《电子电路》数字部分 实 训 大 纲 编写者：徐慧 二0一八年十月
《电子电路》数字部分 实 训 大 纲 编写者：徐慧 二〇一八年十月
《电子线路》数字部分实训大纲 目 录 一、总体说明」 1 1、实训目的与要求 2、实训内容 .1 3、参考课时. .1 4、实训材料准备1 5、考核办法… .2 6、实训方法与步骤： .2 7、实训范例.。 2 实训一TTL集成逻辑门 2 实训二CMOS集成逻辑门. 5 实训三集成逻辑电路的连接和驱动 .7 实训四组合逻辑电路 9 实训五译码器。 .12 实训六译码与数码显示 14 实训七数据选择器及其应用 17 实训八触发器 o 实训九计数器 22 实训十移位寄存器 25 实训十一 脉冲分配器及其应用 27 实训十二555定时器的应用 29 附录1… .30 附录2. .31 附录3. 32
《电子线路》数字部分实训大纲 目 录 一、 总体说明.................................................................................................................................1 1、实训目的与要求.................................................................................................................1 2、实训内容.............................................................................................................................1 3、参考课时.............................................................................................................................1 4、实训材料准备.....................................................................................................................1 5、考核办法.............................................................................................................................2 6、实训方法与步骤：.............................................................................................................2 7、实训范例.............................................................................................................................2 实训一 TTL 集成逻辑门 ..............................................................................................2 实训二 CMOS 集成逻辑门 ..........................................................................................5 实训三 集成逻辑电路的连接和驱动...........................................................................7 实训四 组合逻辑电路...................................................................................................9 实训五 译码器.............................................................................................................12 实训六 译码与数码显示.............................................................................................14 实训七 数据选择器及其应用.....................................................................................17 实训八 触发器.............................................................................................................19 实训九 