《材料分析测试技术》课程教案 根据大纲要求《材料分析测试技术》课程学时64,分配如下: 1、课时学时分配 讲课 52学时 绪论 第一章X射线的性质 第二章X射线衍射 第三章多晶体分析方法 第四章Ⅹ射线衍射应用 第五章透射电子显微镜 64646 第六章电子衍射 第七章晶体薄膜衍射成像分析 第八章扫描电子显微镜与电子探针 第九章光谱分析简介 第十章其它显微分析方法简介 2.实验学时: 12学时 1.德拜相机与德拜相,立方晶系粉未相指标化。2学时 2.衍射仪结构与实验 3.物相分析 4.透射电子显微镜结构与工作原理 222 5.选区电子衍射及明、暗场成像 6.扫描电子显微镜及电子探针
1 《材料分析测试技术》课程教案 根据大纲要求《材料分析测试技术》课程学时 64，分配如下： 1、课时学时分配 讲课 52 学时 绪论 2 第一章 X 射线的性质 4 第二章 X 射线衍射 6 第三章 多晶体分析方法 4 第四章 X 射线衍射应用 6 第五章 透射电子显微镜 4 第六章 电子衍射 6 第七章 晶体薄膜衍射成像分析 6 第八章 扫描电子显微镜与电子探针 6 第九章 光谱分析简介 4 第十章 其它显微分析方法简介 4 2. 实验学时： 12 学时 1. 德拜相机与德拜相， 立方晶系粉末相指标化。 2 学时 2. 衍射仪结构与实验 2 3. 物相分析 2 4. 透射电子显微镜结构与工作原理 2 5. 选区电子衍射及明、暗场成像 2 6. 扫描电子显微镜及电子探针 2
第一次课教学内容 绪论(50分钟) 介绍材料分析测试技术在材料科学研究中的作用和应用,介绍材料分析测试 方法的发展历史,让同学在了解了开设本门课程的意义后,激发同学们对材料分 析方法的喜爱,对这们科学的向往 第一章X射线的性质 X射线在电磁波谱中的波段,(5分钟)X射线的本质;(10分钟) X射线产生条件及X射线管;(35分钟) 简要介绍Ⅹ射线诞生和发展历史。讲解电磁波谱及Ⅹ射线的波长范围。介 绍Ⅹ射线的性质和本质。详细讲解Ⅹ射线产生条件及Ⅹ射线管的构造。本节重 点是Ⅹ射线产生条件及X射线管部分的内容,难点是从物理本质上认识Ⅹ射线 的产生机制。 第二次课教学内容: Ⅹ射线谱,连续谱(20分钟),特征谱产生机理(30分钟 X射线与物质的相互作用(5分钟),相干散射(5分钟),非相干散射(10分钟), X射线的吸收(15分钟),吸收系数(5分钟),吸收限(10分钟), Ⅹ射线谱连续谱和特征谱产生机理是本节重点讲解的内容。要讲清楚X射线 连续谱,特征谱的物理本质,产生机理,作用和特征谱的命名方法等。X射线与 物质的相互作用是另一个重点,X射线与物质的相互作用产生散射和吸收是现 象,其内在的物理过程和本质必须讲透彻。难点是电子、X射线与物质的原子及
2 第一次课教学内容： 绪论（50 分钟） 介绍材料分析测试技术在材料科学研究中的作用和应用，介绍材料分析测试 方法的发展历史，让同学在了解了开设本门课程的意义后，激发同学们对材料分 析方法的喜爱，对这们科学的向往。 第一章X 射线的性质 X 射线在电磁波谱中的波段，（5 分钟） X 射线的本质；（10 分钟） X 射线产生条件及 X 射线管；（35 分钟） 简要介绍 X 射线诞生和发展历史。讲解电磁波谱及 X 射线的波长范围。介 绍 X 射线的性质和本质。详细讲解 X 射线产生条件及 X 射线管的构造。本节重 点是 X 射线产生条件及 X 射线管部分的内容，难点是从物理本质上认识 X 射线 的产生机制。 