高速PCB设计指南 助的。在这种情况下,元件在测试前就可以简单地置于规定的状态 不用的元件引线脚同样也应该是可接触的,因为在这些地方未发现的短路也可能造成 元件故障。此外,不用的门电路往往在以后会被利用于设计改进,它们可能会改接到电路中 来。所以同样重要的是,它们从一开始就应经过测试,以保证其工件可靠。 6、改进可测試性 使用探针床适配器时,改进可测试性的建议 套牢孔 呈对角线配置 定位精度为±0.05m(±2mil) 直径精度为±0.076/-0mm(+3/-0mil) 相对于测试点的定位精度为±0.05m(±2mi1) 离开元件边缘距离至少为3mm 不可穿通接触 测试点 尽可能为正方形 测试点直径至少为0.88mm(35mi1) 测试点大小精度为±0.076mm(±3mi1) 测试点之间间隔精度为±0.076mm(±3mi1) 测试点间隔尽可能为2.5mm 镀锡,端面可直接焊接 ll111 距离元件边缘至少为3mn 所有测试点应可能处于插件板的背面 测试点应均匀布在插件板上 每个节点至少有一个测试点(100%通道) 备用或不用的门电路都有测试点 供电电源的多外测试点分布在不同位置 元件标志 标志文字同一方向 型号、版本、系列号及条形码明确标识 元件名称要清晰可见,且尽可能直接标在元件近旁 7、关于快闪存器和其它可编程元件 快闪存储器的编程时间有时会很长(对于大的存储器或存储器组可达1分钟)。因此, 此时不容许有其它元件的逆驱动,否则快闪存储器可能会受到损害。为了避免这种情况,必 须将所有与地址总线的控制线相连的元件置于高欧姆状态。同样,数据总线也必须能够被置 于隔绝状态,以确保快闪存储器为空载,并可进行下步编程 系统内可编程元件(ISP)有一些要求,如 Altera, XilinX和 Lattice等公司的产品, 还有其它一些特殊要求。除了可测试性的机械和电气前提条件应得到保证外,还要保证具有 编程和确证数据的可能性。对于 Altera和 Xilinx元件,使用了连串矢量格式( Serial vector Format sve),这种格式近期几乎已发展成为工业标准。许多测试系统可以对这类元件编程,高速 PCB 设计指南 - 3 - 助的。在这种情况下，元件在测试前就可以简单地置于规定的状态。 不用的元件引线脚同样也应该是可接触的，因为在这些地方未发现的短路也可能造成 元件故障。此外，不用的门电路往往在以后会被利用于设计改进，它们可能会改接到电路中 来。所以同样重要的是，它们从一开始就应经过测试，以保证其工件可靠。 6、改进可测试性 使用探针床适配器时，改进可测试性的建议 套牢孔 l 呈对角线配置 l 定位精度为±0.05mm （±2mil） l 直径精度为±0.076/-0mm （+3/-0mil） l 相对于测试点的定位精度为±0.05mm （±2mil） l 离开元件边缘距离至少为 3mm l 不可穿通接触 测试点 l 尽可能为正方形 l 测试点直径至少为 0.88mm （35mil） l 测试点大小精度为±0.076mm （±3mil） l 测试点之间间隔精度为±0.076mm （±3mil） l 测试点间隔尽可能为 2.5mm l 镀锡，端面可直接焊接 l 距离元件边缘至少为 3mm l 所有测试点应可能处于插件板的背面 l 测试点应均匀布在插件板上 l 每个节点至少有一个测试点（100％通道） l 备用或不用的门电路都有测试点 l 供电电源的多外测试点分布在不同位置 元件标志 l 标志文字同一方向 l 型号、版本、系列号及条形码明确标识 l 元件名称要清晰可见，且尽可能直接标在元件近旁 7、关于快闪存储器和其它可编程元件 快闪存储器的编程时间有时会很长（对于大的存储器或存储器组可达 1 分钟）。因此， 此时不容许有其它元件的逆驱动，否则快闪存储器可能会受到损害。为了避免这种情况，必 须将所有与地址总线的控制线相连的元件置于高欧姆状态。同样，数据总线也必须能够被置 于隔绝状态，以确保快闪存储器为空载，并可进行下步编程。 系统内可编程元件（ISP）有一些要求，如 Altera，XilinX 和 Lattuce 等公司的产品， 还有其它一些特殊要求。除了可测试性的机械和电气前提条件应得到保证外，还要保证具有 编程和确证数据的可能性。对于 Altera 和 Xilinx 元件，使用了连串矢量格式（Serial Vector Format SVF），这种格式近期几乎已发展成为工业标准。许多测试系统可以对这类元件编程