高速PCB设计指南 级测试费用的增加系数是10倍。通过测试友好的电路设计,可以及早发现故障,从而使测 试友好的电路设计所费的钱迅速地得到补偿。 3、丈件资料怎样影响可测试性 只有充分利用元件开发中完整的数据资料,才有可能编制出能全面发现故障的测试程 序。在许多情况下,开发部门和测试部门之间的密切合作是必要的。文件资料对测试工程师 了解元件功能,制定测试战略,有无可争议的影响 为了绕开缺乏文件和不甚了解元件功能所产生的问题,测试系统制造商可以依靠软件工 具,这些工具按照随机原则自动产生测试模式,或者依靠非矢量相比,非矢量方法只能算作 种权宜的解决办法。 测试前的完整的文件资料包括零件表,电路设计图数据(主要是CAD数据)以及有关务 元件功能的详细资料(如数据表)。只有掌握了所有信息,才可能编制测试矢量,定义元件 失效样式或进行一定的预调整 某些机械方面的数据也是重要的,例如那些为了检查组件的焊接是否良好及定位是否所 需要的数据。最后,对于可编程的元件,如快闪存储器,PLD、FPGA等,如果不是在最后安 装时才编程,是在测试系统上就应编好程序的话,也必须知道各自的编程数据。快闪元件的 编程数据应完整无缺。如快闪芯片含16Mbit的数据,就应该可以用到16Mbit,这样可以防 止误解和避免地址冲突。例如,如果用一个4Mbit存储器向一个元件仅仅提供300Kbit数据, 就可能出现这种情况。当然数据应准备成流行的标准格式,如 Intel公司的Hex或 Motorola 公司的S记录结构等。大多数测试系统,只要能够对快闪或ISP元件进行编程,是可以解读 这些格式的。前面所提到的许多信息,其中许多也是元件制造所必须的。当然,在可制造性 和可测试性之间应明确区别,因为这是完全不同的概念,从而构成不同的前提 4、良好的可测性的机械接触条件 如果不考虑机械方面的基本规则,即使在电气方面具有非常良好的可测试性的电路,也 可能难以测试。许多因素会限制电气的可测试性。如果测试点不够或太小,探针床适配器就 难以接触到电路的每个节点。如果测试点位置误差和尺寸误差太大,就会产生测试重复性不 好的问题。在使用探针床配器时,应留意一系列有关套牢孔与测试点的大小和定位的建议。 5、最生可测减性的电气前提条件 电气前提条件对良好的可测试性,和机械接触条件一样重要,两者缺一不可。一个门电 路不能进行测试,原因可能是无法通过测试点接触到启动输入端,也可能是启动输入端处在 封装壳内,外部无法接触,在原则上这两情况同样都是不好的,都使测试无法进行。在设计 电路时应该注意,凡是要用在线测试法检测的元件,都应该具备某种机理,使各个元件能够 在电气上绝缘起来。这种机理可以借助于禁止输入端来实现,它可以将元件的输岀端控制在 静态的高欧姆状态。 虽然几乎所有的测试系统都能够逆驱动( Backdriving)方式将某一节点的状态带到任意 状态,但是所涉及的节点最好还是要备有禁止输入端,首先将此节点带到高欧姆状态,然后 再“平缓地”加上相应的电平。 同样,节拍发生器总是通过启动引线,门电路或插接电桥从振荡器后面直接断开。启 动输入端决不可直接与电路相连,而是通过100欧姆的电阻与电路连接。每个元件应有自己 的启动,复位或控制引线脚。必须避免许多元件的启动输入端共用一个电阻与电路相连。这 条规则对于ASIC元件也适用,这些元件也应有一个引线脚,通过它,可将输出端带到高欧 姆状态。如果元件在接通工作电压时可实行复位,这对于由测试器来引发复位也是非常有帮高速 PCB 设计指南 - 2 - 级测试费用的增加系数是 10 倍。通过测试友好的电路设计，可以及早发现故障，从而使测 试友好的电路设计所费的钱迅速地得到补偿。 3、文件资料怎样影响可测试性 只有充分利用元件开发中完整的数据资料，才有可能编制出能全面发现故障的测试程 序。在许多情况下，开发部门和测试部门之间的密切合作是必要的。文件资料对测试工程师 了解元件功能，制定测试战略，有无可争议的影响。 为了绕开缺乏文件和不甚了解元件功能所产生的问题，测试系统制造商可以依靠软件工 具，这些工具按照随机原则自动产生测试模式，或者依靠非矢量相比，非矢量方法只能算作 一种权宜的解决办法。 测试前的完整的文件资料包括零件表，电路设计图数据（主要是 CAD 数据）以及有关务 元件功能的详细资料（如数据表）。只有掌握了所有信息，才可能编制测试矢量，定义元件 失效样式或进行一定的预调整。 某些机械方面的数据也是重要的，例如那些为了检查组件的焊接是否良好及定位是否所 需要的数据。最后，对于可编程的元件，如快闪存储器，PLD、FPGA 等，如果不是在最后安 装时才编程，是在测试系统上就应编好程序的话，也必须知道各自的编程数据。快闪元件的 编程数据应完整无缺。如快闪芯片含 16Mbit 的数据，就应该可以用到 16Mbit，这样可以防 止误解和避免地址冲突。例如，如果用一个 4Mbit 存储器向一个元件仅仅提供 300Kbit 数据， 就可能出现这种情况。当然数据应准备成流行的标准格式，如 Intel 公司的 Hex 或 Motorola 公司的 S 记录结构等。大多数测试系统，只要能够对快闪或 ISP 元件进行编程，是可以解读 这些格式的。前面所提到的许多信息，其中许多也是元件制造所必须的。当然，在可制造性 和可测试性之间应明确区别，因为这是完全不同的概念，从而构成不同的前提。 4、良好的可测试性的机械接触条件 如果不考虑机械方面的基本规则，即使在电气方面具有非常良好的可测试性的电路，也 可能难以测试。许多因素会限制电气的可测试性。如果测试点不够或太小，探针床适配器就 难以接触到电路的每个节点。如果测试点位置误差和尺寸误差太大，就会产生测试重复性不 好的问题。在使用探针床配器时，应留意一系列有关套牢孔与测试点的大小和定位的建议。 5、最佳可测试性的电气前提条件 电气前提条件对良好的可测试性，和机械接触条件一样重要，两者缺一不可。一个门电 路不能进行测试，原因可能是无法通过测试点接触到启动输入端，也可能是启动输入端处在 封装壳内，外部无法接触，在原则上这两情况同样都是不好的，都使测试无法进行。在设计 电路时应该注意，凡是要用在线测试法检测的元件，都应该具备某种机理，使各个元件能够 在电气上绝缘起来。这种机理可以借助于禁止输入端来实现，它可以将元件的输出端控制在 静态的高欧姆状态。 虽然几乎所有的测试系统都能够逆驱动（Backdriving）方式将某一节点的状态带到任意 状态，但是所涉及的节点最好还是要备有禁止输入端，首先将此节点带到高欧姆状态，然后 再“平缓地”加上相应的电平。 同样，节拍发生器总是通过启动引线，门电路或插接电桥从振荡器后面直接断开。启 动输入端决不可直接与电路相连，而是通过 100 欧姆的电阻与电路连接。每个元件应有自己 的启动，复位或控制引线脚。必须避免许多元件的启动输入端共用一个电阻与电路相连。这 条规则对于 ASIC 元件也适用，这些元件也应有一个引线脚，通过它，可将输出端带到高欧 姆状态。如果元件在接通工作电压时可实行复位，这对于由测试器来引发复位也是非常有帮