第二次课教学内容： X 射线谱，连续谱（20 分钟），特征谱产生机理（30 分钟）； X 射线与物质的相互作用（5 分钟），相干散射（5 分钟），非相干散射（10 分钟）， X 射线的吸收（15 分钟），吸收系数（5 分钟），吸收限（10 分钟）， X 射线谱连续谱和特征谱产生机理是本节重点讲解的内容。要讲清楚 X 射线 连续谱，特征谱的物理本质，产生机理，作用和特征谱的命名方法等。X 射线与 物质的相互作用是另一个重点，X 射线与物质的相互作用产生散射和吸收是现 象，其内在的物理过程和本质必须讲透彻。难点是电子、X 射线与物质的原子及
原子核外的电子相互作用的物理过程和本质。 第三次课教学内容: Ⅹ射线衰减规律及其在实际中的应用(15分钟),选靶与滤波片(25分钟 X射线的防护(10分钟 第二章X射线衍射方向 晶体几何学(25分钟),布拉格方程与讨论(25分钟); 本节课程着重讲解Ⅹ射线与物质的相互作用后的强度衰减,这是Ⅹ射线与 物质的相互作用的宏观表现,是Ⅹ射线透射学基础。讲清楚线吸收系数和质量 吸收系数的区别和作用;X射线与物质的相互作用产生真吸收的本质可以帮助我 们进行选靶与滤波片的选择,这也是Ⅹ射线光谱学的基础。 晶体几何学在前面课程已经讲过,这里是复习。布拉格方程与讨论是重点讲授内 容。分析比较散射和衍射的异同,讨论布拉格方程。 本节的难点是应用强度衰减公式解决实际问题和对布拉格方程的理解。 第四次课教学内容: 倒易点阵(10分钟),定义与性质(30分钟),衍射矢量方程(10分钟); *爱瓦尔德图解(25分钟) 三种衍射方法(10分钟 第三章X射线衍射强度 一个电子的衍射强度(15分钟), 本节课程重点讲解倒易点阵的概念、定义与性质,这是本节的难点。讲清楚
3 原子核外的电子相互作用的物理过程和本质。 第三次课教学内容： X 射线衰减规律及其在实际中的应用（15 分钟），选靶与滤波片（25 分钟）。 X 射线的防护（10 分钟）。 第二章X 射线衍射方向 晶体几何学（25 分钟），布拉格方程与讨论（25 分钟）； 本节课程着重讲解 X 射线与物质的相互作用后的强度衰减，这是 X 射线与 物质的相互作用的宏观表现，是 X 射线透射学基础。讲清楚线吸收系数和质量 吸收系数的区别和作用；X 射线与物质的相互作用产生真吸收的本质可以帮助我 们进行选靶与滤波片的选择，这也是 X 射线光谱学的基础。 晶体几何学在前面课程已经讲过，这里是复习。布拉格方程与讨论是重点讲授内 容。分析比较散射和衍射的异同，讨论布拉格方程。 本节的难点是应用强度衰减公式解决实际问题和对布拉格方程的理解。 第四次课教学内容： *倒易点阵（10 分钟），定义与性质（30 分钟），衍射矢量方程（10 分钟）； *爱瓦尔德图解（25 分钟）； 三种衍射方法（10 分钟）。 第三章X 射线衍射强度 一个电子的衍射强度（15 分钟）， 本节课程重点讲解倒易点阵的概念、定义与性质，这是本节的难点。讲清楚
