6.1、定量分析方法 6.1.1、第一性原理模型 First Principle Model 6.1.2、元素灵敏度因子法 6.1.3、定量精确度和误差来源 6.1.4、一个定量分析例子 6.2 深度剖析方法 6.2.1、深度分布信息 6.2.2、角分辨XPS深度剖析(d ~ λ) 6.2.3、离子溅射深度剖析(d>>λ) 6.2.4、在薄膜材料研究中的应用

一、概述 二、X光电子能谱 三、俄歇电子能谱 四、扫描隧道显微镜(STM) 五、与原子力显微镜(AFM)

1. XPS谱图的初级结构 1. 光电子谱峰 2. 俄歇电子谱峰 3. 价带谱 2. XPS谱图的次级结构

电子能谱 根据激发源的不同,电子能谱又分为: X射线光电子能谱(简称XPS) X-Ray Photoelectron Spectrometer) 紫外光电子能谱(简称UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇电子能谱(简称AES) (Auger Electron Spectrometer)

一、概述 二、质厚衬度原理

▪概述 ▪电子衍射原理 ▪电子显微镜中的电子衍射 ▪单晶电子衍射花样标定 ▪复杂电子衍射花样

1.前言 2.晶体对称性 3.晶体结构测定方法 4.结构分析应用程序简介

一、透射电镜的结构原理 二、射透电镜的主要性能

4.1 衍射现象、惠更斯—菲涅耳原理 4.2 单缝的夫琅禾费衍射、半波带法 4.3 光栅衍射 4.4 光学仪器的分辨本领 4.5 X射线的衍射

《金属材料定量相分析—X射线衍射K值法》国家标准