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电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第8、9章 内建自测试
文档格式：PDF　文档大小：3MB　文档页数：80
 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第4章 自动测试生成
文档格式：PDF　文档大小：1.73MB　文档页数：50
 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验二 集成逻辑门的参数测试
文档格式：DOC　文档大小：241KB　文档页数：4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验二 集成逻辑门的参数测试
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（2/3）
文档格式：DOC　文档大小：7.16MB　文档页数：4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（2/3）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（3/3）
文档格式：DOC　文档大小：9.35MB　文档页数：6
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（3/3）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验二 集成逻辑门的参数测试
文档格式：DOC　文档大小：241KB　文档页数：4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验二 集成逻辑门的参数测试
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（3/3）
文档格式：DOC　文档大小：9.35MB　文档页数：6
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（3/3）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（1/3）
文档格式：DOC　文档大小：9.08MB　文档页数：7
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（1/3）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（2/3）
文档格式：DOC　文档大小：7.16MB　文档页数：4
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（2/3）
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试
文档格式：DOC　文档大小：19.5KB　文档页数：2
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试
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