计数器.............................................................................................................22 实训十 移位寄存器.....................................................................................................25 实训十一 脉冲分配器及其应用.................................................................................27 实训十二 555 定时器的应用......................................................................................29 附录 1..............................................................................................................................30 附录 2..............................................................................................................................31 附录 3..............................................................................................................................32
《电子线路》数字部分实训大纲 一、总体说明 1、实训目的与要求 科学技术的高速发展，使得人类的生产、生活方式乃至社会结 构都随之发生变化。而支撑现代科学技术大厦的重要基石之一的就是 电子技术。数字电路是近代电子技术的重要基础，数字技术在近十年 来获得空前飞速的发展。随着数字集成工艺的日益完善，数字技术已 经渗透到国民经济和人民生活的各个领域。为了让学生适应将来的社 会的需要，提高学生的竞争力。也为了更好的帮助书本知识的理解， 将实际操作与电子技术中数字部分的理论知识相结合，可以做到学以 致用，学以反思，理实结合。本学期开设了《电子线路》数字部分实 训。通过动手操作，让学生带着问题思考，自己动手解决，自己动手 设计。不仅可以知其然也可以知其所以然，专业知识和职业技能都能 得到发展。 2、实训内容 《电子线路》数字电子部分 3、参考课时 28课时 4、实训材料准备 硬件：THETDD-1型电工电子技术实训装置 资料：《电子线路》、《THETDD-1型电工电子技术实训装置》实验
1 《电子线路》数字部分实训大纲 一、 总体说明 1、实训目的与要求 科学技术的高速发展，使得人类的生产、生活方式乃至社会结 构都随之发生变化。而支撑现代科学技术大厦的重要基石之一的就是 电子技术。数字电路是近代电子技术的重要基础，数字技术在近十年 来获得空前飞速的发展。随着数字集成工艺的日益完善，数字技术已 经渗透到国民经济和人民生活的各个领域。为了让学生适应将来的社 会的需要，提高学生的竞争力。也为了更好的帮助书本知识的理解， 将实际操作与电子技术中数字部分的理论知识相结合，可以做到学以 致用，学以反思，理实结合。本学期开设了《电子线路》数字部分实 训。通过动手操作，让学生带着问题思考，自己动手解决，自己动手 设计。不仅可以知其然也可以知其所以然，专业知识和职业技能都能 得到发展。 2、实训内容 《电子线路》数字电子部分 3、参考课时 28 课时 4、实训材料准备 硬件：THETDD-1 型电工电子技术实训装置 资料：《电子线路》、《THETDD-1 型电工电子技术实训装置》实验
指导书。 5、考核办法 出勤情况：10分 纪律表现：10分 实验报告：50分 操作规范：20分 安全注意：10分 6、实训方法与步骤： 实训方法：学生两人一组，选出一个组长。组长负责组织本组的 实训过程并协调与其他组的合作。 7、实训范例 实训一TTL集成逻辑门 一、实训目的 1.掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。 2.掌握TTL器件的使用规则。 3.熟悉电工电子技术实训装置的结构、基本功能和使用方法。 二、实训电路 2
2 指导书。 5、考核办法 出勤情况：10 分 纪律表现：10 分 实验报告：50 分 操作规范：20 分 安全注意：10 分 6、实训方法与步骤： 实训方法：学生两人一组，选出一个组长。组长负责组织本组的 实训过程并协调与其他组的合作。 7、实训范例 实训一 TTL 集成逻辑门 一、实训目的 1. 掌握 TTL 集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。 2. 掌握 TTL 器件的使用规则。 3. 熟悉电工电子技术实训装置的结构、基本功能和使用方法。 二、实训电路
