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苏州大学:电子信息学院《集成电路版图设计》课程教学大纲
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苏州大学:电子信息学院《模拟集成电路课程设计》课程教学大纲
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
文档格式:PDF 文档大小:3.95MB 文档页数:68
① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
文档格式:PDF 文档大小:4.47MB 文档页数:57
 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
文档格式:PDF 文档大小:4.58MB 文档页数:44
一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
文档格式:PDF 文档大小:422.18KB 文档页数:9
电子科技大学:《模拟集成电路分析与设计 Analysis and Design of Analog Integrated Circuit》课程教学资源(教学大纲,负责人:罗萍)
文档格式:PDF 文档大小:7.05MB 文档页数:30
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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