测试的结果 测试的重要性 -四种不同的结果,对产品意义重大 测试错误的代价:Rule of Ten Good IC Defective IC Pass tests True PASS Test Escapes (less is better) Fail tests Yield Loss True Reject (less is better) Source from NTU 2020/9/4 集成电路可测性设计 72020/9/4 集成电路可测性设计 7 测试的结果 测试的重要性 四种不同的结果,对产品意义重大 测试错误的代价:Rule of Ten Source from NTU