D0I:10.13374/j.issnl(001053x.2001.05.006 第23卷第5期 北京科技大学学报 VoL23 No.5 2001年10月 Journal of University of Science and Technology Beijing 0ct.2001 SrTiO,的缺陷化学 罗世永张家芸 北京科技大学冶金学院,北京100083 摘要系统分析了有关STiO,的缺陷化学的文献报道,在此基础上给出了未掺杂、受主和施 主掺杂STiO,的缺陷反应方程、平衡常数、各种缺陷的生成自由能和生成焙.由此可以计算和 预测STiO,主要点缺陷的浓度. 关键词钛酸锶;缺陷反应;点缺陷浓度 分类号TG39 SrTio,通过还原或糝杂后可以用作晶界电 方程,式中Ks(T)称为Schottky常数,Es称为 容器材料2)、气敏材料、半导体材料和超导 Schottky能.在较高温度下,正常格点的氧放出 .材料作为一类重要的铁电功能陶瓷材料仰, 2个电子到导带,形成带2个正电荷的氧空位 SrTiO,在微电子技术中具有广泛的应用和开发 06Vg+2e420, (3) 前景.温度,氧分压以及摻杂杂质种类不同,缺 式中,O。为在正常氧格点上的氧原子,V6为二 陷结构不同,材料所具有的性质也不同.因此其 价氧离子空位,e'为导带电子. 缺陷化学得到了广泛的研究s,”.但文献报道内 各缺陷的浓度用“[”表示,假定Oǒ为常数, 容分散,且重复性较差,目前未见有较全面的分 则反应(3)的质量作用定律式为 析报道.立方钙钛矿型碱土钛酸盐,如BaTiO,和 STiO,具有相同类型的缺陷反应,只是缺陷反 swn8=Kom-4学 (4) 应平衡常数不尽相同例.本文根据钙钛矿碱土钛 式中,n=[e门,Po,为氧分压,Kka(T)为形成二价氧 酸盐相关缺陷研究报道,系统分析总结了STiO, 离子空位反应的平衡常数,△H为还原焙.k为 的缺陷化学,给出了在较大温度范围内受主和 波尔兹曼常数 施主摻杂STiO,的缺陷计算方法和所需参数, 低温下氧空位可能得到-一个电子变成单价 可以定量计算和预测经摻杂后主要点缺陷的浓 氧空位Vo. 度和材料的电学性能,为相关材料设计提供科 Vo'+e'+Vo (5) 学的依据 相应的质量作用定律 =K(m-=R.e- Ev. Vo (6) 1 SrTio,中的基本的缺陷反应 可以推断,单价氧空位还可能进一步得到一个 采用KrOger-Vink符号.形成Schottky缺陷 电子变成中性氧空位. 反应 g=K.(m=k恐.eg- (7) 0+SrsVV+"SrO" (1) 氧空位常称为本征施主, 式中,V为Sr离子空位,"SrO"为可以完成空位 在大多数情况下,Sr空位为负二价Sr空位 生成复合可重复生长的位置的SO,如第二相 缺陷,但也可能像氧空位一样,变成单价锶空位 或表面上的SrO等. 和电中性锶空位 [v:JV:]=-km=kcer-别 (2) 2-k.(m=&em-剂 V (⑧) 由于可以忽略钛空位,式(2)常称为Schottky (vig-K.()-Kt.e) Ev V” (9) 收稿日期2001-02-27罗世永男,33岁,博士生 Seuter等周和Eror和Symth等认为,在Ba- *国家自然科学基金资助项目0No.59774023) TO,中存在单价阴离子空位V。和单价阳离子空
第 卷 第 期 年 月 北 京 科 技 大 学 学 报 二口 留 恤 一 。 的缺陷化学 罗世永 张 家芸 北京科技大学冶金学院 , 北京 摘 要 系统分析 了有关 的缺陷化学的文献报道 , 在此基础 上给 出了未掺杂 、 受主 和施 主掺杂 的缺陷反应方程 、 平衡常数 、 各种缺陷的生成 自由能和生成熔 由此可 以计算和 预测 币 主要点缺陷的浓度 关镇词 钦酸惚 缺 陷反应 点缺陷浓度 分类号 , 通 过还 原或掺杂后可 以 用作晶界 电 容器材料’切 、 气敏材料‘ 、 半导体材料‘ 和超导 材料 ‘ 作为一类重要 的铁 电功能陶瓷材料 ‘“ , ,在微电子技术 中具有广泛 的应用 和开 发 前景 温度 , 氧分压 以及掺杂杂质种类不 同 , 缺 陷结构不 同 , 材料所具有的性质也不 同 因此其 缺陷化学得 到 了广泛 的研究 ‘ 但文献报道 内 容分散 , 且重复性较差 , 目前未见有较全面 的分 析报道 立方钙钦矿型碱土钦酸盐 , 如 , 和 ,具有相 同类 型 的缺陷反应 , 只是缺陷反 应平衡常数不尽相 同‘ 本文根据钙铁矿碱土钦 酸盐相关缺陷研究报道 , 系统分析总结 了 仇 的缺陷化学 , 给 出了在较大温度 范 围 内受主 和 施 主掺杂 , 的缺陷计算方法 和所需参数 , 可 以定量计算和预测经掺杂后 主要点缺陷的浓 度和 材料 的 电学性能 , 为相关材料设计提供科 学 的依据 方 程 , 式 中乃称 为 诚勺 常 数 , 称 为 匆 能 在较高温度下 , 正常格点的氧放 出 个 电子 到导带 , 形 成带 个 正 电荷的氧空位 。。’