1. XPS谱图的初级结构 1. 光电子谱峰 2. 俄歇电子谱峰 3. 价带谱 2. XPS谱图的次级结构

1. 电子能谱仪的一般构造 2. 超高真空系统(UHV) 3. 激发源 4. 电子能量分析器与检测器 5. 样品的制备和处理 6. 常用附件（中和枪与离子枪） 7. 数据系统

一、概述 二、X光电子能谱 三、俄歇电子能谱 四、扫描隧道显微镜(STM) 五、与原子力显微镜(AFM)

电子能谱 根据激发源的不同,电子能谱又分为: X射线光电子能谱(简称XPS) X-Ray Photoelectron Spectrometer) 紫外光电子能谱(简称UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇电子能谱(简称AES) (Auger Electron Spectrometer)

一、概述 二、质厚衬度原理

▪概述 ▪电子衍射原理 ▪电子显微镜中的电子衍射 ▪单晶电子衍射花样标定 ▪复杂电子衍射花样

1.前言 2.晶体对称性 3.晶体结构测定方法 4.结构分析应用程序简介

一、透射电镜的结构原理 二、射透电镜的主要性能

4.1 衍射现象、惠更斯—菲涅耳原理 4.2 单缝的夫琅禾费衍射、半波带法 4.3 光栅衍射 4.4 光学仪器的分辨本领 4.5 X射线的衍射

1920年,美国物理学家康普顿在观察X射线被物质散射时,发现散射线中含有波长发生变化了的成分