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第12期 李春元等:Ag一Au一Ge中温钎料的性能 ,1405 对于纤料来说,能否与基板形成较好的浸润,是 浸润性较差,润湿角很大,不能应用于工业之中, 能否顺利地完成焊接的关键.如果一种合金不能浸 (4)综合分析所有的实验结果,可以推断 润基板材料,则会因浸润不良而在界面上产生空隙, AAG1合金可以作为400~500℃间钎料使用 易使应力集中而在焊接处发生开裂.这种合金即使 致谢感谢中国科学院过程工程研究所李晶博 其力学性能很优越,也不能用作焊料. 士在浸润性测定方面给予的帮助, 由实验数据看出,在氩气气氛下,随着温度的升 高,试样在实验用基板上的浸润角逐渐减小,AAG1 参考文献 浸润角都比较小,说明与基板的浸润性很好,AAG2 [1]Long L.AlSiC metal matrix composites and its application in mi- 的浸润角相对而言比较大,浸润性较差.电子封装 croelectronics packaging Electron Packag.2006.6(6):16 工业中通常要求浸润角<208];由此推断,AAG2 (龙乐.电子封装中的铝碳化硅及其应用.电子与封装,2006,6 (6):16) 合金不能作为钎料使用, [2]Mo W J.Wang Z F.Wang HS.et al.A primary study of the 实验中所用的装置是临时设计的,如图6所示, Au-Ag Si solder.Precious Met.2004.25(4):45 采用的是流动氩气气氛,没有满足实际钎焊过程中 (莫文剑,王志法,姜美圣,等.Au-Ag Si钎料合金的初步研究 的氢气气氛,可能会存在一定的偏差,工业中通常 贵金属,2004,25(4):45) 采用氢气气氛焊接,还原性气氛会降低固体的表面 [3]Mo W J.Wang Z F.Jiang GS,et al.Study of a new type of Au 张力,有助于钎料与母材的润湿],所以推断在氢 Ag Si intermediate temperature eutectic solder.Rare Met Mater Eng,2005,34(3):497 气气氛下,实验用的合金试样的浸润性比在氩气条 (莫文剑,王志法,姜美圣,等.Au-Ag Si新型中温共晶钎料的研 件下会更好. 究.稀有金属材料与工程,2005,34(3):497) 控温热电偶 控温仪表 [4]He C X.Phase Diagram of Precious Metal Alloys.Beijing:Met- 管式电炉 allurgical Industry Press.1983:167 保护气出口 高纯氯气进口 (何纯孝.贵金属合金相图.北京:治金工业出版社,1983: 放大镜头数码 口相机 167) [5]Hassam S.Gambino M,Gaune-Escard M,et al.Experimental 测温热电偶 and calculated Ag-Au-Ge phase diagram.Metall Trans A.1988. 石英管 19A(3):409 计算机处理系统 [6]Borzone C.Hassam S.Bros JP.A note on the Ag-Au-Ge cqui- 图6润湿性实验装置示意图 librium phase diagram.Metall Trans A.1989.20A(10):2167 Fig.6 Schematic diagram for wetting experiment [7]Chang T C.Wang J W.Wang M C.et al.Solderability of Sn- 9Zn-0.5Ag-lIn lead-free solder on Cu substrate:Part I.Ther- mal properties,microstructure,corrosion and oxidation resis- 3结论 tance.J Alloys Compd.2006.422:239 [8]Wu B S.Yang X H.Chen WZ.Review of applying of lead-free (1)实验中两种合金的熔点都在400~500℃ soldering technology in the electronic packaging industry.Phys 之间,但熔化区间相对较大 Test Chem Anal Part A.2005.41(Suppl):77 (2)显微组织表明两种合金的组成接近共晶组 (吴本生,杨晓华,陈文哲无铅焊接技术在微电子封装工业中 成,存在典型的共晶组织,两种合金与基板间有较 的应用综述∥理化检验:物理分册.2005,41(增刊):77) [9]Zhang Q Y,Zhuang HS.Brazing and Soldering Manual.Bei- 好的接触性,界面间没有明显的金属间化合物形成, jing:China Machine Press,1999:14 (3)AAG1合金对Al-SiC/Ni/Au基板的浸润 (张启运,庄鸿寿,钎焊手册.北京:机械工业出版社,1999: 性较好,润湿角相对较小;而AAG2合金对基板的 14)对于钎料来说‚能否与基板形成较好的浸润‚是 能否顺利地完成焊接的关键.