1,N; A, hv (58) 式中A为两个能级间的跃迂几率,h为Pank常数,v为发射谱线的频率。将(57)式代入 (58)式 I= mA hv, Noe (59) 由式(59)可见,影响谱线强度的因素为 (1)统计权重谱线强度与激发态和基态的统计权重之比g成正比 (2)跃迁几率谱线强度与跃迁几率成正比.跃迁几率是一个原子在单位时间内在两个 能级间跃迁的几率,可通过实验数据计算出 (3)激发电位谱线强度与激发电位成负指数关 系.在温度一定时,激发电位愈高,处于该能量状态的原 子数愈少,谱线强度就愈小。激发电位最低的共振线通 常是强度最大的线 (4)激发温度从式(59)可看出温度升高,谱线强 度增大,但温度升高,电离的原子数目也会增多,而相 应的原子数会减少,致使原子谱线强度减弱,离子的谱 线强度增大。图52为一些谱线的强度与温度关系图 由图可见不同谱线各有其最合适的激发温度,在此温 300040005000600 度,谱线强度最大 T/K (5)基态原子数谱线强度与基态原子数成正比 图52谱线强度和温度关系 在一定条件下,基态原子数与试样中该元素浓度成正 比。因此,在一定的实验条件下谱线强度与被测元素浓度成正比,这是光谱定量分析的依据 (四)谱线的自吸与自蚀 在激发光源高温条件下,以气体存在的物质为等离子体( plasma).在物理学中,等离子体 是气体处在高度电离状态,其所形成的空间电荷密度大体相等,使得整个气体呈电中性,在 光谱学中,等离子体是指包含有分子、原子离子、电子等各种粒子电中性的集合体。 等离子体有一定的体积温度与原子浓度在其各部位分布不均匀,中间部位温度高,边缘 低。其中心区域激发态原子多,边缘处基态与较低能级 的原子较多,某元素的原子从中心发射某一波长的电 磁辐射,必然要通过边缘到达检测器,这样所发射的电 磁辐射就可能被处在边缘的同一元素基态或较低能级 的原子吸收。接收到的谱线强度就减弱了,这种原子 在高温发射某一波长的辐射,被处在边缘低温状态的同 种原子所吸收的现象称为自吸。 自吸对谱线中心处强度影响大,当元素的含量很 图53有自吸谦线轮康 小时,不表现自吸。当含量增大时,自吸现象增加。当 一无自吸 有自吸 达到一定含量时,由于自吸严重,谱线中心强度都被吸 3—自蚀 4-严重自蚀 收了,完仝消失,好像两条谱线,这种现象称为自蚀。在 谱线表上,r表示有自吸的谱线R表示自蚀。基态原子对共振线的自吸最为严重,并且常产