倒易点阵对后续课程致关重要,所以要通过正空间的复习、通过举例等方法使同 学建立倒空间的概念。其次讲清楚衍射矢量方程对讲解爱瓦尔德图解是很重要 的,这里要将倒空间的概念、布拉格方程和爱瓦尔德球联系起来讲,建立空间入 射和衍射的空间思维。三种衍射方法的讲解进一步加深同学对上述问题的理解。 本节的重中之重的问题是建立空间入射和衍射的空间思维及其与倒空间的联系。 第五次课教学内容: 个原子的衍射强度(15分钟),一个晶胞的衍射强度与结构因子(35分钟); 多晶体衍射强度(50分钟) 通过一个电子的衍射强度、—个原子的衍射强度、一个晶胞的衍射强度、 个晶体的衍射强度和多个晶体的衍射强度循序渐进地导出多晶体衍射强度。重点 讲清楚结构因子,也就是原子种类及其在晶胞中位置对衍射强度的影响,同时讲 清楚实际衍射中多晶Ⅹ射线衍射强度是多个晶体的衍射强度的集合,而每个晶 体的衍射强度又是多个晶胞的衍射强度的集合等等。本节重点是一个晶胞的衍射 强度与结构因子的内容。 第六次课教学内容: 多重性因子(10分钟),罗仑兹因子(10分钟),吸收因子(10分钟),温度因 子(10分钟),粉未衍射强度(10分钟); 积分强度(15分钟),总结(35分钟 上节课循序漸进地导出多晶体衍射强度,但是实际衍射强度还受多种因素影 响。讲清楚这些影响因素的影响机理,最后给岀最终的积分强度和相对强度
4 倒易点阵对后续课程致关重要，所以要通过正空间的复习、通过举例等方法使同 学建立倒空间的概念。其次讲清楚衍射矢量方程对讲解爱瓦尔德图解是很重要 的，这里要将倒空间的概念、布拉格方程和爱瓦尔德球联系起来讲，建立空间入 射和衍射的空间思维。三种衍射方法的讲解进一步加深同学对上述问题的理解。 本节的重中之重的问题是建立空间入射和衍射的空间思维及其与倒空间的联系。 第五次课教学内容： 一个原子的衍射强度（15 分钟），一个晶胞的衍射强度与结构因子（35 分钟）； 多晶体衍射强度（50 分钟）， 通过一个电子的衍射强度、一个原子的衍射强度、一个晶胞的衍射强度、一 个晶体的衍射强度和多个晶体的衍射强度循序渐进地导出多晶体衍射强度。重点 讲清楚结构因子，也就是原子种类及其在晶胞中位置对衍射强度的影响，同时讲 清楚实际衍射中多晶 X 射线衍射强度是多个晶体的衍射强度的集合，而每个晶 体的衍射强度又是多个晶胞的衍射强度的集合等等。本节重点是一个晶胞的衍射 强度与结构因子的内容。 第六次课教学内容： 多重性因子（10 分钟），罗仑兹因子（10 分钟），吸收因子（10 分钟），温度因 子（10 分钟），粉末衍射强度（10 分钟）； 积分强度（15 分钟），总结（35 分钟）。 上节课循序渐进地导出多晶体衍射强度，但是实际衍射强度还受多种因素影 响。讲清楚这些影响因素的影响机理，最后给出最终的积分强度和相对强度
讲完前面内容后将Ⅹ射线衍射方向和强度问题结合起来,强调Ⅹ射线衍射 方向取决于晶体的大小和类型,X射线衍射强度则取决于晶体中原子位置与种 类。因此Ⅹ射线衍射方向和强度的结合才能分析被测物质的晶体学内容。阐述 这些是本节的重点。本节的难点是形状因子和多重性因子,罗仑兹因子,吸收因 子,温度因子对强度影响的机制。 第七次课教学内容: 第四章多晶体分析方法 粉末照相法(德拜照相法)(65分钟); X射线衍射仪法(35分钟); 德拜照相法是传统的Ⅹ射线衍射方法。本节课在介绍德拜相机后着重讲述 德拜照相法对试样的要求、德拜照相法中底片安装方法及其作用、德拜照相法对 辐射的要求、底片上2θ角和衍射线的强度测量、德拜照相法的衍射花样的分析 标定。 对于衍射仪法,重点讲解的是测角仪的工作原理包括测角仪圆和聚焦圆,重 点讲解影响衍射仪法测量精度的因素(试样、辐射参数、狭缝光栏和接受光栏的 宽度、扫描速度、时间常数等)难点是测角仪的工作原理包括测角仪圆和聚焦 圆。 第八次课教学内容: 衍射仪的测量方法与实验参数,(15分钟)衍射线的指标化(35分钟); 点阵常数测量中的误差来源(25分钟),点阵常数的精确测定(25分钟)
