一、引言 二、单轴应力测定原理 三、面应力测定原理 四、试验方法 五、试验精度的保证及测试原理的适用条件

一、夫琅和费圆孔衍射 考虑一束平行光垂直照射孔面,如图1。设在孔面处的光振动为e,振幅为u,小孔上一面 元do,其坐标为(5,n),观察面离孔屏距离为z,上面一点P的坐标为(x,y),由于观察面离孔屏距

第五章选修实验 实验五动应力测量 一、实验目的 1、了解动态应变仪的工作原理,学习其使用方法 2、熟悉计算机数据采集实验操作过程 3、掌握现代动态电阻应变测试技术。 二、仪器设备 1、悬臂等强度梁实验台 2、D-3动态电阻应变仪或YD-15动态电阻应变仪; 3、计算机和打印机或SC-16示波器

第三章常用的传感器 3.1概述 3.2机械式传感器 3.3电阻式传感器 3.4电感式传感器 3.5电容式传感器 3.6压电式传感器 3.7其他传感器 3.9传动器的选用原则

电子衍射 电子衍射已成为当今研究物质微观结构的重要手段, 是电子显微学的重要分支。 电子衍射可在电子衍射仪或电子显微镜中进行。电子 衍射分为低能电子衍射和高能电子衍射,前者电子加 速电压较低(10~500V),电子能量低。电子的波动 性就是利用低能电子衍射得到证实的

第一章信号及其描述 第一节信号的分类与描述 第二节周期信号与离散频谱 第三节韭周期信号与连续频谱瞬变 第四节随机信号

任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状 态有关。 当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、 内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体 含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体 缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点 阵常数的工作有时是十分必要的

1895年伦琴发现X射线后,认为是一种波, 但无法证明。 当时晶体学家对晶体构造(周期性)也没 有得到证明。 1912年劳厄将X射线用于CuS04晶体衍射同时 证明了这两个问题,从此诞生了X射线晶体衍 射学

一 信号的分类 二 信号的描述 三 信号的时域统计分析 四 信号的幅值域分析 五 信号的频域描述(分析） 六 相关分析

3.4 信号的相关分析 3.4.1 相关系数 3.4.2 自相相关函数 3.4.3 互相相关函数 3.5 信号的功率谱分析 3.5.1 自功率谱密度函数——相关函数的富里叶变换 3.5.2 互功率谱密度函数 3.5.3 相干函数 3.6 数字信号分析 3.6.1 模拟信号离散化 3.6.2 离散Fourier变换（Discrete Fourier Transform, DFT) 3.6.3 快速Fourier变换（Fast Fourier Transform, FFT) 3.6.4 谱分析与谱估计