互作用发生的现象来判断其有无和强度，主要有以下几种方法： (1)荧光屏法 当X射线照射到荧光物质上时，荧光物质受激发而发出可见的荧光，由此确定X射线 的有无和强弱，例如把计算器放在荧光屏前，用不同的管高压和管电流来照射，发现：当 管电流一定时（一般取I=1.00mA),高压越大，透射象的强度越强，清晰程度越好；同 样，当高压一定时（一般取U=32KV),电流越大，透射象的强度越强，清晰程度越好. (2)X射线照相法 X射线对照相底片的作用与普通可见光很相似.因此在记录衍射花样时广泛使用照相 底片，例如：把胶片放在胶片架上，用不同的管电流和照射时间来照射，发现：在相同的 时间照射下，管电流越大，即X射线强度越强，胶片越黑；在X射线的强度一样下，照射 时间越长，胶片也越黑.也就是说X射线照射剂量越大，胶片越黑. (3)电离法 X射线光子和高速电子一样，也能引起气体电离，即从气体分子中打出电子，同时产 生一个正离子.电离现象可以作为测量X射线强度的基础. 3.X射线的衰减 X射线穿过物质之后，强度会衰减。这是因为X射线同物质相互作用时经历各种复杂 的物理、化学过程，从而引起各种效应转化了入射线的部分能量。如下图所示： Ro R=Roewx 一X卡 图3X射线的衰减 假设入射线的强度为，通过厚度ⅸ的吸收体后，由于在吸收体内受到“毁灭性” 的相互作用，强度必然会减少，减少量dR显然正比于吸收体的厚度dx,也正比于束流的 强度R,若定义μ为X射线通过单位厚度时被吸收的比率，则有（图3）： -dR=uRdx (1) 考虑边界条件并进行积分，则得： R=Re-Hx (2) -3-- 3 - 互作用发生的现象来判断其有无和强度，主要有以下几种方法： (1) 荧光屏法 当 X 射线照射到荧光物质上时，荧光物质受激发而发出可见的荧光，由此确定 X 射线 的有无和强弱．例如把计算器放在荧光屏前，用不同的管高压和管电流来照射，发现：当 管电流一定时（一般取 I = 1.00 mA），高压越大，透射象的强度越强，清晰程度越好；同 样，当高压一定时（一般取 U = 32 KV），电流越大，透射象的强度越强，清晰程度越好． (2) X 射线照相法 X 射线对照相底片的作用与普通可见光很相似．因此在记录衍射花样时广泛使用照相 底片．例如：把胶片放在胶片架上，用不同的管电流和照射时间来照射，发现：在相同的 时间照射下，管电流越大，即 X 射线强度越强，胶片越黑；在 X 射线的强度一样下，照射 时间越长，胶片也越黑．也就是说 X 射线照射剂量越大，胶片越黑． (3) 电离法 X 射线光子和高速电子一样，也能引起气体电离，即从气体分子中打出电子，同时产 生一个正离子．电离现象可以作为测量 X 射线强度的基础． 3．X 射线的衰减 X 射线穿过物质之后，强度会衰减。这是因为 X 射线同物质相互作用时经历各种复杂 的物理、化学过程，从而引起各种效应转化了入射线的部分能量。如下图所示： 图 3 X 射线的衰减 假设入射线的强度为 R0，通过厚度 dx 的吸收体后 ，由于在吸收体内受到“毁灭性” 的相互作用，强度必然会减少，减少量 dR 显然正比于吸收体的厚度 dx，也正比于束流的 强度 R，若定义 μ 为 X 射线通过单位厚度时被吸收的比率，则有（图 3）： − = dR Rdx μ （1） 考虑边界条件并进行积分，则得： 0 x R Re−μ = （2）