5 讲完前面内容后将 X 射线衍射方向和强度问题结合起来，强调 X 射线衍射 方向取决于晶体的大小和类型，X 射线衍射强度则取决于晶体中原子位置与种 类。因此 X 射线衍射方向和强度的结合才能分析被测物质的晶体学内容。阐述 这些是本节的重点。本节的难点是形状因子和多重性因子，罗仑兹因子，吸收因 子，温度因子对强度影响的机制。 第七次课教学内容： 第四章多晶体分析方法 粉末照相法（德拜照相法）（65 分钟）； X 射线衍射仪法（35 分钟）； 德拜照相法是传统的 X 射线衍射方法。本节课在介绍德拜相机后着重讲述 德拜照相法对试样的要求、德拜照相法中底片安装方法及其作用、德拜照相法对 辐射的要求、底片上 2θ角和衍射线的强度测量、德拜照相法的衍射花样的分析 标定。 对于衍射仪法，重点讲解的是测角仪的工作原理包括测角仪圆和聚焦圆，重 点讲解影响衍射仪法测量精度的因素（试样、辐射参数、狭缝光栏和接受光栏的 宽度、扫描速度、时间常数等）。难点是测角仪的工作原理包括测角仪圆和聚焦 圆。 第八次课教学内容： 衍射仪的测量方法与实验参数，（15 分钟）衍射线的指标化（35 分钟）； 点阵常数测量中的误差来源（25 分钟），点阵常数的精确测定（25 分钟）
本节继续讲述衍射仪的测量方法与实验参数,重点讲解衍射线的指标化方 法。主要讲述面心立方晶体的衍射线的指标化,简要介绍四方和六方晶体的衍射 线的指标化。其中难点是衍射花样的分析标定,而这一工作对后续课程也有重要 的影响,务必讲清楚。 点阵常数的精确测定主要讲解点阵常数测量中的误差来源及其主要影响因 素和消除误差的方法。难点是消除误差方法的数学处理技术,通过例题解决这 问题 第九次课教学内容 第五章X射线物相分析 定性分析的原理和分析思路(15分钟); 粉末衍射卡的组成(25分钟); PDF卡片的索引(25分钟); 物相定性分析方法(35分钟 本次课讲述Ⅹ射线物相分析中的定性分析原理、解决的途径、粉未衍射卡 的组成和索引书的使用方法、定性分析的程序。重点是粉末衍射卡的组成和索引 书的使用方法、定性分析的程序。难点是多物相的衍射花样的物相定性分析方法。 可以通过例题详细介绍多物相的衍射花样的物相定性分析中的注意事项和过程, 为未来的实际应用奠定基础 第十次课教学内容: 物相定量分析方法(50分钟
6 本节继续讲述衍射仪的测量方法与实验参数，重点讲解衍射线的指标化方 法。主要讲述面心立方晶体的衍射线的指标化，简要介绍四方和六方晶体的衍射 线的指标化。其中难点是衍射花样的分析标定，而这一工作对后续课程也有重要 的影响，务必讲清楚。 点阵常数的精确测定主要讲解点阵常数测量中的误差来源及其主要影响因 素和消除误差的方法。难点是消除误差方法的数学处理技术，通过例题解决这一 问题。 第九次课教学内容： 第五章X 射线物相分析 定性分析的原理和分析思路（15 分钟）； 粉末衍射卡的组成（25 分钟）； PDF 卡片的索引（25 分钟）； 物相定性分析方法（35 分钟） 本次课讲述 X 射线物相分析中的定性分析原理、解决的途径、粉末衍射卡 的组成和索引书的使用方法、定性分析的程序。重点是粉末衍射卡的组成和索引 书的使用方法、定性分析的程序。难点是多物相的衍射花样的物相定性分析方法。 可以通过例题详细介绍多物相的衍射花样的物相定性分析中的注意事项和过程， 为未来的实际应用奠定基础。 第十次课教学内容： 物相定量分析方法（50 分钟）
