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苏州大学：电子信息学院《集成电路版图设计》课程教学大纲
文档格式：DOC　文档大小：51.5KB　文档页数：6
苏州大学：电子信息学院《集成电路版图设计》课程教学大纲
苏州大学：电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲
文档格式：DOCX　文档大小：22.94KB　文档页数：4
苏州大学：电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲
苏州大学：电子信息学院《集成电路版图设计》课程教学大纲
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苏州大学：电子信息学院《集成电路版图设计》课程教学大纲
苏州大学：电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲
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苏州大学：电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识
文档格式：PDF　文档大小：3.2MB　文档页数：42
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第8、9章 内建自测试
文档格式：PDF　文档大小：3MB　文档页数：80
 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第11章 存储器测试
文档格式：PDF　文档大小：3.95MB　文档页数：68
① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第12章 Soc测试（2/2）IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
文档格式：PDF　文档大小：4.58MB　文档页数：44
一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
电子科技大学：《模拟集成电路分析与设计 Analysis and Design of Analog Integrated Circuit》课程教学资源（教学大纲，负责人：罗萍）
文档格式：PDF　文档大小：422.18KB　文档页数：9
电子科技大学：《模拟集成电路分析与设计 Analysis and Design of Analog Integrated Circuit》课程教学资源（教学大纲，负责人：罗萍）
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第10章 电流测试
文档格式：PDF　文档大小：4.47MB　文档页数：57
 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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