(1)测试TTL电路74LS00的输出特性 在实训装置的合适位置选取一个14P插座。插入74LS00,R取为1002，高电平输出时， RW取47k2,低电平输出时，RW取10k2,高电平测试时应测量空载到最小允许高电平(2.7V) 之间的一系列点；低电平测试时应测量空载到最大允许低电平(0.4V)之间的一系列点。 (2)测试CMOS电路CC4001的输出特性 测试时R取为470Q,RW取4.7k2 高电平测试时应测量从空载到输出电平降到4.6V为止的一系列点：低电平测试时应测量 从空载到输出电平升到0.4V为止的一系列点。 2.TTL电路驱动CMOS电路 用74LS00的一个门来驱动CC4001的四个门，实训电路如图3-2所示，R取32。测量 连接3与不连接3k电阻时74LS00的输出高低电平及CC4001的逻辑功能，测试逻辑功能时， 可用实训装置上的逻辑笔进行测试，将逻辑笔的输入口通过一根导线接至所需的测试点。 3.CMOS电路驱动TTL电路， 电路如图21-3所示，被驱动的电路用两片74LS00的八个门并联。 电路的输入端接逻辑电平输出插口，八个输出端分别接逻辑电平显示的输入插口。先用 CC4001的一个门来驱动，观测CC4001的输出电平和74LS00的逻辑功能。 然后将CC4001的其余三个门，一个个并联到第一个门上（输入与输入，输出与输出并联）， 分别观察CMOS的输出电平及74LS00的逻辑功能： 五、实训总结 1.掌握所用集成电路的引脚功能。 2.记录实训测量数据。 88 (1) 测试 TTL 电路 74LS00 的输出特性 在实训装置的合适位置选取一个 14P 插座。插入 74LS00，R 取为 100Ω，高电平输出时， RW 取 47kΩ，低电平输出时，RW 取 10kΩ，高电平测试时应测量空载到最小允许高电平(2.7V) 之间的一系列点；低电平测试时应测量空载到最大允许低电平(0.4V)之间的一系列点。 (2) 测试 CMOS 电路 CC4001 的输出特性 测试时 R 取为 470Ω，RW 取 4.7kΩ 高电平测试时应测量从空载到输出电平降到 4.6V 为止的一系列点；低电平测试时应测量 从空载到输出电平升到 0.4V 为止的一系列点。 2. TTL 电路驱动 CMOS 电路 用 74LS00 的一个门来驱动 CC4001 的四个门，实训电路如图 3-2 所示，R 取 3kΩ。测量 连接 3k 与不连接 3k 电阻时 74LS00 的输出高低电平及 CC4001 的逻辑功能，测试逻辑功能时， 可用实训装置上的逻辑笔进行测试，将逻辑笔的输入口通过一根导线接至所需的测试点。 3. CMOS 电路驱动 TTL 电路， 电路如图 21-3 所示，被驱动的电路用两片 74LS00 的八个门并联。 电路的输入端接逻辑电平输出插口，八个输出端分别接逻辑电平显示的输入插口。先用 CC4001 的一个门来驱动，观测 CC4001 的输出电平和 74LS00 的逻辑功能。 然后将 CC4001 的其余三个门，一个个并联到第一个门上（输入与输入，输出与输出并联）， 分别观察 CMOS 的输出电平及 74LS00 的逻辑功能。 五、实训总结 1. 掌握所用集成电路的引脚功能。 2. 记录实训测量数据