咖 式 中 , 乙为在 正 常氧格点上 的氧原子 , 价氧离子空 位 , ‘为导带 电子 言为二 中的基本的缺陷反应 采 用 汾劝 符号‘ 形成 叭缺陷 反 应 扮呜劳从十言 旧 ” 式 中 , 瓷为 离子空位 , ” ” 为可 以 完成空 位 生成复合可重复生长 的位置 的 心 , 如第二相 或表面上 的 旧 等 〔,〔’,一 ‘”一 “·碱 一 俐 由于可 以忽略钦空位 , 式常称为 叮 各缺陷的浓度用 ‘,’表示 , 假定眺为常数 , 则反应的质量作用定律式 为 〕 、 一 、 ·。卜喇 ‘ 式 中 , 【 , 凡为氧分压 ,瓜 乃为形成二价氧 离子空位反 应 的平衡常数 , 图叽“ 为还原焙 为 波尔兹曼常数 低温下 氧空位可能得到一个 电子变成单价 氧空 位乙,,, 言‘骨巩 相应 的质量作用 定律 「片 , , , ‘ 石儿 、 气头拦 凡 口 , 乃 川 了 一号别 巩 ‘ “ ‘ , 、 ‘ ‘ “ 粉’“钱 可 以推断 , 单价氧空位还 可能进一步得 到一个 电子变成 中性氧空 位 「珑 , ,, , 炭箭 一 。 力一 心 · 喊 一 节 氧空 位常称为本征施 主 在大多数情况下 , 空位 为负二价 空位 缺陷 , 但也可能像氧空位一 样 , 变成单价铭空 位 和 电中性银空 位 凡 乃 川 胃 凡 乃 心 门月当” 尼一认 收稿 日期 刁 罗 世永 男 , 岁 , 博士 生 国家 自然科学基金资助项 目伽 等,,和 和 等‘川认为 , 在 中存在单价 阴离子空 位讥和单价阳离子空 DOI:10.13374/j.issn1001-053x.2001.05.006
410· 北京科技大学学报 2001年第5期 位V,但并没有实验证明存在这些单价空位缺 缺陷浓度项与分压的关系,采用一级近似处理 陷。一般认为只有在低温下达到热力学平衡才 方法,忽略与氧分压无关的离子传导对电导率 会出现单价空位.Moos等o,121认为在550℃时氧 的贡献,电导率σ只与载流子自由电子浓度n和 空位从二价变成单价空位. 电子空穴浓度p有关. 电子缺陷的生成与复合可表示为: o=0+op=enutepup (19) nil台e+h (10) 式中,4和4分别为自由电子和电子空穴的迁移 式中,nil为复合中心(完美晶体),h为电子空穴. 率.Choi等研究了的单晶BaooSroTiO,的电导 得到本征反应的平衡常数K(T)为: 率,得到在950℃下的电子迁移率为0.23cm2. p-K(-Ked- (11) (Vs',空穴迁移率为01cm2(Vs.Moos和 式中,E(T)为STiO,半导体的最高满带同紧邻 Hardtl在研究摻杂不同浓度的Sr-La,TiO,单 空带间的能带间隙.其与温度的关系: 晶在600-1300℃的电子迁移率时,发现迁移率 E,(T)=E(0K)-B.T (12) 与温度关系如下 Choi等研究单晶BaooSro9,TiO,的电导率 μn(T)=4o(T/K)4=[3.95×10cm2.(V·s)](T/K)12 得到的E.(0K)为3.26eV.Error和Symth报道 (20) 了单晶BaTiO,的E(0K)为3.27eV.Balachandran 当温度大于1000℃时可以进一步表示为: a和Chan等报道多晶SrTiO的E,(OK)为 n-nes 3.33eV.可见,这些数据相差不大 614*10cm(V.sg1e2剖2) 为由价带的态密度N(T)和导带的态密度 Fleischer等nm得到500-l000℃受主掺杂的空穴 Nc(T)决定, 迁移率与温度呈指数关系: K=N(T)xNc(T) (13) 4(T)≈[8.9x10cm2.(Vs-'](TK)236 (22) 根据杂质阳离子的电价比其在固溶体中的 经过样品几何因子修正后得到下式: 取代的阳离子的电价高低将杂质离子分成受主 (T)≈[1.1×10cm2.(V.s)](TK)26 (23) 型杂质和施主型杂质. 用D]表示非本征施主,3价阳离子取代S2 2应用实例 位,或5价阳离子取代T"位,其缺陷浓度由初 始组成决定,由于其离子化能很低,在高温下为 2.1未掺杂或受主型掺杂STiO的缺陷结构 离子化状态, 表1为各缺陷反应方程、平衡常数、各种缺 [D]=[D] (14) 陷的生成自由能和生成焓.根据这些常数,可以 用[A]表示非本征受主,3价离子在T艹位, 计算点缺陷浓度和预测SrTiO,的电学性能. 其由摻杂杂质引起或初始组成确定,离子化后 Morin和Oliver认为未掺杂SrTiO,中常含 带负电, 有Fe,Al,Cr等总量为50×106的受主型杂质,液 A台A'+h (15) 相合成时约为10×10.它们占据钙钛矿中的Sr -e- 位后形成的缺陷结构和未掺杂单晶相似.同时 (16) 也可能含有少量施主型杂质,如La.但一般受 离子化受主和中性受主的总量不变, 主型杂质量大于施主型杂质的量.TO过量时, [A]=[A]+[A] (17) 形成阳离子非化学计量化合物而产生缺陷, 由于可以略去氧间隙缺陷,本征受主只能 Ti02T+20%+V"+V8 24) 是阳离子空位. 以A1为例,受主型摻杂缺陷反应如下: 电中性要求可移动和不可移动的缺陷正负 Al,0(-2Ti02)→2A1+306+V6 (25) 电荷相等,电中性条件可以写成 图1为纯SrTiO,或接杂受主型杂质SrTiO +2[V]+[V+[A']=p+2[Va]+[Va]+[D](18) 中缺陷浓度随氧分压变化的示意图.为便于讨 根据热力学条件和掺杂杂质浓度的不同, 论,将图1分成3个区.在I区中,氧分压最低, 采用Brouwer.近似处理方法,在不同氧分压区, 即强还原条件下,式(18)可简化为n=2[V。],代 选择占优势的荷负电或荷正电的缺陷浓度各一 人(2)得到电子密度为: 项,将式(18)构成近似的电中性条件,以求出各
