实验一 常用电子仪器的使用 实验二 用multisim软件进行网络定理验证 实验三 电子元器件参数测试及交流特性分析 实验四 一阶电路时域响应的研究 实验五 交流电路认识及参数测试 实验六 交流控制电路设计 实验七 RLC电路频率特性测试及谐振电路分析

10.1数据库系统实施与支持概述 10.2数据库的实施与维护 10.2.1数据库的实施 10.2.2数据库的运行与维护 10.3数据库系统的应用程序设计 10.3.1程序设计语言的选择 10.3.2编码风格 10.4系统测试 10.4.1测试的方法与技术 10.4.2测试的步骤 10.5运用 Powerdesigner建立数据库 10.5.1PDM中的用户管理 10.5.2使用ODBC访问数据库 10.5.3生成数据库 10.6应用实例

一、EMC/EMI问题 二、MC/EMI问题,不仅仅是能否 三、通过EMC测试的问题

第一卷驱动程序编写者指南 第1章驱动程序开发环境 第2章测试驱动程序

① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（数字电路实验）实验二 集成逻辑门的参数测试

《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（2/3）

《数字电路与逻辑设计》课程实验指导（可编程逻辑实验）实验一 TTL门电路的逻辑变换及测试（3/3）