+5V +5V 特的时 凸的学 凸凸凸 1234667 1234567 GND GND 74红S08四2输入与门 74LS04六反相器 +5V +5V 141312111098L 141312111091 GND GND 1234567 1234567 A BY GND A B C D YGND 74LS32四2输入或门 74LS20双4输入与非门 图1-1TTL集成逻辑门芯片管脚图 三、实训设备与器件 序号 名称 型号与规格 数量 备注 1 直流稳压电源 +5V 1路 实训台 2 逻辑电平输出 DDZ-22 3 逻辑电平显示 DDZ-22 14P芯片插座 1个 DDZ-22 5 集成芯片 74LS04 1片 6 集成芯片 74LS08 1片 7 集成芯片 74LS20 1片 8 集成芯片 74LS32 1片 四、实训内容与步骤 用实训连接线将实训台上+5V电源和地连入实训挂箱DDZ-22。实训用集成芯片的管脚 图见图1-1。 1.TTL与门74LS08逻辑功能测试 (1)在DDZ-22上选取一个14P插座，按定位标记插好74LS08集成块。 (2)根据图1-1的管脚图，将实训挂箱上+5V直流电源接74LS08的14脚，地接7脚。 (3)用实训连接线将逻辑电平输出口和74LS08两个输入端A、B(1脚和2脚)相连，以 提供0”与1”电平信号，开关向上，输出逻辑1”，向下为逻辑0”。门的输出端Y(3脚)接 由LED发光二极管组成的逻辑电平显示的输入口，LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑0”。 (4)按下表在两输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 A 0 1 0 输入 B 0 1 1 0 输出 Y 2.TTL非门74LS04功能测试 3
3 图 1-1 TTL 集成逻辑门芯片管脚图 三、实训设备与器件 序 号 名 称 型号与规格 数 量 备 注 1 直流稳压电源 ＋5V 1 路 实训台 2 逻辑电平输出 DDZ-22 3 逻辑电平显示 DDZ-22 4 14P 芯片插座 1 个 DDZ-22 5 集成芯片 74LS04 1 片 6 集成芯片 74LS08 1 片 7 集成芯片 74LS20 1 片 8 集成芯片 74LS32 1 片 四、实训内容与步骤 用实训连接线将实训台上＋5V 电源和地连入实训挂箱 DDZ-22。实训用集成芯片的管脚 图见图 1-1。 1. TTL 与门 74LS08 逻辑功能测试 (1) 在 DDZ-22 上选取一个 14P 插座，按定位标记插好 74LS08 集成块。 (2) 根据图 1-1 的管脚图，将实训挂箱上＋5V 直流电源接 74LS08 的 14 脚，地接 7 脚。 (3) 用实训连接线将逻辑电平输出口和 74LS08 两个输入端 A、B（1 脚和 2 脚）相连，以 提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。门的输出端 Y（3 脚）接 由 LED 发光二极管组成的逻辑电平显示的输入口，LED 亮为逻辑“1”， 不亮为逻辑“0”。 (4)按下表在两输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 输入 A 1 0 1 0 B 0 1 1 0 输出 Y 2. TTL 非门 74LS04 功能测试
(1)在DDZ-22上选取一个14P插座，按定位标记插好74LS04集成块。 (2)按照74LS04的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通+5V直流稳压电源。 (3)按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 输入 0 1 输出 3.TTL或门74LS32逻辑功能测试 (1)在DDZ-22上选取一个14P插座，按定位标记插好74LS32集成块。 (2)按照74LS32的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通+5V直流稳压电源。 (3)按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 A 0 0 1 1 输入 B 0 1 0 1 输出 Y 4.TTL与非门74LS20逻辑功能测试 (1)在DDZ-22上选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块。 (2)按74LS20的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通+5V直流稳压电源。 (3)按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 A 1 0 1 1 1 B 1 1 0 1 输入 c 1 1 1 0 1 D 1 1 1 1 0 输出 Y 五、集成电路芯片简介 数字电路实训中所用到的集成芯片都是双列直插式的。识别方法是：正对集成电路型号 (如74LS20)或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以1,2,3， 依次排列到最后一脚（在左上角）。在标准TTL集成电路中，电源端VCC一般排在左上端， 接地端GND一般排在右下端。如74LS20为14脚芯片，14脚为VCC,7脚为GND。若集成 芯片引脚上的功能标号为NC,则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。 六、TTL集成电路使用规则 1.