扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM )之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或 透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照 明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描 方式照射到试样上,产生各种与试样性质有 关的信息,然后加以收集和处理从而获得微 观形貌放大像

第一节 物相分析 第二节 点阵常数的精确计算 第三节 宏观应力的测量（选学） 第四节 晶体取向的测定（选学）

第一节 扫描电子显微镜（SEM）工作原理及构造 第二节 像衬原理与应用 第三节 电子探针X射线显微分析（EPMA）

本课程以周玉等编著的《材料分析测试 技术—材料X射线衍射与电子显微分析 为基本教材,其它可参考下列教材: 李树棠,晶体X射线学,1990,冶金工业

第一节 工作原理及构造* 第二节 样品制备 第三节 基本成像操作及相衬度* 第五节典型应用*及其他功能简介

第一节 电子衍射原理 电子衍射基本公式* 、多晶衍射原理与衍射花样特征、多晶衍射花样的标定、单晶电子衍射成像原理与花样特征、单晶电子衍射花样的标定 第二节 低能电子衍射 单晶表面原子排列与二维点阵、低能电子衍射原理、应用

第一节 基本原理 第二节 傅立叶变换红外光谱仪 第三节 傅立叶变换红外图谱的解析及应用 Fourier transform infrared spectrum (FTIR)

第一节 基本原理 一、有机、无机化合物的电子光谱 1、含、和n电子的吸收谱带 四大跃迁、名词解释、典型吸收带 2、含d和f电子的吸收谱带 3、电荷转移吸收谱带 二、吸收定律 第二节 紫外－可见分光光度计 第三节 紫外-可见吸收光谱法的应用

实验一 炉温控制与仪表 实验二 热电偶校准及误差 实验三 金属的无损检测 实验四 砼的无损检测 实验五 材料的弹性模量和泊松比 实验六 材料的粒度分析

1、了解磁粉检测、渗透检测和超声波检测的基本原理。 2、初步掌握磁粉检测、渗透检测和超声波检测的操作方法