2.4X射线相分析结果 X射线相分析结果见图3。分析结果表明，冷封闭后的硫酸阳极氧化膜基本上仍然是非 晶态物质。甚至长时间冷封闭之后，膜仍保持 非晶态结构。（所有X射线衍射谱中的强度 (a】 大、尖锐的峰，均为基本的衍射蜂。) (b) 3结 论 (e) 从扫描电镜电子能谱和透射电镜电子能谱 70 5s0 30 10 的分析结果得到下面的结论。 2日 (1)在硫酸阳极氧化过程中键合的硫酸根 阴离子，在冷封闭过程中部分被放出，硫含量图315%H2$04中形成的阳极氧化膜的x射线衍射谱 从氧化膜深处至外表面逐渐降低。 (a)未封闭(b)冷封闭50min(c)冷封闭100min Fig.3 X-diffracion of anodic films (2)着色物质锡在孔的深处高达20%，在 in15%H2S04 膜的外表面没有观察到。 (3)冷封闭物质镍，在封闭一开始就吸附于氧化膜表面，逐渐向深处扩散；在冷封闭 8min之后，氧化膜深处镍含量可达9%。 (4)经长时间冷封闭之后，硫酸氧化膜基本上仍然为非晶态物质。 参考分献 1 Kerr I S,Acta Crystal,1956,9:879 2 Ginsberg H,Wefers K.Metals,1963,17:202 3 Wood G C,O'Sullivan J P,Vaszko B J,J,Electrochem,Soc.,1968, 115:618 4 Cavalotti P,Dito A.Opper Vlakcetechnieken,1985,29(8):232 5 Dito A,Tegiacchi F.Plating and Surface Finishing,1985,72(6):72 487冷封闭后 的硫酸 阳极氧化膜基本上仍然是非 树︸、侧 射 线相分析结 果 射线相分析结 果见 图 。 分析结果 表明 ， 晶态物质 。 甚至长时间冷封 闭之后 ， 膜仍保持 非晶态结构 。 所有 射 线 衍 射谱 中的强 度 大 、 尖锐的 峰 ， 均 为基本的衍射峰 。 结 论 一人一 吏 从扫描电镜电子 能谱和透射 电镜 电子 能谱 的分 析结果得 到下面 的结论 。 在硫酸阳极氧化过程 中键合 的硫酸根 阴离子 ， 在冷封闭过程 中部分 被放 出 ， 硫含量 从氧化膜深处至外表面逐渐降低 。 着色物质锡在孔 的深处高达 ， 在 膜的外表面没 有观察到 。 多日 多 图 ， 中形 成 的阳极 氧化膜 的 射 线衍射谱 未 封 闭 冷封 闭 冷 封 闭 。 一 冷封闭物质镍 ， 在封 闭一开始就吸 附于氧 化 膜 表面 ， 逐渐 向深 处 扩散 在 冷 封 闭 之后 ， 氧化膜深处镍含量可达 。 经长时间冷封闭之后 ， 硫酸氧化 膜基本 上仍 然 为非 晶态物质 。 参 考 分 献 ， ， ， 。 ， ， ， ， ， 。 ， ， 。 ， ， ， 五 。 ，