在实际问题中,一组数据往往具有不同的数据类型 例如,在学生登记表中,姓名应为字符型;学号可 为整型或字符型;年龄应为整型;性别应为字符型; 成绩可为整型或实型。因为一个数组中只能存放同 一种数据类型的数据,故不能用一个数组来存放这 一组数据;如单独定义为互相独立的简单变量,难 以反映它们之间的内在联系

1.课程性质及教学目的 《微型计算机原理与接口技术》是学习微型 计算机基本知识和应用技能的重要课程。本课程 帮助学生掌握微型计算机的硬件组成及使用;学 会运用指令系统和汇编语言进行程序设计;熟悉 各种典型的接口芯片和接口技术及其具体应用, 为后继计算机课程的学习及工程实际应用打好基 础

代数结构的主要研究对象是各种各样的代数系 统，即具有一些元运算的集合,本章介绍的群就 是具有一个二元运算的代数系统. 本章以群为例讨论代数结构，它的思想和方 法已经渗透到现代科学的许多分支、它的结果 已应用到计算机的不少方面，因此计算机科学 工作者应初步掌握其基本的理论和方法. 读者通过对群的学习应初步掌握对代数系统研 究的一般方法，从简单到复杂、从具体到一般

第4章 VB控制结构 4.1 顺序结构 4.2 选择结构 4.3 循环结构 4.4 其它辅助控制语句 4.5 综合应用 4.6 程序调试 第5章 数组和自定义类型 5.1 数组的概念 5.2 数组的基本操作和排序 5.3 列表框和组合框控件 5.4 自定义类型及其数组 5.5 综合应用 第六章 过程 6.1 函数过程的定义与调用 6.2 子过程的定义与调用 6.3 参数传递 6.4 递归 6.5 综合应用

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第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

教学目的 本节介绍积分的一些基本性质, 包括积分的线性性质, 积分 的不等式性质和积分的绝对连续性等. 这些性质都没有涉及到积分号下取极 限的问题, 积分取极限的性质讲在下一节介绍. 本节要点 一般测度空间上的积分,除了具有一些与经典积分类似的性 质外,还具有一些新的性质.应注意比较.学习本节的内容, 除了应了解积分的 基本性质外, 还应注意掌握一些基本的证明技巧

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7-1含有长度为2a的型贯穿裂纹的无限大平板,材料为30 0CrMnSiNiA,在远离裂纹处受均匀 拉应力作用,如图7-11所示。已知材料的平面应变断裂韧度K1=(84MPa)m,裂纹的临界 长度a=8.98mm。试求裂纹发生失稳扩展时的拉应力σ值