第六章宏观应力测定 X射线应力测定原理(25分钟),单轴应力测定原理(25分钟), 本节介绍物相定量分析方法,包括物相定量分析原理、外标法、内标法和直 接比较法。重点是物相定量分析原理和直接比较法,难点是物相定量分析方法的 原理推导和各种方法中的具体使用。 Ⅹ射线应力测定讲解残余应力的分类和范围、Ⅹ射线应力测定的特点和方法 概论、介绍单轴应力的测定原理。这一节中的难点是单轴应力测定原理 第十一次课教学内容: 平面应力测定原理(50分钟); 实验方法(10分钟),衍射仪法(25分钟),应力仪法(15分钟) 继上次课单轴应力测定原理的介绍,着重讲述和推导平面应力测定原理。通 过平面应力测定原理的推导得到Ⅹ射线宏观应力测定的基本公式,通过衍射仪 和应力仪两个仪器的具体应用讲解X射线宏观应力测定的方法及其区别与特点。 本次课程的难点是涉及一些弹性力学的知识,要用弹性力学的知识结合Ⅹ射线 衍射的特点推导许多公式。讲课中力求删繁就简,深入浅出讲清原理。 第十二次课教学内容: 实验精度的保证及测试原理的适用条件(50分钟) 第七章电子光学基础 电子波与电磁透镜;(50分钟) 本节课首先讲完Ⅹ射线宏观应力测定中测试原理的适用条件,保证实验精
7 第六章宏观应力测定 X 射线应力测定原理（25 分钟），单轴应力测定原理（25 分钟）， 本节介绍物相定量分析方法，包括物相定量分析原理、外标法、内标法和直 接比较法。重点是物相定量分析原理和直接比较法，难点是物相定量分析方法的 原理推导和各种方法中的具体使用。 X 射线应力测定讲解残余应力的分类和范围、X 射线应力测定的特点和方法 概论、介绍单轴应力的测定原理。这一节中的难点是单轴应力测定原理。 第十一次课教学内容： 平面应力测定原理（50 分钟）； 实验方法（10 分钟），衍射仪法（25 分钟），应力仪法（15 分钟） 继上次课单轴应力测定原理的介绍，着重讲述和推导平面应力测定原理。通 过平面应力测定原理的推导得到 X 射线宏观应力测定的基本公式，通过衍射仪 和应力仪两个仪器的具体应用讲解 X 射线宏观应力测定的方法及其区别与特点。 本次课程的难点是涉及一些弹性力学的知识，要用弹性力学的知识结合 X 射线 衍射的特点推导许多公式。讲课中力求删繁就简，深入浅出讲清原理。 第十二次课教学内容： 实验精度的保证及测试原理的适用条件（50 分钟） 第七章电子光学基础 电子波与电磁透镜；（50 分钟） 本节课首先讲完 X 射线宏观应力测定中测试原理的适用条件，保证实验精
度的前提下的注意事项。重点总结Ⅹ射线衍射在材料科学中的实际应用:点阵 常数的精确测定,Ⅹ射线物相分析和Ⅹ射线宏观应力测定。告诉同学Ⅹ射线衍 射的实际应用并非这些,还可以用于Ⅹ射线衍射测定晶体的织构等,未来实践 中还要参阅更多的文献资料。 电镜课程的开始应介绍电子显微学的发展及其作用与意义,然后介绍电子 波、透镜的分辨率概念和电磁透镜,难点是分辨率概念、电磁透镜的构成与电子 在透镜中的运动及其轨迹 本次课程的重点是Ⅹ射线篇的总结与电镜篇的开篇。注意承上启下。 第十三次课教学内容: 电磁透镜的像差与分辨本领(30分钟) 电磁透镜的景深与焦长(20分钟) 第八章透射电子显微镜 透射电子显微镜的结构与成像原理(20分钟),照明系统(15分钟),成像系统 (10分钟),观察记录系统(5分钟); 本次课程重点讲清楚电磁透镜的像差类型、像差与分辨本领的关系分辨本 领与放大倍数的关系。讲述电磁透镜的景深与焦长在电子显微分析中作用和意 义,以及与成像质量的关系。在透射电子显微镜的结构与成像原理的介绍结合实 际的透射电子显微镜讲,重点讲解照明系统和成像系统的构成与原理,以及这两 个系统的优劣对整个电镜的影响。难点是分辨本领与像差的关系和成像系统中的 光路图