如果一种合金不能浸 润基板材料‚则会因浸润不良而在界面上产生空隙‚ 易使应力集中而在焊接处发生开裂.这种合金即使 其力学性能很优越‚也不能用作焊料. 由实验数据看出‚在氩气气氛下‚随着温度的升 高‚试样在实验用基板上的浸润角逐渐减小.AAG1 浸润角都比较小‚说明与基板的浸润性很好.AAG2 的浸润角相对而言比较大‚浸润性较差.电子封装 工业中通常要求浸润角<20°[8];由此推断‚AAG2 合金不能作为钎料使用. 实验中所用的装置是临时设计的‚如图6所示‚ 采用的是流动氩气气氛‚没有满足实际钎焊过程中 的氢气气氛‚可能会存在一定的偏差.工业中通常 采用氢气气氛焊接‚还原性气氛会降低固体的表面 张力‚有助于钎料与母材的润湿[9]‚所以推断在氢 气气氛下‚实验用的合金试样的浸润性比在氩气条 件下会更好. 图6 润湿性实验装置示意图 Fig.6 Schematic diagram for wetting experiment 3 结论 (1) 实验中两种合金的熔点都在400~500℃ 之间‚但熔化区间相对较大. (2) 显微组织表明两种合金的组成接近共晶组 成‚存在典型的共晶组织.两种合金与基板间有较 好的接触性‚界面间没有明显的金属间化合物形成. (3) AAG1合金对 Al-SiC/Ni/Au 基板的浸润 性较好‚润湿角相对较小;而 AAG2合金对基板的 浸润性较差‚润湿角很大‚不能应用于工业之中. (4) 综 合 分 析 所 有 的 实 验 结 果‚可 以 推 断 AAG1合金可以作为400~500℃间钎料使用. 致谢 感谢中国科学院过程工程研究所李晶博 士在浸润性测定方面给予的帮助. 参 考 文 献 [1] Long L.AlSiC metal matrix composites and its application in mi￾croelectronics packaging.Electron Packag‚2006‚6(6):16 (龙乐.电子封装中的铝碳化硅及其应用.电子与封装‚2006‚6 (6):16) [2] Mo W J‚Wang Z F‚Wang H S‚et al.A primary study of the Au-Ag-Si solder.Precious Met‚2004‚25(4):45 (莫文剑‚王志法‚姜美圣‚等.Au-Ag-Si 钎料合金的初步研究. 贵金属‚2004‚25(4):45) [3] Mo W J‚Wang Z F‚Jiang G S‚et al.Study of a new type of Au￾Ag-Si intermediate temperature eutectic solder.Rare Met Mater Eng‚2005‚34(3):497 (莫文剑‚王志法‚姜美圣‚等.Au-Ag-Si 新型中温共晶钎料的研 究.稀有金属材料与工程‚2005‚34(3):497) [4] He C X.Phase Diagram of Precious Metal Alloys.Beijing:Met￾allurgical Industry Press‚1983:167 (何纯孝.贵金属合金相图.北京:冶金工业出版社‚1983: 167) [5] Hassam S‚Gambino M‚Gaune-Escard M‚et al.Experimental and calculated Ag-Au-Ge phase diagram.Metall T rans A‚1988‚ 19A(3):409 [6] Borzone G‚Hassam S‚Bros J P.A note on the Ag-Au-Ge equi￾librium phase diagram.Metall T rans A‚1989‚20A(10):2167 [7] Chang T C‚Wang J W‚Wang M C‚et al.Solderability of Sn- 9Zn-0∙5Ag-1In lead-free solder on Cu substrate:Part Ⅰ.Ther￾mal properties‚microstructure‚corrosion and oxidation resis￾tance.J Alloys Compd‚2006‚422:239 [8] Wu B S‚Yang X H‚Chen W Z.Review of applying of lead-free soldering technology in the electronic packaging industry.Phys Test Chem A nal Part A‚2005‚41(Suppl):77 (吴本生‚杨晓华‚陈文哲.无铅焊接技术在微电子封装工业中 的应用综述∥理化检验:物理分册.2005‚41(增刊):77) [9] Zhang Q Y‚Zhuang H S.Brazing and Soldering Manual.Bei￾jing:China Machine Press‚1999:14 (张启运‚庄鸿寿.钎焊手册.北京:机械工业出版社‚1999: 14) 第12期 李春元等: Ag-Au-Ge 中温钎料的性能 ·1405·
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