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实验一 常用电子仪器的使用 1 实验二 单级放大电路 6 实验三 射极跟随器 10 实验四 集成运算放大器的应用 13 实验五 门电路逻辑功能及测试 18 实验六 组合逻辑电路 24 实验七 数字电子秒表 27 附 录 常用数字集成电路引脚图 32

4.5.1集成运放基本使用知识 一、集成电路器件命名及主要性能指标 1.国标GB-3430-82对集成电路的规定

2.3.1 Verilog语言的基本语法规则 2.3.2 变量的数据类型 2.3.3 Verilog程序的基本结构 2.3.4 逻辑功能的仿真与测试

4.1 电阻、电感和电容的测量 4.2 半导体二极管、三极管与场效应管的测量 4.3 集成电路的测试

在最近20多年的时间内，扫描电子显微镜 发展迅速，又综合了X射线分光谱仪、电子 探针以及其它许多技术而发展成为分析型 的扫描电子显微镜，仪器结构不断改进， 分析精度不断提高，应用功能不断扩大， 越来越成为众多研究领域不可缺少的工具， 目前已广泛应用于冶金矿产、生物医学、 材料科学、物理和化学等领域

1.加深理解电压串联负反馈对放大器性能的改善作用； 2.熟悉放大器性能指标的测试

1.进行一步理解 OTL 功率放大器的工作原理。 2.学会 OTL 电路的调试及主要性能指标的测试方法

目录 第一部分实验基础知识 一.实验的基本过程 二.实验操作规范和故障检查方法 三数字集成电路概述、特点及使用须知 四.数字逻辑电路的测试方法

1.熟悉单门限电压比较器、迟滞比较器的电路组成特点。 2.了解比较器的应用及测试方法