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利用光学显微镜(OM)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、能谱分析(EDS) 并结合热力学及动力学计算结果对采用真空感应熔炼和电渣重熔二联工艺生产的GH5605合金电渣锭的枝晶形貌、元素偏析和析出相进行分析.探索了合金的高温扩散退火制度并结合差示扫描量热仪(DSC) 和热压缩模拟实验分析高温扩散退火前后的合金特征.结果表明: GH5605合金中的枝晶和元素偏析情况较轻, 主要偏析元素是Cr和W并在枝晶间处偏聚, 电渣锭中的主要析出相包括奥氏体、晶界M23C6以及晶内和晶界处的奥氏体与M23C6板条状共晶相.经1210℃/8 h扩散退火处理后枝晶和元素偏析基本消除, 共晶相基本回溶
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(In, Co)共掺的ZnO薄膜(ICZO薄膜)在100 ℃下通过射频(RF)溅射沉积至玻璃基板上。沉积过程采用In、Co、Zn三靶共溅射。通过调节靶功率,获得了不同In含量的ICZO薄膜。研究了不同In含量下薄膜电学性质和磁学性质的变化。分别使用扫描电子显微镜(SEM)、高分辨透射电子显微镜(HR-TEM)、原子力显微镜(AFM)、电子探针扫描(EPMA)、X射线衍射仪(XRD)、霍尔测试(Hall measurement)和振动样品磁强计(VSM)对薄膜的成分、形貌、结构、电学特性和磁学特性进行了表征和分析。详细分析了薄膜中载流子浓度对磁学性质的影响。实验结果表明,随着薄膜中In含量的提高,薄膜中载流子浓度显著提高,薄膜的导电性得到优化。所有的薄膜均表现出室温下的铁磁特性。与此同时,束缚磁极化子(BMP)模型与交换耦合效应两种不同的机制作用于ICZO半导体材料,致使薄膜的饱和磁化强度随载流子浓度发生改变,并呈现在三个不同的区域
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STM扫描隧道显微镜 功能: 1。主要功能:提供具有原子级分辩率的表面形貌。 2。另一种应用:可以作为谱学研究的工具
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第一章基本知识 透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、扫描透射电镜(stem、超高压电镜(UHVEM 第一节透射电镜 一、基本构造 (一)电子光学系统1电子抢2磁电子透镜3样品室4观察记录装置5真空系统
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词法分析是编译的第一个阶段,它的主要任务是从左至右逐个字符地对源程序进行扫描,产生一个个单词序列,用以语法分析。执行词法分析的程序称为词法分析程序或扫描程序
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一、直线段扫描转换 二、 圆弧扫描转换 三、实区域填充 四、图形反走样
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2009年新疆中考语文试题(扫描版)_2009年新疆中考真题——语文(扫描版)(无答案)
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2012年新人教版一年级上册数学第四单元认识图形测试卷扫描
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人教版小学数学一年级上册期末考试试卷扫描
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2008年山东省聊城市中考语文试题及答案_城市中考语文试题及答案(扫描版)
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