8 度的前提下的注意事项。重点总结 X 射线衍射在材料科学中的实际应用：点阵 常数的精确测定，X 射线物相分析和 X 射线宏观应力测定。告诉同学 X 射线衍 射的实际应用并非这些，还可以用于 X 射线衍射测定晶体的织构等，未来实践 中还要参阅更多的文献资料。 电镜课程的开始应介绍电子显微学的发展及其作用与意义，然后介绍电子 波、透镜的分辨率概念和电磁透镜，难点是分辨率概念、电磁透镜的构成与电子 在透镜中的运动及其轨迹。 本次课程的重点是 X 射线篇的总结与电镜篇的开篇。注意承上启下。 第十三次课教学内容： 电磁透镜的像差与分辨本领（30 分钟） 电磁透镜的景深与焦长（20 分钟） 第八章透射电子显微镜 透射电子显微镜的结构与成像原理（20 分钟），照明系统（15 分钟），成像系统 （10 分钟），观察记录系统（5 分钟）； 本次课程重点讲清楚电磁透镜的像差类型、像差与分辨本领的关系，分辨本 领与放大倍数的关系。讲述电磁透镜的景深与焦长在电子显微分析中作用和意 义，以及与成像质量的关系。在透射电子显微镜的结构与成像原理的介绍结合实 际的透射电子显微镜讲，重点讲解照明系统和成像系统的构成与原理，以及这两 个系统的优劣对整个电镜的影响。难点是分辨本领与像差的关系和成像系统中的 光路图
第十四次课教学内容: 主要部件(测角器、样品杆、消像散器、光栏)的结构与工作原理(30分钟); 透射电子显微镜的分辨率和放大倍数测定(20分钟) 第九章复型技术 概述;(20分钟) 一级复型、二级复型、萃取复型;(30分钟 本次课程介绍透射电镜的主要部件(测角器、样品杄、消像散器、光栏)的 结构与工作原理和透射电子显微镜的分辨率和放大倍数测定。这部分的重点是分 辨率和放大倍数测定方法。难点是晶格分辨率和点分辨率的概念 关于复型技术着重讲清楚它的发展过程和现在在电子显微分析工作中作用 和地位。介绍一级复型、二级复型、萃取复型技术的具体制作过程,重点讲述萃 取复型技术在电子显微分析工作中的作用 第十五次课教学内容: 质厚衬度原理(20分钟) 复型技术在材料研究方面的应用(金相分析、断口分析)(25分钟 粉末样品制备(5分钟) 第十章电子衍射 电子衍射与Ⅹ射线衍射的比较(20分钟); 电子衍射原理,布拉格方程、(30分钟) 介绍与推导复型技术中质厚衬度原理,既从小孔成像的散射截面的角度讲, 也从物质对电子的吸收角度讲。在讲复型技术在材料研究方面的应用时既介绍它
9 第十四次课教学内容： 主要部件（测角器、样品杆、消像散器、光栏）的结构与工作原理（30 分钟）； 透射电子显微镜的分辨率和放大倍数测定（20 分钟） 第九章复型技术 概述；（20 分钟） 一级复型、二级复型、萃取复型；（30 分钟） 本次课程介绍透射电镜的主要部件（测角器、样品杆、消像散器、光栏）的 结构与工作原理和透射电子显微镜的分辨率和放大倍数测定。这部分的重点是分 辨率和放大倍数测定方法。难点是晶格分辨率和点分辨率的概念。 