光谱分析方法(Spectrometry)是基于电磁辐射 与物质相互作用产生的特征光谱波长与强度进行 物质分析的方法。 ·它涉及物质的能量状态、状态跃迁以及跃迁强度 等方面。通过物质的组成、结构及内部运动规律 的研究,可以解释光谱学的规律;通过光谱学规 律的研究,可以揭示物质的组成、结构及内部运 动的规律。 ·光谱分析方法包括各种吸收光谱分析和发射光谱 分析法以及散射光谱(拉曼散射谱)分析法(本 书未介绍拉曼光谱)

光学显微镜的发明为人类认识微观世界提供了 重要的工具。随着科学技术的发展,光学显微 镜因其有限的分辨本领而难以满足许多微观分 析的需求。上世纪30年代后,电子显微镜的发 明将分辨本领提高到纳米量级,同时也将显微 镜的功能由单一的形貌观察扩展到集形貌观察 、晶体结构、成分分析等于一体。人类认识微 观世界的能力从此有了长足的发展

第一章Ⅹ射线的性质 第二章X射线衍射 第三章多晶体分析方法 第四章Ⅹ射线衍射应用

一、㐅射线衍射方法 粉末多晶法

第一节热分析的定义及发展概况 1.热分析, thermal analysis:顾名思义,可以解释为 以热进行分析的一种方法。 2.1977年在日本京都召开的国际热分析协会(ICTA) 第七次会议上,给热分析下了如下定义:即热分析是 在程序控制温度下,测量物质的物理性质与温度的关 系的一类技术

透射电子显微镜成像时,电子束是透过样 品成像。由于电子束的穿透能力比较低, 用于透射电子显微镜分析的样品必须很薄 根据样品的原子序数大小不同,一般在 50~500nm之间。制备透射电子显微镜分析 样品的方法很多,这里介绍几种常用的制 样方法

一、同步辐射技术 二、表面分析技术 三、核物理测试技术 四、其它分析测试技术

任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状 态有关。 当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、 内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体 含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体 缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点 阵常数的工作有时是十分必要的

扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM )之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或 透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照 明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描 方式照射到试样上,产生各种与试样性质有 关的信息,然后加以收集和处理从而获得微 观形貌放大像

本课程以周玉等编著的《材料分析测试 技术—材料X射线衍射与电子显微分析 为基本教材,其它可参考下列教材: 李树棠,晶体X射线学,1990,冶金工业