北 京 科 技 大 学 学 报 年 第 期 位心 但并没有实验证明存在这些 单价空 位缺 陷 一般认 为只 有 在低温下 达 到热力 学平衡才 会 出现单价空 位 等 , 认为在 ”℃ 时氧 空 位从 二价变成单价 空 位 电子缺陷的生 成 与复合可 表示 为 劳 坏 ’ 式 中 , 为复合中心完美晶体 ,’ 为电子空穴 得到本征反应 的平衡常数凡乃为 一 、。一 。 一 甥 式 中 , 凡乃为 ,半导 体 的最 高满带 同紧邻 空 带间 的能带间隙 其与温 度的关 系 风约 瓦一几 等 ‘,” 研究单 晶 街 。,,, 的电导 率 得到的乓为 和 ‘川 报道 了单 晶 , 的瓦为 〔“ , 和 等 ‘,,, 报道 多晶 , 的瓦为 可 见 , 这些数据相差不 大 群为 由价带的态密度力和导带的态密度 力决定 , 群 二 乃 约 根据杂质阳离子 的电价 比其在 固溶体 中的 取代的 阳离子 的 电价高低将杂质离子分成受 主 型 杂质 和施 主 型 杂质 用 表示 非本征施主 , 价 阳离子取代 广 位 , 或 价 阳离子取代 位 , 其缺陷浓度 由初 始组成决定 , 由于其离子化能很低 , 在高温下 为 离子化状态 , 仁卜 ’ 〕 用 【表示 非本征受 主 , 价离子在 ’ 位 , 其 由掺杂杂质引起或初始组成确定 , 离子化后 带 负电 , 劳 , , 黔 一 暇 卜翻 ‘ 一 “ 一伙 离子化受 主和 中性受 主 的总量不变 , 〔〕 【 ’ 〕刃 由于 可 以 略去 氧 间隙缺 陷 , 本征受主 只 能 是 阳离子空 位 电中性要求可移 动 和 不 可移动的缺陷正 负 电荷相 等 , 电 中性条件可 以 写成 〔要习〔 ,卜夕【苦乙 ’ 根据热力 学 条件 和 掺杂杂 质浓 度 的不 同 , 采用 近似处理方法 , 在 不 同氧分压 区 , 选择 占优势 的荷负 电或荷正 电的缺陷浓度各一 项 , 将式构成 近似的 电 中性条件 , 以 求 出各 缺陷浓度项 与分压 的关 系 采用一级近似处 理 方法 , 忽略 与氧分压 无关 的 离子传导对 电导率 的 贡献 , 电导 率口只 与载流 子 自由电 子浓度刀 和 电子 空 穴浓 度 有关 二 氏十‘ 二 即汁勺卑今 式 中 ,声 。 和两分别为 自由电子 和 电子空 穴的迁移 率 等 ‘,研究 了的单晶街 ,江 , 的电导 率 , 得 到在 ℃ 下 的 电子 迁 移率 为 , · · 犷 ’, 空 穴迁 移率为 耐 · · 丫 ’ 和 ‘’ 在研究掺杂不 同浓度 的 一叮 单 晶在 一 ℃ 的 电子迁移 率时 , 发现迁 移率 与温度关 系如下 产 。乃 户‘刀 一 性 ‘ · · 一 ’刀 一 ’‘, 当温度大于 ℃ 时可 以 进一步表示 为 , 。。一 ,‘二轰 二 一 · · 一 ’ 等 ”,,得到 一 ℃ 受主掺杂的空 穴 迁移率与温 度呈指数关 系 以乃二 ‘, · · 一 ’刀 一 ,,‘ 经 过样 品几何 因子修正后得 到下 式 阵乃别 〔 ‘ , · · 一 ’刀 一 ,’‘ 应用实例 未掺杂或受主型掺杂 的缺陷结构 表 为各缺 陷反应方程 、 平衡常数 、 各种缺 陷的生成 自由能和生成烙 根据这些常数 , 可 以 计算点 缺陷浓度和 预测 , 的 电学性能 和 护认为未掺杂 , 中常含 有 ,, 等总量 为 ‘ 一 的受主型 杂质 , 液 相 合成时约为 一 它们 占据钙钦矿 中的 位后形成的缺陷结构和 未掺杂单 晶相似 同时 也 可 能含有少量施 主型 杂质 , 如 但一 般受 主型 杂质量大于施 主型 杂质的量 过量时 , 形 成 阳离子非化学计量化合物而 产生 缺陷 , 骨妹扮井言 以 为例 , 受主 型掺杂缺陷反 应如下 一 劳括优 犷 图 为纯 , 或掺杂受主 型 杂质 认 中缺陷浓度 随氧分压变化的示 意 图 为便于 讨 论 , 将 图 分成 个 区 在 区 中 , 氧分压最低 , 即 强 还 原条件下 , 式 可 简化 为 ’〕 , 代 人得 到 电子密 度 为
VoL23 No.5 罗世永等:SrTiO:3的缺陷化学 ◆411· 表1缺陷反应的平衡常数、各种缺陷的生成自由能和生成焙 Table 1 Equilibrium constants of defect reactions,Gibbs free energies and enthalpies of formation of various defects 方程 平衡常数、缺陷生成能和生成焓 试验方法 (2) K=3×104cm,E3=2.5eV 在富氧气氛下,不同量铜掺杂的陶瓷的电导率啊 (6) KV=Ne(T),Ev.=0.3 meV 未掺杂单晶的电导率,在小于600℃时可能出现单价氧空位a (7) Kt..Nc(T),Ev.=3ev 未摻杂单晶的电导率,在小于4.2K时可能出现单价氧空位a四 (8) KV.