关于复型技术着重讲清楚它的发展过程和现在在电子显微分析工作中作用 和地位。介绍一级复型、二级复型、萃取复型技术的具体制作过程，重点讲述萃 取复型技术在电子显微分析工作中的作用。 第十五次课教学内容： 质厚衬度原理（20 分钟） 复型技术在材料研究方面的应用（金相分析、断口分析）（25 分钟）。 粉末样品制备（5 分钟） 第十章电子衍射 电子衍射与 X 射线衍射的比较（20 分钟）； 电子衍射原理，布拉格方程、（30 分钟） 介绍与推导复型技术中质厚衬度原理，既从小孔成像的散射截面的角度讲， 也从物质对电子的吸收角度讲。在讲复型技术在材料研究方面的应用时既介绍它
的优点也指出这种方法的局限性。结合纳米材料介绍粉末样品的具体制备方法。 重点讲述电子衍射与X射线衍射的异同点,通过分析比较讲述各自的特点。 讲解电子衍射原理,回顾复习布拉格方程,点岀布拉格方程在电子衍射中的应用 特点,强调与Ⅹ射线衍射时的不同之处 第十六次课教学内容: 倒易点阵(10分钟)偏离矢量(20分钟)电子衍射基本公式(20分钟); 电子显微镜中的电子衍射(10分钟),有效相机常数(10分钟),选区衍射(15 分钟),磁偏转角(15分钟); 复习倒易点阵的概念及性质。重点讲述电子衍射的特别之处:偏离矢量。讲 解和证明电子衍射基本公式。回顾第八次课中介绍的成像系统的光路图,讲解电 子显微镜中的电子衍射、有效相机常数、选区衍射的概念。重点讲述选区衍射的 作用和意义。讲清楚磁偏转角的概念和测量校正方法,指岀现代电子显微镜因仪 器的进步,已经在设计中矫正了磁偏转角。 本次课程难点在于偏离矢量的概念和磁偏转角的概念。 第十七次课教学内容: 单晶体电子衍射花样的标定(75分钟) 复杂电子衍射花样(5分钟),高阶劳埃斑点(20分钟), 单晶体电子衍射花样的标定是电子衍射课程内容的重中之重的问题,结合Ⅹ 射线衍射花样标定,详细讲解单晶体电子衍射花样的标定方法。从已知晶体结构 的单晶体电子衍射花样的标定到未知晶体结构的单晶体电子衍射花样的标定逐
10 的优点也指出这种方法的局限性。结合纳米材料介绍粉末样品的具体制备方法。 重点讲述电子衍射与 X 射线衍射的异同点，通过分析比较讲述各自的特点。 讲解电子衍射原理，回顾复习布拉格方程，点出布拉格方程在电子衍射中的应用 特点，强调与 X 射线衍射时的不同之处。 第十六次课教学内容： 倒易点阵（10 分钟）、偏离矢量（20 分钟）、电子衍射基本公式（20 分钟）； 电子显微镜中的电子衍射（10 分钟），有效相机常数（10 分钟），选区衍射（15 分钟），磁偏转角（15 分钟）； 复习倒易点阵的概念及性质。重点讲述电子衍射的特别之处：偏离矢量。讲 解和证明电子衍射基本公式。回顾第八次课中介绍的成像系统的光路图，讲解电 子显微镜中的电子衍射、有效相机常数、选区衍射的概念。重点讲述选区衍射的 作用和意义。讲清楚磁偏转角的概念和测量校正方法，指出现代电子显微镜因仪 器的进步，已经在设计中矫正了磁偏转角。 本次课程难点在于偏离矢量的概念和磁偏转角的概念。 第十七次课教学内容： 单晶体电子衍射花样的标定（75 分钟） 复杂电子衍射花样（5 分钟），高阶劳埃斑点（20 分钟）， 单晶体电子衍射花样的标定是电子衍射课程内容的重中之重的问题，结合 X 射线衍射花样标定，详细讲解单晶体电子衍射花样的标定方法。从已知晶体结构 的单晶体电子衍射花样的标定到未知晶体结构的单晶体电子衍射花样的标定，逐