一、电磁辐射波谱和吸收光谱法 二、红外线气体分析器的测量原理 三、红外线气体分析器的类型和特点 四、光学系统的构成部件 五、采用气动检测器的不分光型红外分析器 六、采用固体检测器的固定分光型红外分析器 七、测量误差分析

2.1 光谱分析法及其分类 2.2 电磁辐射的性质 1、 光的波动性 2、 光的粒子性 3、 电磁波谱 2.3、光谱法仪器 1. 光源 2. 分光系统（棱镜和光栅、狭缝、光谱仪结构） 3. 吸收池 4. 光谱分析检测器

一、光谱法仪器的基本流程 general process of spectrometry 二、光谱仪器的基本器件 main parts of spectrometry

第一节 光分析基础 fundamental of optical analysis 第二节 光谱法仪器与光学器件 instruments for spectro￾metry and optical parts an introduction to optical analysis

一、衍射强度分布 1、用矢量法分析 每一个衍射单元的复振幅用一个矢量表示。 不同单元间具有位相差△。 所有单元衍射的矢量和为光栅衍射的复振幅

一、 课程的性质和任务 本课程为环境工程专业基础必修课。本课程的任务主要包括：（1）掌握工程 测量的基本概念和应遵循的基本原则；了解水准测量原理，掌握水准仪的使用方 法和误差分析方法；（2）掌握角度测量方法及光学经纬仪的检验与校正方法，掌 握测量误差的基本知识；（3）掌握小地区控制测量方法；掌握测设的基本工作；

从理论上对共焦球面法布里-珀罗干涉仪的自由光谱范围、透射谱线半宽度、精细度、光谱分辨率等光学参数进行了分析,并根据激光超声检测的特点和要求,设计制作了一台实验室用的共焦球面法布里-珀罗干涉仪.利用单片机对该干涉仪的腔长和工作点进行控制,成功实现了激光超声的非接触测量

以一种特定成分的有机硅为原料,采用溶胶-凝胶法,在硅基片上制备出用于光波导器件的薄膜.通过折射率和厚度测试及XPS成分测试验证了此薄膜具有较好的均匀性、厚度和光学特性,满足光波导器件的要求.分析了溶胶-凝胶法中常见的龟裂现象的原因以及采预防方法.利用这种薄膜结合微电子加工工艺制备出光波导器件阵列波导光栅

3.1 反射光学基础 3.1.1 晶体的光吸收性 3.1.2 晶体的反射力和反射率 3.1.3 晶体的反射非均质性 3.2 反光显微镜及试样制备 3.2.1反光显微镜的构造 3.2.2反光显微镜的垂直照明器 3.2.3反光显微镜的调节和校正 3.2.4反光显微镜试样的制备 3.3 反射光下晶体的光学性质 3.3.1 晶体的反射率 3.3.2 晶体的反射色和反射多色性 3.3.3 晶体的内反射和内反射色 3.3.3 晶体的双反射、偏光色和偏光图 3.4 反射光下的腐蚀试验、显微硬度研究和 3.4.1试祥光片的腐蚀试验 3.4.2 晶体的显微硬度 3.4.3 反射光下晶体的鉴定 3.5 光学显微镜下晶体的显微结构特征 3.5.1 晶体的形态学研究 3.5.2 晶体的显微结构特征

采用膨胀法在DIL805热膨胀仪上测定了不同加热温度下实验钢的连续冷却转变(CCT)曲线,通过光学显微镜和扫描电镜分析不同加热温度对CCT曲线和冷却试样显微组织的影响.结果表明:当加热温度由完全奥氏体化温度降低到两相区内较高温度时,CCT曲线中铁素体转变区左移;当加热温度处在两相区范围内时,随着加热温度的降低,铁素体转变被推迟,使得CCT曲线右移;新生铁素体外延生长方式和奥氏体中碳富集程度的差异是导致上述变迁的主要因素