=N(T),Ev.=0.leV 估算值,适用于低温高氧气氛中 (9) Kt.=N(T),Ev.=1.4eV 估算值,适用于低温富氧气氛中 (12) E,(0K)=3.17eV,月.=5.66x10-+eVK 未摻杂单晶的电导率 (12) E.(0K)=3.26eV,R.=5.7x10‘eV/K BaoSro*TiO,的电导率 (12) E.(0K)=3.3eV,月.=6x10eVK Fe掺杂单晶,光学研究 Nc(T=4.1×10cm-3(TK) 由Sr1-La,TiO,陶瓷的热势确定回,由单晶BaooSroTiO,的 (13) Nv(T)=3.5×10*cm-J(TK)1 电导率确定,并乘以拟合因子1.4得到的 (16) KR=N(T),E=0.94eV 光电化学研究受主参杂样品,适用于低温富氧条件受主移杂样品 (14) =l.58×10cm.Pa,△H=6.1eV 未掺杂单晶和陶瓷的电导率 (14) K=1.4×10cmPa2,△Ha=5.】8eV计算值an (30) K8.=l.3x10Pa-n.m,△Ho.≈1eV 估算值6 (30) 8-2.4×10Pa-12m3,△Ho≈1.29eV 估算值, n-1/6 浓度由受主杂质含量确定.代入(④)得到电子密 Vo Vo 度为 -1/4 Ka(T)]片 Va 2,1 n= Pol (28) y V [VHHA] P P 'n-1/4 在IⅢI区中,Schootky缺陷产生的空位(反应 (1)或过量TO2产生的空位可以由环境中的氧 Ⅲ 补偿. -20-16 -12 -8 -4 0 O:+V0+2h (29) log (Po/P) 图1未撸杂或受主掺杂STiO,典型的缺陷浓度与氧分 式中V。“为电子空穴P=[h].根据质量作用定律 压的关系.一[n]=2[V6]一[v哈]=[V]+1/2[A',-[A= Vpex (30) 2[V。] 电中性条件可以近似为: Fig.1 Typical concentrations of defects as a function of [A']=2[V6] (31) oxygen partial pressure for undoped and acceptor-doped 得到的电子密度为: SrTiO,(in arbitrary units) n={2Ka(T/[A]}P6 (32) n=(2Ka(T)Pa6 (26) 相应的空穴密度为: 在1区,电子密度与氧分压的关系为-1/6 的指数关系.在Ⅱ区,如果氧空位与氧分压无 p(K()V]+2[A}P% (33) 关,则在晶体中有其他产生氧空位缺陷源,如 Balachandran和Error研究了不同氧分压 TO,过量或晶体含有受主型杂质会发生反应 下多晶STiO的电导率,发现当Po为10-~l0 (24)和(25).即使在未掺杂的Sr/Ti为1.000的单 Pa时,电导率与氧分压为-l/6指数关系;在Po 晶中,在该区中也有足够的受主型杂质控制氧 为10-3~10-°Pa,电导率与氧分压为-1/4指数关 空位浓度.只有在【区和Ⅲ区中氧空位的浓度 系;Po,为10~102Pa,导率与氧分压为1/4指数关 才主要由反应(3)控制.则电中性条件为 系.Choi等w研究单晶BaomSrorTiO,中的电导率 [Vg]≈[V+[A 以及Walters和Grace得到电导率的结果也与 (27) 该分析完全相同.Eror和Smyth研究BaTiO, 式中,为产生Schootky缺陷时产生的空位(反应 的电导率也得到了相似的电导率与氧分压的关 (1)》或过量TO2产生的空位(反应(25)).氧空位 系.H.Yamada等研究在Po,为10-2~l0-'Pa
一 罗世永等 的缺陷化学 方程 表 缺陷反应 的平衡常数 、 各种缺陷的生成 自由能和 生成 焙 妇 代咖 , 平衡常数 、 缺陷生成能和生成焙 试验方法 棍 一, 在富氧气氛下 , 不同量斓掺杂的陶瓷的电导率’ 心 乃 , , 二 未掺杂单晶的电导率 , 在小于 ℃ 时可能出现单价氧空位 欢 ” 力 , 一 未掺杂单晶的电导率 , 在小于 时可能出现单价氧空位 从 力 , , 估算值 , 适用于低温富氧气氛中 双 力 , , 估算值 , 适用于低温富氧气氛中 , 几 一 ‘ 未掺杂单晶的电导率 ,,‘, 凡 , 几 一 ‘ ,,石 的电导率 ,,幻 凡, , 几 一‘ 服 掺杂单晶 , 光学研究 力 ,‘ 一,刀 ’ 由 一氏肠, 陶瓷的热势确定,,,, 由单晶 勒 ‘ , 的 力 ,‘ 一 ,刀 ’ 电导率确定,,,,,, 并乘以拟合因子,,, 得到的 一竺些 暇 一 力 , 一 ” 光电化学研究受主掺杂样品 , 适用于低温富氧条件受主掺杂样品 暇 ,, 一 , · ,反 , 八付而 未掺杂单晶和陶瓷的电导率,, 犬盆 ‘ ,, 一 · ,口 , 川叽 一 计算值,,昭,, 瞬 ‘, 一 ,口 · ,, 八私 〕 , 二 估算值 ,,, ” 一 ,几 · , , 图 , 二 估算值 ‘,, 一 言 言 一 一 ” ,︵、日。 选 一 勺一︶的。 