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加热温度对TRIP钢连续冷却转变曲线及室温组织的影响
文档格式:PDF 文档大小:1.2MB 文档页数:5
采用膨胀法在DIL805热膨胀仪上测定了不同加热温度下实验钢的连续冷却转变(CCT)曲线,通过光学显微镜和扫描电镜分析不同加热温度对CCT曲线和冷却试样显微组织的影响.结果表明:当加热温度由完全奥氏体化温度降低到两相区内较高温度时,CCT曲线中铁素体转变区左移;当加热温度处在两相区范围内时,随着加热温度的降低,铁素体转变被推迟,使得CCT曲线右移;新生铁素体外延生长方式和奥氏体中碳富集程度的差异是导致上述变迁的主要因素
喷射沉积H13钢的组织和硬度
文档格式:PDF 文档大小:1.07MB 文档页数:5
用传统铸造和喷射成形工艺制备了H13钢,然后再进行锻造加工,利用光学金相显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射分析(XRD)等分析方法及硬度测试对不同工艺制备的H13钢的显微组织和硬度进行分析.研究结果表明,喷射成形及其锻造加工的H13钢的组织及硬度明显的优于传统工艺制备的H13钢
《无机材料岩相分析》课程教学资源(PPT课件)第七章 耐火材料岩相分析 §1 概述 §2 耐火材料显微结构的研究内容 §3 硅质耐火材料岩相分析
文档格式:PPT 文档大小:18.51MB 文档页数:48
§1 概述 §2 耐火材料显微结构的研究内容 §3 硅质耐火材料岩相分析
《北京科技大学学报》:20Mn2车桥管推方裂缺陷研究(北京科技大学、安徽工业大学)
文档格式:PDF 文档大小:1.82MB 文档页数:7
为了探寻20Mn2车桥管在加工过程中产生推方裂缺陷的原因,借助光学显微镜、扫描也子显微镜、氧氮分析仪等测试手段,研究了推方裂的影响因素和形成机理.结果表明裂纹均出现在冷推方后的方管角部,缺陷试样氮的质量分数达70×10-6以上,在裂纹试样低倍组织中发现上贝氏体组织,裂纹处有钢中夹杂物存在.通过降低钢液增氮、提高淬火冷速以及减少钢中夹杂物,可以有效减少推方裂的产生
山东农业大学:机械工程实验教学中心《工程材料学》课程实验指导
文档格式:PDF 文档大小:2.59MB 文档页数:56
金相分析基础知识 材料硬度试验基础知识 实验一 金相显微镜的使用与金相样品的制备 实验二 碳钢和铸铁的平衡组织和非平衡组织的观察与分析 实验三 综合实验 参考文献 附录 1 数码显微镜及其使用操作规程 附录 2 常见钢铁材料的金相图谱
9Cr低活化马氏体钢高温变形行为
文档格式:PDF 文档大小:1.04MB 文档页数:6
采用Gleeble-1500D热模拟试验机研究了9Cr低活化马氏体钢在950~1200℃、应变速率为10-2~10s-1变形条件下的热压缩变形行为,并用金相显微镜观察了相应显微组织的变化.回归分析得出在0.15~0.8真应变量范围内变形激活能和材料常数随真应变量变化的关系式,并得出双曲正弦本构方程;利用数学方法直接从真应力-真应变曲线获得动态再结晶的峰值应力、临界应力、峰值应变和临界应变;回归得出了峰值应力、临界应力、峰值应变、临界应变和动态再结晶晶粒大小与Zener-Hollomon参数的关系式
稀土在离心灰铸铁管中的作用
文档格式:PDF 文档大小:2.21MB 文档页数:7
利用光学显微镜和扫描电镜并结合电子探针和化学分析,研究了稀土在离心灰铸铁管中的作用。结果表明,在保证灰口铸铁的先决条件下,普通离心灰铸铁管的组织,尽管可随基本化学成分和铸造条件的不同而变化,但其特征是组织粗大且很不均匀,并有明显的分层现象。加入微量稀土后,无论显微组织和宏观组织都显著趋于细化和均匀化,同时,化学成分的偏析也有明显改善
SHS-离心法制备W-C-Fe金属陶瓷内衬复合钢管
文档格式:PDF 文档大小:710.62KB 文档页数:4
以Fe2O3、WO3、Al和C为反应原料,采用SHS-离心法制备W-C-Fe内衬复合钢管.利用X射线衍射分析内衬层的相组成,扫描电镜观察金属陶瓷涂层的组织,利用能谱仪分析涂层与基体结合处的元素分布,显微硬度仪测量内衬层硬度.结果表明:涂层与基体之间形成良好的冶金结合,涂层主要由Fe3W3C组成,还有少量的WC、W2C、Fe3C和Fe;涂层组织呈梯度分布,靠近基体处晶粒细小,远离基体处晶粒呈粗大树枝状;涂层显微硬度为13.5±1.6GPa,是基体的7~8倍
河北科技大学:《细胞生物学》课程教学资源(PPT课件)第三章 研究方法 Techniques for Cell Biology(生物化学分析技术、其它实验性操作技术)
文档格式:PPT 文档大小:10.22MB 文档页数:55
一、组织化学和细胞化学技术 二、免疫细胞化学 三、显微光谱分析技术 四、放射自显影术 五、超离心技术 六、分子杂交技术 七、PCR技术 八、层析技术 一、细胞培养 二、显微操作术 三、细胞融合
《材料分析测试技术》课程PPT教学课件(讲稿)第八章 扫描电子显微镜与电子探针显微分析
文档格式:PPT 文档大小:14.56MB 文档页数:117
扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM )之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或 透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照 明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描 方式照射到试样上,产生各种与试样性质有 关的信息,然后加以收集和处理从而获得微 观形貌放大像
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