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上海华东大学:《近代光学信息处理》课程教学资源(PPT课件讲稿)第9章 光折变介质信息处理
文档格式:PPT 文档大小:329KB 文档页数:23
9.1 相位共轭和非线性介质中的相位共轭效应 9.2 光折变效应相位共轭器 9.3 用耦合波近似处理光折变晶体中的二波混频和四波混频效应 9.4 自泵浦相位共轭效应 9.5 互泵浦相位共轭及双色泵浦光折变振荡 9.6 利用图像对相位光栅的编码实现非相干光——干光转换 9.7 相位共轭在联合傅里叶变换相关识别中的应用 9.8 光折变非线性联合变换相关
《传感器技术》课程电子教案(PPT教学课件)第2章 光电式传感器
文档格式:PPT 文档大小:2.5MB 文档页数:114
将光量转换为电量的器件称为光电传感器或光 电元件。光电式传感器的工作原理是:首先把 被测量的变化转换成光信号的变化,然后通过 光电转换元件变换成电信号。光电传感器的工 作基础是光电效应
《仪器分析》第10章 红外吸收光谱法
文档格式:DOC 文档大小:103KB 文档页数:24
一、红外光区的划分及主要应用 红外光谱在可见光区和微波光区之间,其波数范围约为 12 800~10cm-1 (0.75~1 000μm)。根据仪器及应用不同,习惯上又将红外光区分为三个区:近 红外光区;中红外光区;远红外光区。每一个光区的大致范围及主要应用如表 10-1 所示
成都信息工程(成都信工学院):电子工业出版社《传感器与检测技术》教学资源(PPT课件)第4章 光电式传感器原理与应用(4.1)光电效应和光电器件
文档格式:PPT 文档大小:1.42MB 文档页数:45
外光电效应: 在光线作用下使物体的电子逸出表面的现象。 如光电管、光电倍增管 内光电效应: 在光线作用下能使物体电阻率改变的现象, 如光敏电阻等属于这类光电器件。 阻挡层光电效应(光生伏特效应): 在光线作用下能使物体产生一定方向的电动 势的现象
《光电子技术》课程教学资源(PPT课件讲稿)第二章 光辐射与光源
文档格式:PPT 文档大小:311KB 文档页数:64
§2.1 电磁波与光辐射 §2.2 光辐射的度量 §2.3 黑体辐射 §2.4 光源 §2.5 光源调制与旋光效应调制器
《光学》第五讲 基礎光學
文档格式:DOC 文档大小:22.5KB 文档页数:2
人類對光的研究,最初主要是研究“人怎麼能看見周圍的物體?狹義來說光學是關 於光和視見的科學, optics光學這個詞,早期只用於跟眼睛和視見相聯的事物。而 今天,常說的光學是廣義的,是研究從微波紅外線丶可見光紫外線直到Ⅹ射線的 寬廣波段範圍內的,關於電磁輻射的發生傳播接收和顯示,以及跟物質相互作用 的科學
基于样条函数的光滑支持向量机模型
文档格式:PDF 文档大小:476.32KB 文档页数:8
应用光滑函数改进支持向量机模型,得到无约束条件、可微的二次规划问题,从而可以采用快速的最优化算法求解光滑支持向量机模型.提出了一种广义三弯矩方法,用这个方法构造出新的五次样条光滑函数和七次样条光滑函数.证明了上述两个样条光滑函数的逼近精度均高于已有的各种光滑函数;基于上述两个样条函数的光滑支持向量机模型的收敛精度也高于已有的各种光滑支持向量机模型
华中科技大学:《大学物理》课程教学资源(PPT课件讲稿)第二十三章 光的偏振
文档格式:PPT 文档大小:1.06MB 文档页数:24
第二十三章光的偏振 23—1线偏振光和自然光 23—2利用选择吸收获得线偏振光 23—3利用反射获得线偏振光 23—4晶体的双折射 23—5椭圆和圆偏振光 23—6偏振光的干涉
纳米锰方硼石的合成与结构性能表征
文档格式:PDF 文档大小:1.02MB 文档页数:7
通过溶胶?凝胶(Sol?Gel)法成功合成了纳米锰方硼石并对其进行了稀土Eu3+掺杂。使用X射线衍射、透射电子显微镜和高分辨透射电子显微镜等表征了锰方硼石晶体结构,并通过荧光光谱测试对其发光性能进行了研究。结果表明:合成纳米锰方硼石为粒径小于50 nm的球状颗粒,与天然锰方硼石的物相结构相同,属于斜方晶系,与尖晶石类似,(010)晶面的晶面间距为0.8565 nm。在490 nm激发光激发下,天然锰方硼石、合成锰方硼石和稀土Eu3+掺杂锰方硼石晶体中的Mn2+发光,其中发绿光的Mn2+在晶体中占据四面体格位中心,发红光的Mn2+在晶体占据八面体格位中心。合成的锰方硼石随激发波长变长,产生发射光谱的红移现象,有利于实现冷暖发光转换;在稀土Eu3+掺杂的纳米锰方硼石光谱的发光强度得到了提升
《自然杂志》:超精密平面光学元件检测技术(周永昊、常林、何婷婷、于瀛洁)
文档格式:PDF 文档大小:7.08MB 文档页数:20
超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件,在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先,对超精密光学元件主要检测技术进行了综述,重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈;其次,针对光学检测技术中的相位解调问题,以波长移相测量技术为例,结合超精密平面光学元件检测,概述了相位解调算法的原理与实现过程,并对其性能进行综合评估;最后,展望光学元件检测技术的未来发展趋势
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