一 一 一 一 一 了尸 ‘少了、、 ‘、、了了」内丙 山 、、少产 、了、︸月几,︺、 图 未拾杂或受主掺杂 , 典型 的缺陷浓度 与妞分 压 的关 系 】一【」【’」一【犷」二 【劣」 【 , ,一勺 言」 竹 住 ’加飞 代 刁 伽 叮 从 乃 ,门几少 在 区 , 电子密度 与氧分压 的关系为 一 的指数关系 在 区 , 如果氧空 位与氧分压 无 关 , 则在 晶体 中有其他产 生 氧空 位缺陷源 , 如 过 量 或 晶体含 有受 主 型 杂质 会发 生 反 应 和 即使在未掺杂 的 叮为 的单 晶 中 , 在该 区 中也有足 够的受 主型 杂质控制氧 空 位浓度 只 有在 区 和 区 中氧空 位 的浓 度 才 主要 由反应 控制‘ 则 电 中性 条件为 浓度 由受 主 杂质含量确定 代人得到 电子密 度 为 凡 乃 专 ” 一 〔“,号 〔 ,〕 瑕 “ , 在 区 中 , 匆 缺 陷产生 的空 位反 应 或过量 产生 的空位可 以 由环境 中的氧 补偿 如 。, · ‘, 式 中’ 为电子空穴, 【’ 根据质量作用定律 丙条 一 。一 瞬 一 电中性条件可 以 近似为 翎 ,望 扩〕 得到的 电子密度为 二 凡 即马 【口岁 相应 的空 穴密度为 ,二 、 。二 〔。号【。 · 二 〔〕二 〔〕号 ,〕 式 中 , 为产生 公手 缺陷时产生 的空位反 应 或过量 产生 的 空 位 反 应 氧空 位 和 眨 研究 了不 同氧分压 下 多 晶 的 电导率 , 发现 当凡为 一 一 ,, 时 , 电导率与氧分压为 一 指数关系 在凡 为 一 ,一 一 ’。 , 电导 率与氧分压为一 指数关 系 为 护一 少 , 导率与氧分压 为 指 数关 系 等 ‘,,,研究单 晶 山。,,,五。, 中的 电导率 以及 直 和 ‘ 得 到 电导 率的结果也 与 该分析完全相 同 和 ‘川 研究 的电导 率也得到 了相似的 电导 率与氧分压的关 系 物 等 ‘,,,研究在凡为 一 , 一
·412· 北京科技大学 学报 2001年第5期 1200~1400℃下退火后冷却到室温的样品中的 n-1/6 主要点缺陷为氧空位和导带电子. Vo 2.2施主型排杂SrT1O,的缺陷结构 V6-4( 典型的施主型掺杂杂质是La,Th占据Sr位, w /)o1 V1 或Nb,W占据T位.产生带正电的杂质的缺陷 Va 中心,电中性补偿的缺陷必须带负电,如阳离子 p 空位、间隙阴离子、受主杂质离子或自由电子. I Ⅲ 究竟产生何种补偿缺陷,取决于SrTi比.SrTi -20 -16 -12 -8 -4 0 比代表着12个Sr格点位置和6个Ti格点位置 log (P/P) 占据的总数.考虑到STiO,中掺施主型杂质后, 图2施主棉杂STiO,典型的缺陷浓度(C)与氯分压的 钙钛矿结构中不可能产生间隙氧离子,可能发 关系,P=1.013×10Pa.-n=2V6,一[n]=[D,0- 生如下缺陷反应: [D]=2V] Sr/Ti=1时 Fig.2 Typical concentrations of defects as a function of 2La0,+4Ti02→4Las+4Ti+1206+02+4e'(34) oxygen partial pressure for donor-doped SrTiO,(in arbit- rary units),P=1.013x10'Pa 4Sr0+2Nb20,→4sr+4Nb+12O8+O2+4e'(35) Sr/Ti>1时 [V"]正比于P.在Ⅲ区,当掺杂量较大并在氧 2La20,+3Ti02→4Lag+3Ti+V"+1208 (36) 分压接近10Pa下达到缺陷平衡后,得到的 5Sr0+2Nb2O,5Srs+4Nbi+Vi+150 (37) STiO,颜色较谈,是绝缘体.这表明体系中未放 Sr/Ti1的情 况,反应(36)和(37)可以忽略.如果制备了Sr/ (V:Vi)+2e+O.+O.+Vg (42) Ti>1的样品,将析出富SrO相,达到Sr/Tis1. 反应达到平衡时 热重分析表明,在氧分压较低时,BaTiO,精确按 [V" (43) 照类似反应(34)和(35)失去氧.应该注意的是 Vvam-K(T)P必 组成一定,缺陷浓度[(VVo】一定,锶空位浓 Chan等在研究掾杂量较大的施主掺杂BaTiO, 度将随氧压升高而按1/2的指数关系升高,电子 时,发现了V"的存在 密度将与P成反比 一般认为,在STiO,中掺杂少量(<0.5%摩 以上缺陷分析结果与Chan等bou研究Ba 尔分数)的施主型杂质,无论它占据Sr位或Ti TiO,的缺陷和电导率,Odekirk等研究掺La的 位,氧分压如何,其晶体都是黑色并具有半导体 SrTiO,多晶陶瓷的电导率,Eror等研究掺La 性质.在这种条件下,缺陷反应应该为(34)和 的SrTiO,的电价补偿得到的结果一致. (35).图2为施主型掺杂STiO,的缺陷浓度随氧 分压变化的示意图,分3个区.在I区,氧分压 3结论 很小,氧空位为主要离子缺陷,其电荷由导带中 的自由电子平衡,其它缺陷都可忽略.电中性条 系统总结了STiO,的缺陷化学的文献报道, 件可以表示为n≈[V。],代入(4)得到电子密度同 得到了未糝杂、受主和施主掺杂STO,的缺陷 (26).电子密度与氧分压间为-16的指数关系. 