接插集成块时，要认清定位标记，不得插反。 2.电源电压使用范围为+4.5V~+5.5V之间，实训中要求使用Vcc=+5V。电源极性绝 对不允许接错。 3.闲置输入端处理方法 (1)悬空，相当于正逻辑1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，实训时允许悬空 处理。但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规 模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电 路，不允许悬空。 (2)直接接电源电压VCC(也可以串入一只1~10k2的固定电阻)或接至某一固定电压 (2.4sV<4.5V)的电源上，或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。 (3)若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。 4.输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当R≤6802时，输 入端相当于逻辑0”：当R之4.7k2时，输入端相当于逻辑1”。对于不同系列的器件，要求的 阻值不同
4 (1) 在 DDZ-22 上选取一个 14P 插座，按定位标记插好 74LS04 集成块。 (2) 按照 74LS04 的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通＋5V 直流稳压电源。 (3) 按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 输入 0 1 输出 3. TTL 或门 74LS32 逻辑功能测试 (1) 在 DDZ-22 上选取一个 14P 插座，按定位标记插好 74LS32 集成块。 (2) 按照 74LS32 的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通＋5V 直流稳压电源。 (3) 按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 输入 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 输出 Y 4. TTL 与非门 74LS20 逻辑功能测试 (1) 在 DDZ-22 上选取一个 14P 插座，按定位标记插好 74LS20 集成块。 (2) 按 74LS20 的管脚图，用实训连接线连接好输入和输出，接通＋5V 直流稳压电源。 (3) 按下表在输入端输入相应电平，测量并记录相应输出。 输入 A 1 0 1 1 1 B 1 1 0 1 1 C 1 1 1 0 1 D 1 1 1 1 0 输出 Y 五、集成电路芯片简介 数字电路实训中所用到的集成芯片都是双列直插式的。识别方法是：正对集成电路型号 （如 74LS20）或看标记（左边的缺口或小圆点标记），从左下角开始按逆时针方向以 1，2，3，… 依次排列到最后一脚（在左上角）。在标准 TTL 集成电路中，电源端 VCC 一般排在左上端， 接地端 GND 一般排在右下端。如 74LS20 为 14 脚芯片，14 脚为 VCC，7 脚为 GND。若集成 芯片引脚上的功能标号为 NC，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。 六、TTL 集成电路使用规则 1. 接插集成块时，要认清定位标记，不得插反。 2. 电源电压使用范围为＋4.5V～＋5.5V 之间，实训中要求使用 Vcc=＋5V。电源极性绝 对不允许接错。 3. 闲置输入端处理方法 (1) 悬空，相当于正逻辑“1”，对于一般小规模集成电路的数据输入端，实训时允许悬空 处理。但易受外界干扰，导致电路的逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规 模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电 路，不允许悬空。 (2) 直接接电源电压 VCC（也可以串入一只 1～10kΩ 的固定电阻）或接至某一固定电压 (2.4≤V≤4.5V)的电源上，或与输入端为接地的多余与非门的输出端相接。 (3) 若前级驱动能力允许，可以与使用的输入端并联。 4. 输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处的状态。当 R≤680Ω 时，输 入端相当于逻辑“0”；当 R≥4.7 kΩ 时，输入端相当于逻辑“1”。对于不同系列的器件，要求的 阻值不同
