第6期 李慧艳等：霉菌对超高强钢腐蚀行为的影响 759· 2.4扫描Kelvin探针测试结果与分析 色区域是少数的未腐蚀区，电位较负，周围的红色 图8为300M钢试样不同周期霉菌实验后的表 区域都是霉菌腐蚀区，电位较正.图8(d)为实验84 面SKP电位分布图.与图8(a)相比，随实验周期 d的表面电位分布，由于霉菌的大量生长，堆积在 延长，Kelvin电位(E)分布图颜色更明亮，表面电 试样表面，且产生大量代谢产物，使局部区域电位 位有一定的升高，表明试样表面在实验过程中发生 升高，加速周围区域的腐蚀，图中右上角黄色区域 一定的氧化.其中，图8(b)中间绿色为霉菌生长区 为诱发腐蚀开始区，电位比周围未腐蚀区域更正， 域，其表面电位比周围区域更正.图8(c)中间的蓝 比中间红色腐蚀严重的区域电位更负. 2000- E/V 2000 0.2500 E/V 1600 0.1500 1600 0.2500 0.05000 0.1500 1200 -005000星120， 0.05000 -0.05000 800 -0.1500 800 -0.1500 -0.2500 0.2500 400 -0.3500 400 -0.3500 -0.4500 -0.4500 0 0 400800120016002000 400800120016002000 X/um X/μn 2000 2000 E/V E/V 1600 0.2500 1600 0.2500 0.1500 0.1500 且 1200 -0.05000200 0.05000 0.05000 0.05000 -0.1500 -0.15D0 800 -0.2500 =02500 -0.3500 -0.3500 400 -0.4500 400 =0.450 400800120016002000 400800120016002000 X/um X/μm 图8300M钢霉菌实验后的SKP电位分布.(a)0d;(b)7d;(c)28d:(d)84d Fig.8 SKP potential distribution of 300M steel specimens after mold test:(a)0 d;(b)7 d;(c)28 d;(d)84 d 图9为Aermet100钢试样不同周期霉菌实验 蚀区域.可以看出，与图9(a)相比，随实验周期延 后的表面Kelvin电位分布图，中间部分为霉菌腐 长，Kelvin电位分布图颜色更明亮，表面电位有一 2000 2000T E/V E/V 1600 1600 -0.1000 -0.1000 三1200 0.2000 -0.2000 800 -0.3000 800 -0.3000 0.4000 400 400 -0.4000 0.5000 -0.5000 400 800120016002000 0 400800,120016002000 X/pm X/um 2000 E/V E/V 1600 1600 -0.1000 -0.1000 1200 1200 -0.2000 -0.2000 800 -0.3000 800 -0.3000 -0.4000 -0.4000 400 400 -0.5000 -0.5000 0 400.800120016002000 0 400800120016002000 X/pm X/um 图9 Aermet100钢霉菌实验后的SKP电位分布.(a)0d;(b)7d:(c)28d:(d)84d Fig.9 SKP potential distribution of Aermet100 steel specimens after mold test:(a)0 d;(b)7 d;(c)28 d;(d)84 d第 6 期 李慧艳等：霉菌对超高强钢腐蚀行为的影响 759 ·· 2.4 扫描 Kelvin 探针测试结果与分析 图 8 为 300M 钢试样不同周期霉菌实验后的表 面 SKP 电位分布图. 与图 8(a) 相比，随实验周期 延长，Kelvin 电位 (E) 分布图颜色更明亮，表面电 位有一定的升高，表明试样表面在实验过程中发生 一定的氧化. 其中，图 8(b) 中间绿色为霉菌生长区 域，其表面电位比周围区域更正. 图 8(c) 中间的蓝 色区域是少数的未腐蚀区，电位较负，周围的红色 区域都是霉菌腐蚀区，电位较正. 图 8(d) 为实验 84 d 的表面电位分布，由于霉菌的大量生长，堆积在 试样表面，且产生大量代谢产物，使局部区域电位 升高，加速周围区域的腐蚀，图中右上角黄色区域 为诱发腐蚀开始区，电位比周围未腐蚀区域更正， 比中间红色腐蚀严重的区域电位更负. 图 8 300M 钢霉菌实验后的 SKP 电位分布. (a) 0 d; (b) 7 d; (c) 28 d; (d) 84 d Fig.8 SKP potential distribution of 300M steel specimens after mold test: (a) 0 d; (b) 7 d; (c) 28 d; (d) 84 d 图 9 为 Aermet100 钢试样不同周期霉菌实验 后的表面 Kelvin 电位分布图，中间部分为霉菌腐 蚀区域. 可以看出，与图 9(a) 相比，随实验周期延 长，Kelvin 电位分布图颜色更明亮，表面电位有一 图 9 Aermet100 钢霉菌实验后的 SKP 电位分布. (a) 0 d; (b) 7 d; (c) 28 d; (d) 84 d Fig.9 SKP potential distribution of Aermet100 steel specimens after mold test: (a) 0 d; (b) 7 d; (c) 28 d; (d) 84 d