反应方程及反应的平衡常数、各种缺陷的生成 在Ⅱ区,施主掺杂的样品与环境中氧达到平衡 自由能和生成焙.根据这些方程和数据以计算 的速度远小于受主掺杂的样品.相对于非本征 和预测SrTiO,主要点缺陷的浓度. 施主浓度,氧空位浓度变小,电中性条件为 参考文献 n≈[D] (40) 1 Fujimoto M,Chiang Y M,Roshko A,et al.Microstructure 由于非本征施主浓度由初始组成决定,故其电 and Electrical Properties of Sodium-diffused and Potass- 导率在该区中与氧分压无关.将上式代入(4)得, ium Diffused SrTiO,Barrier-layer Capacitors Exhibiting Varistor Behavior.J Am Ceram Soc,1985,68 (11):c-300
一 北 京 科 技 大 学 学 报 年 第 期 ℃ 下 退 火后 冷却到室 温 的样 品 中的 主要点缺陷为氧空位 和导带电子 施主型掺杂 的缺陷结构 典型 的施主型掺杂杂质是 , 占据 位 , 或 , 占据 位 产生带正 电的杂质 的缺陷 中心 , 电中性补偿的缺陷必须带负电 , 如阳离子 空 位 、 间 隙阴离子 、 受 主杂质离子或 自由电子 究竟产生何种补偿缺陷 , 取决于 汀比 门 比代表着 个 格点位置和 个 格点位置 占据 的总数 考虑 到 , 中掺施主 型 杂质后 , 钙钦矿结构 中不可能产生间隙氧离子,可能发 生 如下 缺陷反应 时 氏 一珑汁许 。 卜 ’ 一‘汁斌汁氏妇 汀 时 灸 一鑫认碑 , 乙 到〕玩,一 蛇斌 磷 ‘ 乙 时 灸 一玉子认 乙 旧玩一 嵘要饼 乙 由于 ’ ,有效 电荷太高 , 所 以 叮 的情 况 , 反应 和 可 以 忽略 如果制备 了 的样 品 , 将析 出富 相 , 达到叮污 ‘叹 热重分析表明 , 在氧分压较低时 , 精确按 照 类似反 应和失去 氧户 应该注 意 的是 圈等在研究掺杂量较大 的施 主掺杂, 时 , 发现 了碑 的存在 一般认 为 , 在 , 中掺杂少量 摩 尔分数的施主 型 杂质 , 无论它 占据 位或 位 , 氧分压如何 , 其晶体都是黑色并具有半导体 性质 在这种条件下 , 缺陷反 应应该为 和 图 为施 主型 掺杂 , 的缺陷浓度 随氧 分压变化 的示 意图 , 分 个 区 在 区 , 氧分压 很小 , 氧空 位为主要离子缺陷 , 其电荷 由导带 中 的 自由电子平衡 , 其它缺陷都可 忽略 电中性条 件可 以 表示 为 二 〔’ , 代人得 到 电子密度 同 电子密度与氧分压间为 一 的指数关系 在 区 , 施主掺杂 的样 品与环境 中氧达到平衡 的速度远小 于 受主掺杂的样 品 相对于非本征 施 主浓度 , 氧空 位浓度 变小 , 电 中性条件为 二 ’ 」 由于非本征施主浓度 由初始组成决定 , 故其 电 导率在该 区 中与氧分压无关 将上式代人 得 , 一 苔 一 艺 必 ,勺︵、汤县一。 · 一 一 一 一 一 只 、尸 圈 施主诊杂 , 典型的缺陷浓度《口与叙分压 的 关 系 , 尸 护 入 】一刁【犷 , 一」 ’ , 一 【 ’ 〔卖〕 竹扮如 公沁 往 ,运 · , 尸 【’ ,〕正 比于蹭 在 区 , 当掺杂量较大并在 氧 分压接 近 , 下 达 到缺 陷平衡后 , 得 到 的 ,颜色较淡 , 是绝缘体 这表 明体系中未放 出氧 , 此时缺陷反应为和 电中性条件为 ’ 二 〕 在体系中形成阳离子缺位非化学计量化合物 , 见反 应 申 。 反应达 到平衡时 「之 , , , 一 。 ,。 万揣泞渝而 二 凡乃月厂 止犷〕 “ ,、 严 认 、’“ , 组成一定 , 缺陷浓度 【裂。 〕一定 ””, 铭空位浓 度将随氧压升高而按 的指数关系升高 , 电子 密度将与尸岔成反 比 以 上缺陷分析结果 与 等 ‘‘,研究 的缺陷和 电导率 , 等研究掺 的 , 多 晶陶瓷 的电导率 , 等 ‘ 研究掺 的 , 的电价补偿得到的结果一致 结论 系统总结 了 ,的缺陷化学 的文献报道 , 得到 了未掺杂 、 受主 和施 主掺杂 认 的缺陷 反应方程及反 应 的平衡常数 、 各种缺陷的生成 自由能和生成焙 根据这些方程和数据 以 计算 和预测 主要 点缺陷的浓 度 , 参 考 文 献 加 。 , , , 扭”奴叮 助川 乃 硒劝场山枉 , 也云 户妈 刘巨 泣 盯 , , 一
