1、课程性质 材料研究与测试方法是材料学专业学生重要的专业基础课。 2、课程的目的和任务 讲述无机非金属材料的分析方法，主要包括光学显微分析、X 射线衍射分析、电子显 微分析、热分析、光谱分析等，通过课程的学习使学生对各种现代分析方法有一个初步的 认识，能够了解各种分析方法的基本原理、过程、装备及应用，掌握相应的基本知识、基 本技能及必要的理论基础，为无机非金属材料工艺学的学习及今后的科学研究工作打下坚 实的基础

半导体材料是一种特殊的固体材料。固体能带理论的发展对半导体的研究起到了重大的指导作用, 而半导体材料与技术的应用发展又对固体物理研究的深度与广度产生了相对的推进作用。 由于半导体中电子的运动可以是多样化的,其材料的性质与杂质、光照、温度和压力等因素有着密 切的关系。通过半导体物理的研究,可以进一步不断地揭示材料中电子各种形式的运动,阐明它们 运动的规律

第一篇 单片机设计与控制实验 . 1 实验一 基于单片机的自动换挡电阻测试仪常. 1 实验二 简易数字频率计. 2 实验三 移相器设计. 3 实验四 光电摄像在塞曼效应实验中的应用. 4 实验五 光电门测试在转动惯量实验中的应用. 5 实验六 牛顿环图像处理. 6 第二篇 光信息技术研究创新实验 . 7 实验七 基于光速测量的激光测距研究实验. 7 实验八 晶体电光效应. 10 实验九 声光效应研究实验 . 18 实验十 空间滤波. 32 实验十一 光学图像相减. 38 第三篇 光全息技术研究创新实验 . 43 实验十二 计算全息编码及重现研究实验. 43 实验十三 全息干涉法测量金属材料的杨氏模量. 48 实验十四 数字全息与光学再现实验. 53 实验十五 激光线扫描测量. 71 实验十六 光栅传感三维面性测量实验. 79 实验十六（一） 三维测量系统的标定实验. 79 实验十六（二） 单视场三维测量实验. 84

1.材料的物理性质表述为电学性质、磁学性质、光学性质和热学性质。 2.材料的硬度表征为布氏硬度、洛氏硬度和维氏硬度等。 3.材料的化学性质主要表现为催化性质和防化性质

制剂包装材料对于药品的稳定性和使用安全性有十分重要的影响，其选择是否合适，应当考虑以下因素： ①包装材料能够保护药品不受环境条件入空气、 光、湿度、温度、微生物的影响； ②包装材料与药品不能发生物理和化学反应； ③包装材料本身应无毒性；

织物的耐久性一般指材料与使用寿命有关的耐力学、热学、光学、电学、化学、生物老化的性 质,还涉及织物形态、颜色、外观的保持性,即织物性状的持久与稳定。 狭义的耐久性(durability)是指性状的持久与稳定

4.1 光束的调制原理概述 4.1.1 振幅调制 4.1.2频率调制和相位调制 4.1.3 强度调制 4.1.4 模拟调制与数字调制 4.1.5脉冲编码调制 4.2 直接调制 4.2.1半导体激光器（LD）直接调制的原理 4.2.2半导体发光二极管（LED）的调制特性 4.2.3半导体光源的模拟调制 4.2.4半导体光源的脉冲编码数字调制 4.3半导体激光器的直接调制特性 4.3.1 调制特性 4.3.2 温度特性与自动温度控制 4.3.3 纵模性质 4.3.4 半导体激光器调制特性的实验研究 4.4 LiNbO3晶体电光强度调制特性 4.4.1 LiNBO3晶体横向强度调制原理 4.4.2直流偏压工作点对输出特性的影响 4.4.3 1/4波片对输出特性的影响 4.4.4 调制特性的实验研究 4.5 法拉第效应 4.5.1 实验研究 4.5.2 法拉第效应的应用 4.6 声光技术的发展动态及其应用 4.6.1 声光技术的发展动态 4.6.2 声光技术在激光技术领域中的应用 4.6.3 声光器件在军事中的应用

综述了多晶卤化物钙钛矿薄膜的局限性, 卤化物钙钛矿量子点的基本光学性质和制备方法, 以及在光电探测器方面的器件结构研究进展, 并重点介绍了应用在0D-2D混合维度异质结基光电晶体管器件的突破, 包括界面载流子行为和高性能光探测器的构建.最后, 总结了卤化物钙钛矿量子点作为未来商业化应用的光电子器件和电子器件的候选材料所面临的主要问题和挑战, 譬如化学不稳定性、铅毒性问题、量子点与其他材料间界面高效电荷传输等问题, 并提出了解决思路和方法.这为设计和推进高性能、高稳定性卤化物钙钛矿量子点基光电功能化器件的商业化应用指明了方向

试验结果表明: 材料在交变应力作用下的 破坏情况与静应力破坏有其本质的不同。材料 在交变应力作用下破坏的主要特征是: (1) 因交变应力产生破坏时，最大应力值 一般低于静载荷作用下材料的抗拉(压)强度极 限σb，有时甚至低于屈服极限σs。 (2) 材料的破坏为脆性断裂，一般没有显 著的塑性变形，即使是塑性材料也是如此。在 构件破坏的断口上，明显地存在着两个区域： 光滑区和颗粒粗糙区

扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是继透射电镜(TEM )之后发展起来的一种电子显微镜 扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或 透射电子显微镜不同,它是以电子束作为照 明源,把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描 方式照射到试样上,产生各种与试样性质有 关的信息,然后加以收集和处理从而获得微 观形貌放大像