VoL23 No.5 罗世永等:SrTiO:3的缺陷化学 ◆411· 表1缺陷反应的平衡常数、各种缺陷的生成自由能和生成焙 Table 1 Equilibrium constants of defect reactions,Gibbs free energies and enthalpies of formation of various defects 方程 平衡常数、缺陷生成能和生成焓 试验方法 (2) K=3×104cm,E3=2.5eV 在富氧气氛下,不同量铜掺杂的陶瓷的电导率啊 (6) KV=Ne(T),Ev.=0.3 meV 未掺杂单晶的电导率,在小于600℃时可能出现单价氧空位a (7) Kt..Nc(T),Ev.=3ev 未摻杂单晶的电导率,在小于4.2K时可能出现单价氧空位a四 (8) KV.=N(T),Ev.=0.leV 估算值,适用于低温高氧气氛中 (9) Kt.=N(T),Ev.=1.4eV 估算值,适用于低温富氧气氛中 (12) E,(0K)=3.17eV,月.=5.66x10-+eVK 未摻杂单晶的电导率 (12) E.(0K)=3.26eV,R.=5.7x10‘eV/K BaoSro*TiO,的电导率 (12) E.(0K)=3.3eV,月.=6x10eVK Fe掺杂单晶,光学研究 Nc(T=4.1×10cm-3(TK) 由Sr1-La,TiO,陶瓷的热势确定回,由单晶BaooSroTiO,的 (13) Nv(T)=3.5×10*cm-J(TK)1 电导率确定,并乘以拟合因子1.4得到的 (16) KR=N(T),E=0.94eV 光电化学研究受主参杂样品,适用于低温富氧条件受主移杂样品 (14) =l.58×10cm.Pa,△H=6.1eV 未掺杂单晶和陶瓷的电导率 (14) K=1.4×10cmPa2,△Ha=5.】8eV计算值an (30) K8.=l.3x10Pa-n.m,△Ho.≈1eV 估算值6 (30) 8-2.4×10Pa-12m3,△Ho≈1.29eV 估算值, n-1/6 浓度由受主杂质含量确定.代入(④)得到电子密 Vo Vo 度为 -1/4 Ka(T)]片 Va 2,1 n= Pol (28) y V [VHHA] P P 'n-1/4 在IⅢI区中,Schootky缺陷产生的空位(反应 (1)或过量TO2产生的空位可以由环境中的氧 Ⅲ 补偿. -20-16 -12 -8 -4 0 O:+V0+2h (29) log (Po/P) 图1未撸杂或受主掺杂STiO,典型的缺陷浓度与氧分 式中V。“为电子空穴P=[h].根据质量作用定律 压的关系.一[n]=2[V6]一[v哈]=[V]+1/2[A',-[A= Vpex (30) 2[V。] 电中性条件可以近似为: Fig.1 Typical concentrations of defects as a function of [A']=2[V6] (31) oxygen partial pressure for undoped and acceptor-doped 得到的电子密度为: SrTiO,(in arbitrary units) n={2Ka(T/[A]}P6 (32) n=(2Ka(T)Pa6 (26) 相应的空穴密度为: 在1区,电子密度与氧分压的关系为-1/6 的指数关系.在Ⅱ区,如果氧空位与氧分压无 p(K()V]+2[A}P% (33) 关,则在晶体中有其他产生氧空位缺陷源,如 Balachandran和Error研究了不同氧分压 TO,过量或晶体含有受主型杂质会发生反应 下多晶STiO的电导率,发现当Po为10-~l0 (24)和(25).即使在未掺杂的Sr/Ti为1.000的单 Pa时,电导率与氧分压为-l/6指数关系;在Po 晶中,在该区中也有足够的受主型杂质控制氧 为10-3~10-°Pa,电导率与氧分压为-1/4指数关 空位浓度.