Vol.23 No.5 罗世永等:SrTiO3的缺陷化学 ·413· 2 Waser R,Baiatu T,Hardtl K.DC Electrical Degradation of ceptor-doped,Monocrystalline SrTiO,.J Am Ceram Soc, Perovskite-type Titanate:I,Ceramics.J Am Ceram Soc, 1992,75(6⑤:1666 1990,73(6:1645 18 Choi G M,Tuller H L,Goldschmidt D.Electronic-trans- 3 Kiessling U,Claus J,Borchardt G.Oxygen Tracer Dif- port Behavior in Single-crystaltine BaSro TiO,.Phys fusion in Lanthanum-doped Single-crystal Strontium Tit- Rev,1986,B34(10:6972 anate.J Am Ceram Soc,1994,77(8):2188 19 Waser R,Bieger,Maier.Determination of Acceptor Con- 4 Bieger T,Maier J.Optical Investigation of Oxygen Incor- centration and Energy Levels in Oxides using an Opto- poration in SrTiO,.Solid State lonics,1992,53-56:578 electrochemical Technique.Solid State Commun,1990, 5 Vollmann M,Hagenbeck Waser.Grain-boundary Defect 76(8):1077 Chemistry of Acceptor-doped Tatanate:Inversion Layer 20 Baiatu T,Waser R.DC Electrical Degradation of Perovsk- and Low-field Conduction.J Am Ceram Soc,1997,80(9): ite-type Titanate:III,A Model of the Mechanism.J Am 2301 Ceram Soc,.1990,73(6):1663 6 Koonce C S,Cohen ML,Schooley J E,et al.Supercon- 21 Goldschmidt D,Tuller H L.Fundamental Absorption ducting Transition Temperature of Semiconducting Edge of SrTiO,at High Temperature.Phys Rev,1987, SrTi02.Phys Rev,1967,163(2):380 B35,4360 7 Yamada H,Miller G R.Point Defects in Reduced Stron- 22 Morin F J,Oliver JR.Energy Levels of Iron and Alumin- tium Titanate.J Solid State Chem,1978,6:169 um in SrTiO,.Phys Rev,1973,B8(12):5847 8 Seuter A H.Philips Res Reports.1974,Suppl 3.1 23 Balachandran U,Error N G.Electrical Conductivity in 9 Kroger F A,Vink H J.Relations between the Concentra- Strontium Titanate.J Solid State Chem,1981,39:351 tions of Imperfections in Crystalline Solids.In:Seitz F, 24 Walters L C,Grace R E.Formation of Point Defects in Turnbull D,eds.Solid State Physics,Vol.3.New York: Strontium Titanate.J Phys Chem Solids,1967,28:239 Academic Press,1956.307 25 Yamada H,Miller G R.Point Defects in Strontium Tita- 10 Moos R,Menesklou W,Hardtl K H.Hall Mobility of Un- nate.J Solid State Chem,1973,6:169 doped N-type Conducting Strontium Tiatanate Single 26 Error N G,Smyth D M.Oxygen Stoichiometry of Donor- Crystals between 19 K and 1373 K.Appl Phys A,1995, doped BaTiO,and TiO:[D].In:Eyring L,ed.The Chem- 61:389 istry of Extended Defects in Non-Metallic Solids.Amster- 11 Error N G,Smyth D M.Nonstoichiometric Disorder in dam:North-Holland,1970 Single-crystalline BaTiO,at Elevated Temperature.J So- 27 Chan NH,Harmer MP,Smyth D M.Electron