一.水准仪轴线的几何关系 水准仪轴线应满足的几何条件是: 1.水准管轴LL//视准轴CC 2.圆水准轴LL//竖轴V 3.横丝要水平(即:⊥竖轴VV)

第7章角度测量 7.1概述 7.2测角方法及其比较 7.3天线波束的扫描方法 74三坐标雷达 7.5自动测角的原理和方法

一.频率测量的重要性 1.频率是雷达功能和用途的反映。 2.频率是选择分选和识别雷达信号的重要参数。 3.频率对准是有效干扰的有效保证

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

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2.1 信号时域特征的获取方法 2.2 信号与数据的插值方法及实现 2.3 信号与数据的拟合方法及实现 2.4 数值微分和数值积分及实现 2.5 时域信号的平滑与建模方法及实现 2.6 MATLAB在时域分析与处理中的应用

惠普公司的电子商务战略 一、惠普公司简介 惠普公司( ( hewlett-packard, www. hp.com)-packard,www.hp.com)是一家电子产品、测量系统、计算机系统 及通信系统的设计、制造和服务供应商,服务范围涉及工业、商业、工程、科学、医学及 教育等多个领域。惠普的经营宗旨是:促进科技知识进步,提高生产和工作效率。惠普的 产品包括计算机、计算机外围设备、电子测试测量仪及系统、网络产品、电子医疗设备、 化学分析仪器及系统、计算机以及元件等,共达29000种之多

3.1概述 测量电磁波信号的等相位波前 目的 1.信号分选识别 2.引导干扰机 3.引导武器系统 4.威胁告警 5.辐射源定位,确定威胁雷达在空间中的位置

第6章目标距离的测量 6.1脉冲法测距 6.2调频法测距 6.3距离跟踪原理 6.4数字式自动测距器

第一节 电位分析法 Potentiometry 电位分析法基本原理 Fundamentals of potentiometry 参比电极 Reference electrodes 指示电极及离子选择电极 Indicator and ion selective electrodes 仪器及电动势测量 Instrumentation and measurement of cell electromotive force (e.m.f) 第二节 电导分析法 Conductometric analysis 四、电导分析法及应用 二、电导分析法的基本原理 一、概述 三、溶液电导的测量