经变形后有:Bm≈B(1+B2) 1-1"B2 B ou B2(1+β) 1-1β 而腔体的无载品质因数:Qo=(1+Bm+Bout)Qn 实验在SWR(驻波比)条件下测得的B值分别为B与B21,则可利用如上 公式得到Bm与Bout。而Qn是通过网络分析仪用 log mag方式测S直接得到, 那么腔体的无载品质因数便可测得。通常情况下,β1、B2与Bm、Bo的相差 很小,则可近似认为相等,那么Q0的近似公式也便演化为: Q0=(1+B+B2)Q 这个公式即为实验中强耦合条件下测品质因数的主要依据。 a.强耦合条件下测量高频腔的品质因数 根据上面的理论,分别用SWR模式(被测端口的驻波比)测量S1与S22条件下 的β与β2以及Q,为使αn值稳定较好读取,将IFBW设为1kHz,此时仪器 扫描变慢,从而读出的Qn值更加精确,数据如下: 谐振频率 BW/Hz Cent/GHzQ Loss/dB GHZ 1.5292391355±1529908611300±413±623±-31.54± 0.5 0.01 0.01 0.0 由理论推导,β1与β2分别为被测端口驻波比的倒数,则 4.13±0.01 6.23±0.01 0.242131 0.160514 实验结论:在谐振频率为1.529239GHz时,高频腔的品质因数: Q=(1+B+B2')Q1=2038±28 弱耦合条件下测量高频腔的品质因数 根据公式Q=(1+B1+B2)Qn1 若β1、β2小到可以忽略的时候,即耦合极弱的条件下,可将Q1近似为 Qo。调节两端口的耦合器与器件上的频率,使得信号既可以与噪声区别开来,又 尽可能地使两个耦合值较小,于是得到的Qn便可认为是器件的品质因数Q。 用网络分析仪测S21,格式选取 Log Mag,则数据如下:8 经变形后有： 1 2 in 1 2 ' ' 1 ' ' = − β(1+β ) β ββ 2 1 out 1 2 ' ' 1 ' ' = − β (1+β ) β ββ 而腔体的无载品质因数：Q0=（1+βin+βout）Ql1 实验在 SWR（驻波比）条件下测得的β值分别为 β1 ' 与 β2 ' ，则可利用如上 公式得到 βin 与βout。而 Ql1 是通过网络分析仪用 log Mag 方式测 S11 直接得到， 那么腔体的无载品质因数便可测得。通常情况下， β1 ' 、β2 ' 与βin、βout 的相差 很小，则可近似认为相等，那么 Q0 的近似公式也便演化为： Q0=( 1+ β1 ' + β2 ' ) Ql1 这个公式即为实验中强耦合条件下测品质因数的主要依据。 a. 强耦合条件下测量高频腔的品质因数： 根据上面的理论，分别用 SWR 模式（被测端口的驻波比）测量 S11 与 S22 条件下 的β1 与β2 以及 Ql1，为使 Ql1 值稳定较好读取，将 IF BW 设为 1kHz，此时仪器 扫描变慢，从而读出的 Ql1 值更加精确，数据如下： 谐振频率 /GHz BW/kHz Cent/GHz Ql1 β1 β2 Loss/dB 1.529239 135.5 ± 0.5 1.5299086 11300 ± 20 4.13 ± 0.01 6.23 ± 0.01 -31.54 ± 0.02 由理论推导，β1’与 β2’分别为被测端口驻波比的倒数，则： β1 β2 β1’ β2’ 4.13±0.01 6.23±0.01 0.242131 0.160514 实验结论：在谐振频率为 1.529239GHz 时，高频腔的品质因数: Q0=( 1+ β1 ' + β2 ' ) Ql1=20338±28 b. 弱耦合条件下测量高频腔的品质因数： 根据公式 Q0=( 1+ β1 ' + β2 ' ) Ql1， 若β1’、 β2’小到可以忽略的时候，即耦合极弱的条件下，可将 Ql1 近似为 Q0。调节两端口的耦合器与器件上的频率，使得信号既可以与噪声区别开来，又 尽可能地使两个耦合值较小，于是得到的 Ql1 便可认为是器件的品质因数 Q0。 用网络分析仪测 S21，格式选取 Log Mag，则数据如下：