5.输出端不允许并联使用（集电极开路门(OC)和三态输出门电路(3S)除外）。否则不仅 会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。 6.输出端不允许直接接地或直接接+5V电源，否则将损坏器件，有时为了使后级电路 获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻R接至VCC,一般取R=3~5.1k2。 实训二CMOS集成逻辑门 一、实训目的 1.掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2.熟悉几种基本集成引脚的排列。 3.进一步学习集成门电路的逻辑功能的测试方法。 二、实训原理 1.CMOS集成门电路的芯片管脚图见附录3。 2.CMOS电的使用规则： (1)VDD接电源正极，VSS接电源负极（通常接地⊥），不得接反。CC40O0系列的电源 允许电压在十3~+18V范围内选择，实训中一般要求使用+5~+15V。 (2)所有输入端一律不准悬空。 闲置输入端的处理方法： a.按照逻辑要求，直接接VDD(与非门)或VSS(或非门)。 b.在工作频率不高的电路中，允许输入端并联使用。 (3)输出端不允许直接与VDD或VSS连接，否则将导致器件损坏。 (4)在连接电路、改变电路连接或插、拔电路时，均应切断电源，严禁带电操作。 (⑤)焊接、测试和储存时的注意事项： a.电路应存放在导电的容器内，有良好的静电屏蔽。 b.焊接时必须切断电源，电烙铁外壳必须良好接地，或拔下烙铁，靠其余热焊接。 c.所有的测试仪器必须良好接地。 三、实训设备与器件 序号 名称 型号与规格 数量 备注 1 直流稳压电源 +5V 1路 实训台 2 逻辑电平输出 DDZ-22 3 逻辑电平指示 DDZ-22 ￥ 14P芯片插座 1个 DDZ-22 U 集成芯片 CC4001 1片 6 集成芯片 CC4011 1片 > 集成芯片 CC4071 1片 5
5 5. 输出端不允许并联使用（集电极开路门(OC)和三态输出门电路(3S)除外）。否则不仅 会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。 6. 输出端不允许直接接地或直接接＋5V 电源，否则将损坏器件，有时为了使后级电路 获得较高的输出电平，允许输出端通过电阻 R 接至 VCC，一般取 R＝3～5.1kΩ。 实训二 CMOS 集成逻辑门 一、实训目的 1. 掌握 CMOS 集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2. 熟悉几种基本集成引脚的排列。 3. 进一步学习集成门电路的逻辑功能的测试方法。 二、实训原理 1. CMOS 集成门电路的芯片管脚图见附录 3。 2. CMOS 电路的使用规则： (1) VDD 接电源正极，VSS 接电源负极（通常接地⊥），不得接反。CC4000 系列的电源 允许电压在＋3～＋18V 范围内选择，实训中一般要求使用＋5～＋15V。 (2) 所有输入端一律不准悬空。 闲置输入端的处理方法： a.按照逻辑要求，直接接 VDD（与非门）或 VSS（或非门）。 b.在工作频率不高的电路中，允许输入端并联使用。 (3) 输出端不允许直接与 VDD 或 VSS 连接，否则将导致器件损坏。 (4) 在连接电路、改变电路连接或插、拔电路时，均应切断电源，严禁带电操作。 (5) 焊接、测试和储存时的注意事项： a.电路应存放在导电的容器内，有良好的静电屏蔽。 b.焊接时必须切断电源，电烙铁外壳必须良好接地，或拔下烙铁，靠其余热焊接。 c.所有的测试仪器必须良好接地。 三、实训设备与器件 序 号 名 称 型号与规格 数 量 备 注 1 直流稳压电源 ＋5V 1 路 实训台 2 逻辑电平输出 DDZ-22 3 逻辑电平指示 DDZ-22 4 14P 芯片插座 1 个 DDZ-22 5 集成芯片 CC4001 1 片 6 集成芯片 CC4011 1 片 7 集成芯片 CC4071 1 片
8集成芯片 CC4081 1片 四、实训内容与步骤 1.用实训连接线将实训台上+5V电源和地连入实训挂箱DDZ-22。 2.验证与非门CC4011、与门CC4081、或门CC4071及或非门CC4001逻辑功能，其引 脚见附录3。其验证方法与TTL电路相同，自拟表格记录测试结果。 五、实训总结 1.掌握实训用各集成门引脚功能。 2.根据实训结果，写出各门电路的逻辑表达式，并判断被测电路的功能好坏。 3.绘出各实训内容的测试电路与数据记录表格。 4.绘出实训用各门电路的真值表表格。 5.各CMOS门电路闲置输入端如何处理？ 6
6 8 集成芯片 CC4081 1 片 四、实训内容与步骤 1. 用实训连接线将实训台上＋5V 电源和地连入实训挂箱 DDZ-22。 2. 验证与非门 CC4011、与门 CC4081、或门 CC4071 及或非门 CC4001 逻辑功能，其引 脚见附录 3。其验证方法与 TTL 电路相同，自拟表格记录测试结果。 五、实训总结 1. 掌握实训用各集成门引脚功能。 2. 根据实训结果，写出各门电路的逻辑表达式，并判断被测电路的功能好坏。 3. 绘出各实训内容的测试电路与数据记录表格。 4. 绘出实训用各门电路的真值表表格。 5. 各 CMOS 门电路闲置输入端如何处理？
实训三集成逻辑电路的连接和驱动 一、实训目的 1.掌握TTL、CMOS集成电路输入电路与输出电路的性质。 2.掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵守的规则和实际衔接方法。 二、实训电路 +5V +5V (a)高电平输出 (b)低电平输出 图3-1与非门电路输出特性测试电路 74LS00 CC4001 & ≥1 1/4CC4001 74LS00 R3K & 图3-2TTL电路驱动CMO足电路 图3-3CM0S中电路 三、实训设备与器件 序号 名称 型号与规格 数量 备注 1 直流稳压电源 +5V 1路 实训台 2 直流数字电压表 1只 实训台 3 直流毫安表 1只 实训台 4 逻辑电平输出 DDZ-22 5 逻辑电平显示 DDZ-22 6 逻辑笔 1只 DDZ-22 7 14P芯片插座 2个 DDZ-22 8 集成芯片 74LS00 2片 9 集成芯片 CC4001 1片 10 电阻 1002、4702、3k2 各1个 DDZ-21 11 电位器 10k 1个 DDZ-12 12 电位器 4.7k、47k 各1个 四、实训内容与步骤 1.测试TTL电路74LS00及CMOS电路CC4001的输出特性（管脚图见附录3） 测试电路如图3-1所示，图中以与非门74L00为例画出了高、低电平两种输出状态下 输出特性的测量方法。改变电位器RW的阻值，从而获得输出特性曲线，R为限流电阻
