第三代,其最新产品是APEX系统图 6.3.7 四圆衍射仪结构示意图 新一代 X 射线二维探测单晶衍射仪主要是应用近年来最新发展的 X 射线二维探测技 术，包括 IP(Image Plate) 和 CCD (Charge Coupling Device)两类。CCD 探测器主要部分 由一磷光膜，一组光纤和一芯片组成。磷光膜和芯片之间由一组分布均匀细密的光纤连 接。当 CCD 探测器接收到 X 射线时，X 射线光子打在磷光膜上激发产生光子，通过光纤传 至芯片，芯片产生电子，读出电子数目即可测得在 CCD 该位置上的 X-射线强度。CCD 的灵 敏度与 1 个 X 光子产生多少电子数有关（其原理如图 6.3.8 所示）。由于 CCD 制作工艺复 杂，造价高，制造大面积的 CCD 还很困难。现在使用的 CCD 面积一般为６× 6 cm2  12 × 12 cm2 . 俯视断面示意图 正面断面示意图 图 6.3.8 CCD 探测器 示意图 CCD 单晶 衍射仪 的基本 配置与 传统的 四圆衍 射仪相近 ，可采 用四圆 测角仪 （    ) （ 如 Nouris 公司的 CCD 的衍射仪），或使用三圆测角仪 （    = °）, (如 Bruker 公司的 CCD 单晶衍射仪)。其主要区别在于用 2 维探测 器 CCD 代替点记录闪烁记数器，大幅度提高测试速度。IP 和 CCD 单晶衍射仪大大地缩短 了单晶结构分析测试的时间，四圆衍射仪平均需５－６天的时间收录一个晶体数据，而 IP 和 CCD 只需几个小时即可完成．使复杂的 X 射线单晶结构分析成了常规分析手段。 CCD－X 射线单晶衍射仪是由德国 Bruker 公司于１９９４年率先推出，而后荷兰的 Nouris 和日本的 Regaku 公司也相继推出相应的 CCD X 射线单晶衍射仪．Bruker 公司的 CCD 现已发展至第三代，其最新产品是 APEX 系统