宣城市工业学校：《电子线路》课程教学资源（试题习题）时序逻辑电路（含解答）

宣城市工业学校：《电子线路》课程教学资源（试题习题）组合逻辑电路（含解答）

复旦大学：《集成电路工程》教学资源（硕士士学位论文）射频接收机中的自动增益控制

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障