7 实训三 集成逻辑电路的连接和驱动 一、实训目的 1. 掌握 TTL、CMOS 集成电路输入电路与输出电路的性质。 2. 掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵守的规则和实际衔接方法。 二、实训电路 (a) 高电平输出 (b) 低电平输出 图 3-1 与非门电路输出特性测试电路 图 3-2 TTL 电路驱动 CMOS 电路 图 3-3 CMOS 驱动 TTL 电路 三、实训设备与器件 序 号 名 称 型号与规格 数 量 备 注 1 直流稳压电源 ＋5V 1 路 实训台 2 直流数字电压表 1 只 实训台 3 直流毫安表 1 只 实训台 4 逻辑电平输出 DDZ-22 5 逻辑电平显示 DDZ-22 6 逻辑笔 1 只 DDZ-22 7 14P 芯片插座 2 个 DDZ-22 8 集成芯片 74LS00 2 片 9 集成芯片 CC4001 1 片 10 电阻 100Ω、470Ω、3kΩ 各 1 个 DDZ-21 11 电位器 10k 1 个 DDZ-12 12 电位器 4.7k、47k 各 1 个 四、实训内容与步骤 1. 测试 TTL 电路 74LS00 及 CMOS 电路 CC4001 的输出特性（管脚图见附录 3） 测试电路如图 3-1 所示，图中以与非门 74LS00 为例画出了高、低电平两种输出状态下 输出特性的测量方法。改变电位器 RW 的阻值，从而获得输出特性曲线，R 为限流电阻
(1)测试TTL电路74LS00的输出特性 在实训装置的合适位置选取一个14P插座。插入74LS00,R取为1002，高电平输出时， RW取47k2,低电平输出时，RW取10k2,高电平测试时应测量空载到最小允许高电平(2.7V) 之间的一系列点；低电平测试时应测量空载到最大允许低电平(0.4V)之间的一系列点。 (2)测试CMOS电路CC4001的输出特性 测试时R取为470Q,RW取4.7k2 高电平测试时应测量从空载到输出电平降到4.6V为止的一系列点：低电平测试时应测量 从空载到输出电平升到0.4V为止的一系列点。 2.TTL电路驱动CMOS电路 用74LS00的一个门来驱动CC4001的四个门，实训电路如图3-2所示，R取32。测量 连接3与不连接3k电阻时74LS00的输出高低电平及CC4001的逻辑功能，测试逻辑功能时， 可用实训装置上的逻辑笔进行测试，将逻辑笔的输入口通过一根导线接至所需的测试点。 3.CMOS电路驱动TTL电路， 电路如图21-3所示，被驱动的电路用两片74LS00的八个门并联。 电路的输入端接逻辑电平输出插口，八个输出端分别接逻辑电平显示的输入插口。先用 CC4001的一个门来驱动，观测CC4001的输出电平和74LS00的逻辑功能。 然后将CC4001的其余三个门，一个个并联到第一个门上（输入与输入，输出与输出并联）， 分别观察CMOS的输出电平及74LS00的逻辑功能： 五、实训总结 1.掌握所用集成电路的引脚功能。 2.记录实训测量数据。 8
8 (1) 测试 TTL 电路 74LS00 的输出特性 在实训装置的合适位置选取一个 14P 插座。插入 74LS00，R 取为 100Ω，高电平输出时， RW 取 47kΩ，低电平输出时，RW 取 10kΩ，高电平测试时应测量空载到最小允许高电平(2.7V) 之间的一系列点；低电平测试时应测量空载到最大允许低电平(0.4V)之间的一系列点。 (2) 测试 CMOS 电路 CC4001 的输出特性 测试时 R 取为 470Ω，RW 取 4.7kΩ 高电平测试时应测量从空载到输出电平降到 4.6V 为止的一系列点；低电平测试时应测量 从空载到输出电平升到 0.4V 为止的一系列点。 2. TTL 电路驱动 CMOS 电路 用 74LS00 的一个门来驱动 CC4001 的四个门，实训电路如图 3-2 所示，R 取 3kΩ。测量 连接 3k 与不连接 3k 电阻时 74LS00 的输出高低电平及 CC4001 的逻辑功能，测试逻辑功能时， 可用实训装置上的逻辑笔进行测试，将逻辑笔的输入口通过一根导线接至所需的测试点。 3. CMOS 电路驱动 TTL 电路， 电路如图 21-3 所示，被驱动的电路用两片 74LS00 的八个门并联。 电路的输入端接逻辑电平输出插口，八个输出端分别接逻辑电平显示的输入插口。先用 CC4001 的一个门来驱动，观测 CC4001 的输出电平和 74LS00 的逻辑功能。 然后将 CC4001 的其余三个门，一个个并联到第一个门上（输入与输入，输出与输出并联）， 分别观察 CMOS 的输出电平及 74LS00 的逻辑功能。 五、实训总结 1. 掌握所用集成电路的引脚功能。 2. 记录实训测量数据