只有在【区和Ⅲ区中氧空位的浓度 系;Po,为10~102Pa,导率与氧分压为1/4指数关 才主要由反应(3)控制.则电中性条件为 系.Choi等w研究单晶BaomSrorTiO,中的电导率 [Vg]≈[V+[A 以及Walters和Grace得到电导率的结果也与 (27) 该分析完全相同.Eror和Smyth研究BaTiO, 式中,为产生Schootky缺陷时产生的空位(反应 的电导率也得到了相似的电导率与氧分压的关 (1)》或过量TO2产生的空位(反应(25)).氧空位 系.H.Yamada等研究在Po,为10-2~l0-'Pa, 一 罗世永等 的缺陷化学 方程 表 缺陷反应 的平衡常数 、 各种缺陷的生成 自由能和 生成 焙 妇 代咖 , 平衡常数 、 缺陷生成能和生成焙 试验方法 棍 一, 在富氧气氛下 , 不同量斓掺杂的陶瓷的电导率’ 心 乃 , , 二 未掺杂单晶的电导率 , 在小于 ℃ 时可能出现单价氧空位 欢 ” 力 , 一 未掺杂单晶的电导率 , 在小于 时可能出现单价氧空位 从 力 , , 估算值 , 适用于低温富氧气氛中 双 力 , , 估算值 , 适用于低温富氧气氛中 , 几 一 ‘ 未掺杂单晶的电导率 ,,‘, 凡 , 几 一 ‘ ,,石 的电导率 ,,幻 凡, , 几 一‘ 服 掺杂单晶 , 光学研究 力 ,‘ 一,刀 ’ 由 一氏肠, 陶瓷的热势确定,,,, 由单晶 勒 ‘ , 的 力 ,‘ 一 ,刀 ’ 电导率确定,,,,,, 并乘以拟合因子,,, 得到的 一竺些 暇 一 力 , 一 ” 光电化学研究受主掺杂样品 , 适用于低温富氧条件受主掺杂样品 暇 ,, 一 , · ,反 , 八付而 未掺杂单晶和陶瓷的电导率,, 犬盆 ‘ ,, 一 · ,口 , 川叽 一 计算值,,昭,, 瞬 ‘, 一 ,口 · ,, 八私 〕 , 二 估算值 ,,, ” 一 ,几 · , , 图 , 二 估算值 ‘,, 一 言 言 一 一 ” ,︵、日。 选 一 勺一︶的。 一 一 一 一 一 了尸 ‘少了、、 ‘、、了了」内丙 山 、、少产 、了、︸月几,︺、 图 未拾杂或受主掺杂 , 典型 的缺陷浓度 与妞分 压 的关 系 】一【」【’」一【犷」二 【劣」 【 , ,一勺 言」 竹 住 ’加飞 代 刁 伽 叮 从 乃 ,门几少 在 区 , 电子密度 与氧分压 的关系为 一 的指数关系 在 区 , 如果氧空 位与氧分压 无 关 , 则在 晶体 中有其他产 生 氧空 位缺陷源 , 如 过 量 或 晶体含 有受 主 型 杂质 会发 生 反 应 和 即使在未掺杂 的 叮为 的单 晶 中 , 在该 区 中也有足 够的受 主型 杂质控制氧 空 位浓度 只 有在 区 和 区 中氧空 位 的浓 度 才 主要 由反应 控制‘ 则 电 中性 条件为 浓度 由受 主 杂质含量确定 代人得到 电子密 度 为 凡 乃 专 ” 一 〔“,号 〔 ,〕 瑕 “ , 在 区 中 , 匆 缺 陷产生 的空 位反 应 或过量 产生 的空位可 以 由环境 中的氧 补偿 如 。, · ‘, 式 中’ 为电子空穴, 【’ 根据质量作用定律 丙条 一 。一 瞬 一 电中性条件可 以 近似为 翎 ,望 扩〕 得到的 电子密度为 二 凡 即马 【口岁 相应 的空 穴密度为 ,二 、 。二 〔。号【。 · 二 〔〕二 〔〕号 ,〕 式 中 , 为产生 公手 缺陷时产生 的空位反 应 或过量 产生 的 空 位 反 应 氧空 位 和 眨 研究 了不 同氧分压 下 多 晶 的 电导率 , 发现 当凡为 一 一 ,, 时 , 电导率与氧分压为 一 指数关系 在凡 为 一 ,一 一 ’。 , 电导 率与氧分压为一 指数关 系 为 护一 少 , 导率与氧分压 为 指 数关 系 等 ‘,,,研究单 晶 山。,,,五。, 中的 电导率 以及 直 和 ‘ 得 到 电导 率的结果也 与 该分析完全相 同 和 ‘川 研究 的电导 率也得到 了相似的 电导 率与氧分压的关 系 物 等 ‘,,,研究在凡为 一 , 一