两个或多个电阻的串接，称为电阻的串联。 串联电阻通过的是同一个电流

17.1 非线性电阻的伏安特性 17.2 非线性电阻的串联、并联电路 17.3 非线性电阻电路的方程 17.4 小信号分析方法

1.1.1 固定电阻器 1.1.2 可变电阻器 1.1.3 敏感电阻器

2.1 电阻串并联联接的等效变换 2.2 电阻星型联结与三角型联结的等效变换 2.3 电压源与电流源及其等效变换 2.4 支路电流法 2.5 结点电压法 2.6 叠加原理 2.7 戴维宁定理与诺顿定理 2.8 受控源电路的分析 2.9 非线性电阻电路的分析

实验一 绝缘电阻和泄漏电流的测量 测量绝缘电阻与吸收比的工作原理 测量绝缘电阻与吸收比的方法 泄漏电流的测量 实验二 介质损耗角正切的测量 西林电桥的基本原理 存在外界电磁场干扰时的测量 测试功效 注意事项 实验三 工频高压试验 实验四 直流高压试验 实验五 冲击高压试验

7.1 分布函数和Boltzmann方程 7.2 弛豫时间近似和电导率公式 7.3 金属电阻率的微观机制 一. 金属电阻率的实验观测 二. 晶格散射和纯金属电导率温度关系 三. 剩余电阻率 四. 近藤效应（Kondo effect）

采用标准固相反应法制备了Sr14(Cu1-xZnx)24O41（x=0,0.01,0.02,0.03）系列多晶样品.X射线衍射谱表明所有样品均呈单相,且样品晶格常数大小随Zn掺杂量x的变化存在微弱波动.X射线光电子能谱表明Sr14Cu24O41中Cu离子以+2价形式存在,Zn掺杂对体系中Cu离子化合价不造成影响.磁化率测量结果表明在10-300 K温度范围内Zn掺杂使体系磁化率降低,拟合结果表明随着Zn掺杂量x的增大,居里-外斯项对体系磁化率贡献逐渐减弱,二聚体耦合能JD逐渐降低,每个分子中CuO2自旋链内二聚体个数ND与自由Cu2+离子自旋数NF均逐渐减少,进一步分析显示替换二聚体内Cu2+离子的Zn2+离子数少于替换自由Cu2+离子的Zn2+离子数.电阻率测量结果表明Sr14Cu24O41体系具有半导体特性,并且Zn掺杂会使体系电阻率降低,降低程度随掺杂量x增大而增大,但并未使体系发生金属-绝缘体转变.认为电阻率降低可能是由于Zn2+离子掺杂使体系内CuO2自旋链中二聚体发生退耦,破坏了电荷有序超结构,从而使更多的空穴释放出来并转移到导电性好的Cu2O3自旋梯子中所致

第一章 电路模型和电路定律 第二章 电阻电路的等效变换法 第三章 电阻电路的一般分析法 第四章 利用电路原理分析电路 第五章 运算放大器电路分析 第六章 非线性电阻电路 第七章 一阶动态电路 第八章 二阶电路 第九章 一阶和二阶非线性电路 第十章 相量法 第十一章 正弦电流电路计算 第十二章 具有耦合电感电路分析 第十三章 三相电路分析 第十四章 非正弦周期电流电路分析

1.1 电路与电路模型 1.2 电流,电压,电位 1.3 电功率 1.4 电阻元件 1.5 电压源与电流源 1.6 基尔霍夫定律 1.7 简单的电阻电路 1.8 支路电流分析法 1.9 节电电位分析法 1.10 叠加原理 1.11 等效电源定理 1.12含受控电源的电阻电路

2.4 电阻的星形联接与三角形联接的等效变换 (Y—△变换) 2.6 电压源和电流源的等效变换 2.6 输入电阻