Microscopy lid State Chem,1978,24:235 of Nb-doped BaTiO,J Am Ceram Soc,1986,69(6):507 12 Moos R,Gnudi A,Hardtl K H.Thermopower of 28 Error NG,Balachandran U.Self-compensation in Lantha- Sr-La,TiO;ceramics,J Appl Phys,1995,78(8):5042 num-doped Strontium Titanate.Solid State Chem,1981, 13 Choi G M,Tuller H L.Defect Structure and Electric Pro- 40:851 perties of Single-crystalline BaooSro TiO,.J Am Ceram 29 Chan N H,Smyth D M.Defect Chemistry of BaTiO,.J Soc,1988,71(4):201 Electrochem Soc,1976,123 (10):1584 14 Bakachandran U,Error N G.Electrical Conductivity in 30 Chan N H,Smyth D M.Defect Chemistry of Donor-doped Strontium Titanate.J Solid State Chem,1981,39:351 BaTiO,.J Am Ceram Soc,1984,67 (4):285 15 Chan NH,Sharma R K,Smyth DM.Nonstoichiometry in 31 Chan N H,Smyth D M.Defect Chemistry of BaTiO,.J SrTiO,.J Electrochem Soc,1981,128(8):1762 Electrochem Soc,1981,123 (10):1584 16 Moos R,Hardtl K.Defect Chemistry of Donor-doped and 32 Odekirk B,Balachandran U,Error N G,et al.Conductiv- Uundoped Strontium Tianate Ceramics between 1000C ity of Strongly Reduced and Quenched Ceramic La-Do- and 1400C.J Am Ceram Soc,1997,80 (10):2549 ped SrTiO,.J Am Ceram Soc,1983,66(2):c-22 17 Fleischer M,Meixner H,Tragut C.Hole Mobility in Ac- Defect Chemistry of Stronitum Titanate LUO Shiyong,ZHANG Jiayun Metallurgy School,UST Beijing,Beijing 100083,China ABSTRACT Equilibrium constants of defect reactions,Gibbs free energies and formation enthalpies of de- fects in undoped,acceptor-doped and donor-doped SrTiO,are presented on the bases of analysis of defect chemistry and corresponding reports.Thus,the concentration of point defects of the SrTiO,can be calculated and predicted. KEY WORDS stronitum titanate;defect reactions;concentration of point defects
一 罗世永等 的缺陷化学 研 , 决脚 一 吐 , 旧 别 , , 儿 , , 几 一 的 , , , 御 , , · , 砧 ’ 一 娜 曲 加叮 朋 一 , , , , , 坎 币 , , 山 , 称 切 , , , 沙 , 叭 叙 沁 到免 , , , , 民 , 田 七。切 勿 , , , 一 , 介 , , 民 , 卜 ,氏、 , , , , 和 丘沈 讲 】一 , , , , 石妞 , , 氏 , 酬 卜 , , , 匀 刁 加帅 晓 ℃ , , , 认刀 , 一氏 卜 , , , , 一 一 叮 。,卜 勿 , , 出 民 , 习 , , , 白 凡 一 切叮 , , , , , , , , , 、 , , 胡 , 下 , , 匕 , 出 , , 、乞 , 比 , , , 勺 , , 匀 一 一 , , , 一叮 , , , 一 , , , , , 勺 一 旧 , , , 灿 盯 , , , , , 够 一 · , , , 一 翻 卿 诊 犯 , , 加口 , , , 铆 明℃详 七 , , 助 住比以 打