概述 >样品厚度<100nm(原子序数低的样品可以稍厚一些)才适用 于TEM观察。 >在高真空条件下热稳定差（易分解，易挥发，易变性，易变 形)的样品一般不适合TEM观测。 TEM样品制备是一项关键技术，其重要性及工作量一般要占 整个测试工作的一半以上，甚至超过90%。 制样原则：1.不损害样品的微观结构；2.不危害电镜设备； 3.获得尽量大的可观测薄区；4.简单易行。 >对于生物及有机类样品，有专门的一套制样方法。 >准备TEM观测前最重要的是搞清楚样品的几个相关特性：是 否剧毒，是否有磁性，是否稳定，是否有放射性，根据情况 采取措施。概述  样品厚度<100nm（原子序数低的样品可以稍厚一些）才适用 于 TEM 观察。  在高真空条件下热稳定差（易分解，易挥发，易变性，易变 形）的样品一般不适合TEM观测。  TEM样品制备是一项关键技术，其重要性及工作量一般要占 整个测试工作的一半以上，甚至超过90％。  制样原则：1.不损害样品的微观结构；2.不危害电镜设备； 3.获得尽量大的可观测薄区；4.简单易行。  对于生物及有机类样品,有专门的一套制样方法。  准备TEM观测前最重要的是搞清楚样品的几个相关特性：是 否剧毒，是否有磁性，是否稳定，是否有放射性，根据情况 采取措施